[發(fā)明專利]鋁襯墊形成方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310195605.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-05-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103280411A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-09-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙萬(wàn)金;劉睿;龍吟;倪棋梁;陳宏璘 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/60 | 分類號(hào): | H01L21/60 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 陸花 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 襯墊 形成 方法 | ||
1.一種鋁襯墊形成方法,包括將鋁襯墊分至少兩次沉積,其中,第一次沉積的溫度低于第二次沉積的溫度。
2.如權(quán)利要求1所述的鋁襯墊形成方法,其特征在于,包括:
提供半導(dǎo)體襯底;
進(jìn)行第一次沉積,在所述半導(dǎo)體襯底上沉積第一鋁層;
進(jìn)行第二次沉積,在所述第一鋁層上沉積第二鋁層。
3.如權(quán)利要求2所述的鋁襯墊形成方法,其特征在于,所述第一次沉積和第二次沉積在不同的反應(yīng)腔進(jìn)行。
4.如權(quán)利要求1-3中任意一項(xiàng)所述的鋁襯墊形成方法,其特征在于,所述第一鋁層的厚度為鋁襯墊的厚度的1/8~1/4。
5.如權(quán)利要求4所述的鋁襯墊形成方法,其特征在于,所述第一鋁層的厚度
6.如權(quán)利要求1-3中任意一項(xiàng)所述的鋁襯墊形成方法,其特征在于,所述第一次沉積的溫度為100℃~220℃。
7.如權(quán)利要求6所述的鋁襯墊形成方法,其特征在于,所述第一次沉積的溫度為200℃。
8.如權(quán)利要求1-3中任意一項(xiàng)所述的鋁襯墊形成方法,其特征在于,所述第一次沉積的直流電功率為28千瓦~35千瓦。
9.如權(quán)利要求1-3中任意一項(xiàng)所述的鋁襯墊形成方法,其特征在于,所述第二次沉積的溫度為250℃~300℃。
10.如權(quán)利要求9所述的鋁襯墊形成方法,其特征在于,所述第二次沉積的溫度為270℃。
11.如權(quán)利要求1-3中任意一項(xiàng)所述的鋁襯墊形成方法,其特征在于,所述第二次沉積的直流電功率為20千瓦~25千瓦。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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