[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310182466.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-05-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103996651B | 公開(公告)日: | 2017-04-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊士?jī)|;李明翰;李香寰;吳憲昌 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/768 | 分類號(hào): | H01L21/768;H01L23/532 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11409 | 代理人: | 章社杲,孫征 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種制造半導(dǎo)體器件的方法,所述方法包括:
提供包括形成在第一絕緣材料中的導(dǎo)電部件和設(shè)置在所述第一絕緣材料上方的第二絕緣材料的工件,所述第二絕緣材料具有在所述導(dǎo)電部件上方的開口;
在所述第二絕緣材料中的所述開口內(nèi)的所述導(dǎo)電部件的暴露頂面上方形成基于石墨烯的導(dǎo)電層;
在所述第二絕緣材料中的所述開口的側(cè)壁上方形成基于碳的粘合層;以及
在圖案化的所述第二絕緣材料中的所述基于石墨烯的導(dǎo)電層和所述基于碳的粘合層上方形成碳納米管(CNT)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括:同時(shí)形成所述基于石墨烯的導(dǎo)電層和所述基于碳的粘合層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,形成所述基于石墨烯的導(dǎo)電層和形成所述基于碳的粘合層包括氣相生長(zhǎng)工藝。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,形成所述基于石墨烯的導(dǎo)電層和形成所述基于碳的粘合層包括選自基本由化學(xué)汽相沉積(CVD)、常壓CVD(APCVD)、次大氣壓力下的低壓CVD(LPCVD)、等離子體增強(qiáng)CVD(PECVD)、原子層CVD(ALCVD)及它們的組合所構(gòu)成的組中的工藝。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,形成所述基于石墨烯的導(dǎo)電層包括:形成多個(gè)石墨烯薄片(GS)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,形成所述基于碳的粘合層包括:形成無(wú)定形碳。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,形成所述基于石墨烯的導(dǎo)電層包括:形成第一基于石墨烯的導(dǎo)電層,并且所述方法進(jìn)一步包括:在所述CNT的頂面上形成第二基于石墨烯的導(dǎo)電層。
8.一種制造半導(dǎo)體器件的方法,所述方法包括:
在工件上方形成第一絕緣材料;
在所述第一絕緣材料中形成導(dǎo)電部件;
在所述導(dǎo)電部件和所述第一絕緣材料上方形成第二絕緣材料;
圖案化所述第二絕緣材料,以暴露所述導(dǎo)電部件的頂面的一部分;
在所述導(dǎo)電部件的暴露頂面上方形成基于石墨烯的導(dǎo)電層并且同時(shí)在圖案化的第二絕緣材料的側(cè)壁上形成基于碳的粘合層;以及
在所述圖案化的第二絕緣材料中的所述基于石墨烯的導(dǎo)電層和所述基于碳的粘合層上方形成多個(gè)碳納米管(CNT)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其中,形成所述導(dǎo)電部件包括:鑲嵌工藝和金屬蝕刻工藝。
10.一種半導(dǎo)體器件,包括:
工件,包括設(shè)置在第一絕緣材料中的導(dǎo)電部件和設(shè)置在所述第一絕緣材料上方的第二絕緣材料,所述第二絕緣材料具有在所述導(dǎo)電部件上方的開口;
基于石墨烯的導(dǎo)電層,在所述第二絕緣材料中的所述開口內(nèi)設(shè)置在所述導(dǎo)電部件的暴露頂面上方;
基于碳的粘合層,設(shè)置在所述第二絕緣材料中的所述開口的側(cè)壁上方;以及
碳納米管(CNT),在圖案化的第二絕緣材料內(nèi)設(shè)置在所述基于石墨烯的導(dǎo)電層和所述基于碳的粘合層上方。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司,未經(jīng)臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310182466.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過(guò)程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





