[發明專利]射頻屏蔽測試室

在審

• 申請號: 201310200433.7
• 申請日: 2013-05-25
• 公開（公告）號: CN104114005A
• 公開（公告）日: 2014-10-22
• 發明（設計）人: 冉嗒庫帕日·塔漂;肋巴咖日·約拿
• 申請（專利權）人: PKC電子有限公司
• 主分類號: H05K7/16
• 分類號: H05K7/16;G01R1/18;G01R1/04
• 代理公司: 上海方本律師事務所 31269
• 代理人: 汪玉平;余全平

技術領域

本發明涉及射頻屏蔽測試室，其包括：測試室框架，其用來界定和圍繞所述測試室的腔室空間；和室門，其通過鉸鏈結構連接在所述測試室框架上，并且用來從所述測試室前緣邊側開啟和關閉所述測試室。

背景技術

射頻屏蔽測試室用在電子工業上，與產品的研發或生產有關，用來測試被設計的原型機或已制造的產品的操作。被測設備——即DUT——可以是用于無線電網絡的終端設備，例如被用在蜂窩無線電網絡中的移動電話。

在現有技術的測試室中，門是平坦的且設置有鉸鏈，門在所述鉸鏈上按垂直連接方式樞轉，類似于傳統家具中的門，也就是，在其開啟的位置，室門延伸遠離所述測試室框架的前面，從而占用了測試室周圍的不必要的巨大空間。即使門開啟，也不容易從側面方向進出現有技術中的測試室內部，因為側面被固定。

因此需要開發出一種新穎的測試室來解決現有技術中所出現的問題。

發明內容

本發明的目的是提供改進的測試室。這由本發明的測試室來實現，本發明的測試室的特征在于，所述室門除包括前壁外，至少在其緣邊（edge）之一上包括側面，所述側面在所述測試室深度方向，作為由所述測試室所包括的側面的延伸，構成所述測試室的側面的一部分；并且，位于所述測試室框架和所述室門之間的鉸鏈結構在所述測試室框架側通過基本水平的連接結構與所述測試室框架連接，所述鉸鏈結構被設置成引導所述室門相對于所述測試室框架上升和從其升舉位置下降。

本發明的優選實施例在從屬權利要求中公開。優選實施例增強了基本發明的優點。

本發明中的技術方案達到了在測試室位置處更加有效利用空間的技術效果，因為室門的移動方式相對于以往技術是不同，該室門的移動方式允許前面上方的空間被利用。另外，現在由于部分室邊與室門前面一起打開，因此一旦室門被打開，就容易從橫向進出接近測試室的內部。

附圖說明

參照下面的優選實施例和附圖，本發明將被更加詳細地描述，其中：

圖1是測試室在開啟狀態時的側視圖；

圖2示出測試室室門的內部；

圖3是測試室在其關閉狀態時從其右側看的底部對角透視圖；

圖4示出處于開啟狀態的從圖3方向看的測試室框架和室門；

圖5是從處于關閉狀態的測試室右側看的上對角后透視圖。

具體實施方式

下面的實施例是示例性的。雖然描述在不同的地方可能涉及到“某個”、“一個”或“一些”實施例，但這并不必須意味著每個這樣的引用是指相同實施例，或一個特征僅適用于一個實施例。不同實施例中的單個特征也可以組合以用在其他實施例中。

本發明提供射頻屏蔽測試室10，其包括：測試室框架100，其用來界定和圍繞測試室的腔室空間10A；和室門300，其通過鉸鏈結構200連接到所述測試室框架100，并用來從所述測試室10的前緣（front?edge）10B側開啟和關閉所述測試室10。所述室門300除包括前壁302外，至少在其緣邊之一包括側面311上，在所述測試室深度方向，所述側面311作為所述測試室所包括的側面101的延伸，構成所述測試室10的側面的一部分。位于所述測試室框架100和所述室門300之間的鉸鏈結構200在所述測試室框架100的側面上通過基本水平的連接結構201、201a和201b與所述測試室框架100連接，所述鉸鏈結構200被設置成使得所述室門300能相對于所述測試室框架上升和從其升舉位置下降。圖1中示出鉸鏈結構200及它的連接體（joints）和臂體，然而圖4沒有示出所述鉸鏈結構。

除了上面提到的側面101，測試室框架100包括第二側面102，也就是相對的側面102。測試室框架的側面通過底面103、頂面或頂蓋104、各后壁105、以及前下壁106相互連接。前下壁106的第一側面106a被配置作為測試室框架100的第一側面101的延伸，所述第一側面106a位于測試室框架的前端表面的下位部分，起自于測試室拐角處，并且，前下壁106的第二側面106b被配置作為測試室框架100的第二側面102的延伸，第二側面106b位于測試室框架的前端表面的下位部分，起自于測試室的第二拐角處。測試室框架100的前壁106被分成106a和106b兩個部分，使得通過彎曲片材就能夠容易地制出測試室框架100的形狀，所述片材例如是鋁片，這作為起始點，同樣的構造也適用于測試室框架100的頂面104的部分104a和104b。