[發明專利]光信號質量監控電路以及光信號質量監控方法有效
| 申請號: | 201310193876.8 | 申請日: | 2005-06-03 |
| 公開(公告)號: | CN103312410A | 公開(公告)日: | 2013-09-18 |
| 發明(設計)人: | 社家一平;高良秀彥;谷口篤 | 申請(專利權)人: | 日本電信電話株式會社 |
| 主分類號: | H04B10/079 | 分類號: | H04B10/079;H04L1/20 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 吳秋明 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 信號 質量 監控 電路 以及 方法 | ||
1.一種光信號質量監控電路,其特征在于,
具備:
光電轉換模塊,其將所輸入的光信號轉換為電信號;
采樣模塊,其將所述電信號以任意的重復頻率f1進行采樣,并且通過模擬/數字轉換而轉換為數字的采樣數據;以及
信號處理模塊,其利用所述采樣數據,根據所述光信號的信號比特率的變化,對所述光信號的光信號質量參數進行校正,并評價,
所述信號處理模塊(412、512)包括:
第1閾值處理模塊(438、538、641),其將所述采樣數據的信號振幅與預先設定的第1閾值進行比較,而分類為二進制信號的標記部分和空白部分這2種分布;
加法處理模塊(438、538、652,656),其對所述2種分布的每一種,計算所述采樣數據的信號振幅值之和;
平均值計算處理模塊(438、538、692),其對所述2種分布的每一種,根據所計算的所述采樣數據的信號振幅值之和,而求取平均值;
第2閾值處理模塊(440、540、646、647),其將針對所述2種分布的每一種所求取的所述平均值分別設為第2閾值和第3閾值,在所述采樣數據的信號振幅比所述第2閾值大的情況下,分類為第2標記部分分布,所述第2標記部分分布由信號振幅比所述第2閾值大的分布以及關于所述第2閾值線對稱的分布構成,在所述采樣數據的信號振幅比所述第3閾值小的情況下,分類為第2空白部分分布,所述第2空白部分分布由信號振幅比所述第3閾值小的分布以及關于所述第3閾值線對稱的分布構成;
第2加法處理模塊(440、540、682、686),其對所述第2標記部分和所述第2空白部分這2種分布的每一種,計算所述采樣數據的信號振幅的平方值之和;
Q值計算處理模塊(440、540、664),其對所述第2標記部分和第2空白部分這2種分布的每一種,利用所述信號振幅值之和以及所述信號振幅的平方值之和,而求取標準偏差,并且利用有關所述標記部分和所述空白部分的各自的所述平均值,以及有關所述第2標記部分和所述第2空白部分的各自的所述標準偏差,而計算Q值;
平均化處理模塊(422、522、670),其根據所述光信號的信號比特率對所述Q值進行校正后,對被校正后的所述Q值多次進行測定,并進行平均化;
Q值存儲模塊(426、526、604),其對被校正且被平均化后的Q值進行存儲;以及
警報傳送模塊(610),其在所述被校正且被平均化后的Q值低于預先存儲的參考Q值的情況下,傳送警報。
2.根據權利要求1所述的光信號質量監控電路,其特征在于,
還具備對所述光信號的信號比特率信息進行接收的信號比特率信息接收模塊,
所述信號處理模塊,基于所接收的所述信號比特率信息,對所述光信號的光信號質量參數進行校正。
3.根據權利要求1所述的光信號質量監控電路,其特征在于,
進一步具備:
控制信號接收模塊,其對要求切換所述光信號的信號比特率的控制信號進行接收;
多個頻率濾波器,其與各個不同的信號比特率對應;以及
選擇器,其用于切換所述多個頻率濾波器,
所述信號處理模塊,響應于所述控制信號的接收而切換所述選擇器,并順次變更所述電信號所通過的頻率濾波器,同時對所述光信號的光信號質量參數進行測定,所述電信號通過所有的所述頻率濾波器之后,以所述電信號通過所述光信號質量參數成為最大的所述頻率濾波器的方式,固定所述選擇器,從而對所述光信號的光信號質量參數進行評價。
4.根據權利要求1所述的光信號質量監控電路,其特征在于,
所述信號處理模塊,對與各個不同的信號比特率相對應的光信號質量參數的校正值周期性地進行切換,而對所述光信號的光信號質量參數進行評價。
5.根據權利要求1所述的光信號質量監控電路,其特征在于,
進一步具備:
比特率檢測模塊,其利用所述電信號而對所述光信號的信號比特率進行檢測,
所述信號處理模塊,基于所檢測出的所述信號比特率,而對所述光信號的光信號質量參數進行校正。
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