[發(fā)明專利]基板干燥的裝置與方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310187917.2 | 申請日: | 2008-05-22 |
| 公開(公告)號: | CN103824757B | 公開(公告)日: | 2018-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄭英周;李福圭;黃善奎;裴正龍;龍秀彬 | 申請(專利權(quán))人: | 細(xì)美事有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 韓國忠淸南道天*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 干燥 裝置 方法 | ||
1.一種干燥基板的方法,包括:
前階段,在所述前階段中,向基板底面噴射熱流體以提高該基板的溫度,同時向旋轉(zhuǎn)基板的上表面噴射有機(jī)溶劑;
所述熱流體是去離子水(DI water),所述有機(jī)溶劑是異丙醇(IPA)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,還包括:
后階段,在所述后階段中,停止噴射所述熱流體,并向所述基板的上表面噴射所述有機(jī)溶劑。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中,在所述前階段與所述后階段期間,與所述有機(jī)溶劑一起噴射干燥氣體,以改善所述有機(jī)溶劑的汽化能力。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中,所述后階段中的基板旋轉(zhuǎn)速度高于所述前階段中的基板旋轉(zhuǎn)速度。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中,在所述后階段期間,所述有機(jī)溶劑從所述基板中心到所述基板邊緣只噴射一次。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述前階段包括:
掃描步驟,在所述掃描步驟中所述有機(jī)溶劑的掃描噴射被引導(dǎo)著從所述基板中心到所述基板邊緣、以及從所述基板邊緣再到所述基板中心;和
定點步驟,在所述定點步驟中所述有機(jī)溶劑在所述基板中心定點噴射,
其中所述熱流體僅在所述定點步驟中噴射到所述基板的底面。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,還包括:
后階段,在所述后階段中,停止噴射所述熱流體,并僅向所述基板的上表面中心噴射有機(jī)溶劑。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其中,所述后階段中基板的旋轉(zhuǎn)速度高于所述前階段中基板的旋轉(zhuǎn)速度。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其中,所述后階段中基板的旋轉(zhuǎn)速度是1400~1600轉(zhuǎn)/分。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,噴射到所述基板底面的所述熱流體的溫度是60~80℃。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,在所述前階段中,聚積在管路中的液體排放一定時間后,再向所述基板底面噴射所述熱流體。
12.一種干燥基板的方法,包括:
前階段,在所述前階段中,向基板底面噴射熱流體以提高該基板的溫度,與此同時向所述基板上表面噴射有機(jī)溶劑、并向所述基板上表面噴射干燥氣體以改善所述有機(jī)溶劑的汽化能力;和
后階段,在所述后階段中,停止噴射所述熱流體,向所述基板上表面噴射所述有機(jī)溶劑與所述干燥氣體;
所述熱流體是去離子水(DI water),所述有機(jī)溶劑是異丙醇(IPA)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,其中,所述后階段中基板的旋轉(zhuǎn)速度是600~800轉(zhuǎn)/分,所述旋轉(zhuǎn)速度高于所述前階段中基板的旋轉(zhuǎn)速度;并且
其中所述有機(jī)溶劑從所述基板中心到所述基板邊緣只噴射一次。
14.一種干燥基板的方法,包括:
前階段,在所述前階段中,有機(jī)溶劑的掃描噴射被引導(dǎo)著從基板中心到基板邊緣、以及從基板邊緣再到基板中心之后,向基板底面噴射熱流體以提高所述基板溫度,同時向所述基板中心定點噴射所述有機(jī)溶劑;和
后階段,在所述后階段中停止噴射所述熱流體,并僅向所述基板上表面中心噴射所述有機(jī)溶劑;
所述熱流體是去離子水(DI water),所述有機(jī)溶劑是異丙醇(IPA)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法,其中,所述后階段中基板的旋轉(zhuǎn)速度是1400~1600轉(zhuǎn)/分,所述旋轉(zhuǎn)速度高于所述前階段中基板的旋轉(zhuǎn)速度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于細(xì)美事有限公司,未經(jīng)細(xì)美事有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310187917.2/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





