[發(fā)明專利]液晶面板測試方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310202898.6 | 申請日: | 2013-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN104181710A | 公開(公告)日: | 2014-12-03 |
| 發(fā)明(設計)人: | 周明杰;王永清 | 申請(專利權)人: | 海洋王(東莞)照明科技有限公司;海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明技術有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強 |
| 地址: | 523000 廣東省東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 液晶面板 測試 方法 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及液晶面板測試方法。
背景技術
背光模組為液晶面板(Liquid?Crystal?Display,LCD)的關鍵零部件之一,背光模組主要由冷陰極管(Cold?Cathode?Fluorescent?Lamp,CCFL)、熱陰極管(Hot?Cathode?Fluorescent?Lamp,HCFL)、發(fā)光二極體(light?emitting?diode,LED)、燈罩、反射板(Reflector)、導光板(Light?guide?plate)、擴散片(Diffusion?sheet)、增亮膜(Brightness?enhancement?film)及外框等零部件組裝而成。由于背光模組由多種不同材質的零部件組成,在運輸和使用過程中都會使背光模組的各個零部件之間發(fā)生摩擦,長時間不同材料之間的摩擦可能導致各種摩擦碎屑進入背光模組可視區(qū),進而導致LCD面板出現(xiàn)陰影狀的異物,影響客戶的使用和感受,故有必要測試LCD面板的質量。現(xiàn)有的液晶面板測試方法通常只檢測液晶面板的畫面品質,這種測試方法只能找出液晶面板中已經存在的問題,針對液晶面板經過運輸和使用后可能產生的異物無法判斷,導致測試不準確。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于提供一種液晶面板測試方法。
為了解決上述技術問題,本發(fā)明提供了一種液晶面板測試方法,包括:將液晶面板固定在振動測試平臺上;選擇至少三個振動方向,根據預定加速度并以10~300HZ的振動頻率保持預定時間的方式,逐一完成各個振動方向上的振動測試;檢測通電工作態(tài)的液晶面板,反饋狀態(tài)參數;稱重帶包裝的液晶面板,按照重量選擇跌落測試高度,從起始重量范圍對應的預設跌落測試高度開始每增加10公斤,相應的跌落測試高度增加10~20cm;選擇與至少一個包裝角相鄰的三個面分別作為測試面,以測試面向下、從選擇的跌落測試高度開始使所述帶包裝的液晶面板重力作用下落的單次跌落測試方式,逐一完成各個測試面對應的跌落測試;檢測通電工作態(tài)的液晶面板,反饋狀態(tài)參數;及分析反饋的所述狀態(tài)參數,反饋異常參數信息。
其中,所述狀態(tài)參數包括LCD背光模組的異物狀況、畫面品質問題、包裝問題。
其中,所述預定加速度為1.5G,所述預定時間為30分鐘。
其中,所述至少三個振動方向分別為X軸向、Y軸向及Z軸向。
其中,所述高度與所述重量的關系根據包裝件編制性能試驗大綱GB4857.18制定。
其中,所述帶包裝的LCD的形狀大致為長方體或正方體。
其中,在所述選擇與至少一個包裝角相鄰的三個面分別作為測試面,以測試面向下、從選擇的跌落測試高度開始使所述帶包裝的液晶面板重力作用下落的單次跌落測試方式,逐一完成各個測試面對應的跌落測試的步驟之前還包括對所述帶包裝的液晶面板的棱角進行跌落測試。
其中,對所述帶包裝的液晶面板的棱角進行跌落測試之前還包括對所述帶包裝的液晶面板的最薄弱的一角進行跌落測試。
其中,每進行一次所述跌落測試后,檢測通電工作態(tài)的所述液晶面板,反饋狀態(tài)參數。
其中,在將液晶面板固定在振動測試平臺上之前還包括檢測通電工作態(tài)的所述液晶面板,反饋狀態(tài)參數。
本發(fā)明提供的液晶面板測試方法,利用三維振動測試和跌落測試,可以在短時間內暴露出液晶面板潛在的經過運輸和使用后可能出現(xiàn)的異物,從而提高了液晶面板測試的準確性。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明的技術方案,下面將對實施方式中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施方式,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本發(fā)明實施方式提供的液晶面板測試方法的流程圖。
具體實施方式
下面將結合本發(fā)明實施方式中的附圖,對本發(fā)明實施方式中的技術方案進行清楚、完整地描述。
請參考圖1,為本發(fā)明實施方式提供的一種液晶面板測試方法,用于測試液晶面板的性能,其包括:
S101,將液晶面板固定在振動測試平臺上。
S102,選擇至少三個振動方向,根據預定加速度并以10~300HZ的振動頻率保持預定時間的方式,逐一完成各個振動方向上的振動測試。
在本實施方式中,預定加速度為1.5G,預定時間為30分鐘。所述至少三個振動方向分別為X軸向、Y軸向及Z軸向。
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