[發明專利]基于多尺度三模式紋理特征的仿造指紋檢測方法和系統

有效

• 申請號: 201310204203.8
• 申請日: 2013-05-28
• 公開（公告）號: CN103279744A
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 田捷;賈曉飛;臧亞麗;楊鑫
• 申請（專利權）人: 中國科學院自動化研究所
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/60;G06K9/62
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 宋焰琴

1.一種基于多尺度三模式紋理特征的仿造指紋檢測系統，其特征在于，該系統包括：圖像采集單元、圖像預處理單元、三模式圖像紋理特征提取單元、三模式圖像紋理特征組合單元、三模式圖像特征訓練單元、圖像分類單元，其中：

所述圖像采集單元用于采集多個真實指紋和仿造指紋，分別生成多個真實指紋圖像和仿造指紋圖像；

所述圖像預處理單元與所述圖像采集單元相連接，用于對于真實指紋圖像和仿造指紋圖像分別進行預處理得到預處理后的真實指紋圖像和仿造指紋圖像；

所述三模式圖像紋理特征提取單元與所述圖像預處理單元相連接，用于分別提取預處理后的真實指紋圖像和仿造指紋圖像的多尺度三模式紋理特征，所述多尺度中的不同尺度指的是對應三模式紋理特征提取時不同的圖像塊大小；

所述三模式圖像紋理特征組合單元與所述三模式圖像紋理特征提取單元相連接，用于將真實指紋圖像和仿造指紋圖像的多尺度三模式紋理特征各自組合成一個三模式紋理特征，并對其進行歸一化；

所述圖像特征訓練單元與所述三模式圖像紋理特征組合單元相連接，用于將組合得到的所述真實指紋圖像和仿造指紋圖像的三模式紋理特征輸入到支持向量機中，通過交叉驗證得到具有最優參數的支持向量機以及三模式紋理特征的最優尺度個數；

所述圖像分類單元分別與所述圖像紋理特征提取單元和圖像特征訓練單元相連接，用于將測試圖像最優尺度個數的多尺度三模式紋理特征輸入到所述圖像特征訓練單元中訓練得到的具有最優參數的支持向量機進行計算，從而判斷所述測試圖像是否是仿造指紋圖像。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述預處理包括灰度均衡化、前景提取、在前景區域進行低通濾波以及圖像增強。

3.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述三模式紋理特征使用直方圖來表示。

4.一種基于多尺度三模式紋理特征的仿造指紋檢測方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

步驟Sa：采集多個真實指紋圖像和仿造指紋圖像；

步驟Sb：分別對真實指紋圖像和仿造指紋圖像進行預處理，得到預處理后的真實指紋圖像和仿造指紋圖像；

步驟Sc：分別對于經過預處理的真實指紋圖像和仿造指紋圖像提取其多尺度三模式紋理特征；

步驟Sd：將真實指紋圖像和仿造指紋圖像的多尺度三模式紋理特征各自組合成一個三模式紋理特征，并進行歸一化；

步驟Se：將經過組合和歸一化后的多尺度三模式紋理特征輸入到支持向量機中進行訓練，并進行交叉驗證得到具有最優參數的支持向量機以及最優尺度個數；

步驟Sf：提取測試數據的最優尺度個數的三模式紋理特征，并將得到的特征按照所述步驟Sb-Sd進行處理，得到經過組合和歸一化的多尺度三模式紋理特征；

步驟Sg：將所述測試數據的多尺度三模式紋理特征輸入到具有最優參數的支持向量機中，得到所述測試數據是否為仿造指紋的檢測結果。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述預處理包括灰度均衡化、前景提取、在前景區域進行低通濾波以及圖像增強。