[發明專利]一種多功能變比電橋測試儀及測試方法

在審

• 申請號: 201310181297.1
• 申請日: 2013-05-15
• 公開（公告）號: CN103278705A
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 蔣延磊;彭磊亞;趙建軍;岳俊峰;蔣延理;張軍;耿殿申;韓向林;王振方
• 申請（專利權）人: 河南省電力公司平頂山供電公司
• 主分類號: G01R29/20
• 分類號: G01R29/20
• 代理公司: 鄭州紅元帥專利代理事務所(普通合伙) 41117
• 代理人: 季發軍

技術領域

本發明涉及變電壓高壓檢測設備技術領域，尤其涉及一種多功能變比電橋測試儀及測試方法。?

背景技術

?在電力變壓器的半成品、成品生產過程中，新安裝的變壓器投入運行之前，根據國家電力部的預防性試驗規程，要求對運行的變壓器進行匝數比或電壓比測試，以檢查變壓器匝數比的正確性、分接開關的狀況、變壓器是否匝間短路、變壓器是否可以并列運行。目前現有技術中對變壓器及互感器測量變壓比的方法有兩種:一是電橋法，一是變壓器比較法.前者采用電橋平衡，如QJ35型變壓比電橋，測量范圍是1?.02～111.12,精度0～2級，這種變壓比電僑不能測量大的變壓比.后者需要一個高精度的笨重變壓器，而且抽頭很多，測量范圍越大越笨重，攜帶極不方便，且讀數不直觀，讀出的數值還需根據變壓器的接線組別進行換算，才能得出符合要求的變壓比值，只能逐相進行測量,工作強度大，工作效率低。?

隨著經濟的不斷發展，供電可靠性要求也越來越高。對設備停電試驗的時間要求也越來越短，變壓器電壓比試驗項目：需要測量高壓對低壓和高壓對中壓和中壓對低壓。需要時間較長，如果一次把高、中、低壓繞組一次接線完成，同時測量高壓對中壓和高壓對低壓測量，可以節約三分之二的時間，大大提高工作效率。電容式電壓互感器的電壓比測量需要測量一次繞組對二次繞組的電壓比，現在只能測量一組再換另一組，時間較長，如果一次接線完成，可以一次測量完成，可以節約三分之二的時間。?

發明內容

本發明提供一種攜帶方便、測量精度高、讀數直觀的多功能變比電橋測試儀及測試方法。?

本發明的目的是通過下述技術方案予以實現：一種多功能變比電橋測試儀，包括變比電橋、若干個電容式電壓互感器、多通道A/D轉換器和CPU芯片，所述電壓互感器兩端分別與多功能變比電橋和多通道A/D轉換器電連接，所述多通道A/D轉換器通過數據線與所述CPU芯片連接，所述多功能變比電橋具有一個面板，該面板上設置多個引線插座、電源插座、和電壓互感器高壓插頭、接地插頭和觸摸液晶顯示屏，所述引線插座分別與所述電壓互感器點連接，所述觸摸液晶顯示屏與所述CPU芯片連接。?

一種變比測試方法，是按以下步驟進行：?

1）將待測變電設備的高、中、低壓繞組或器高、低壓繞組的各相用試驗引線與多功能變比電橋的引線插座分別對應連接，接通電源進行各組各相電壓的測試；

2)?將計算模型——E=（Kn-k測）/?Kn*100%——嵌入所述GPU芯片的計算軟件，利用一次繞組加試驗電壓10KV，所有二次繞組測量電壓，計算實測變比值及變比誤差值，所述計算模型中k表示變比實測值，Kn表示額定變比，E表示變比誤差值，而后通過觸摸液晶顯示屏顯示。

本發明的多功能變比電橋測試儀采用先進多通道A/D轉換器，量程范圍寬；CPU芯片為核心處理器，開機速度快，測試快；觸摸液晶顯示屏能夠方便用戶操作，全面提高人性化和智能化，操作簡便直觀，一次完成三相變比或匝比測試，測試快，準確度高；通過本發明的變比測試方法，一次把高、中、低壓繞組一次接線完成，同時測量高壓對中壓和高壓對低壓測量，可以節約三分之二的時間。大大提高工作效率。電容式電壓互感器的電壓比測量需要測量一次繞組對二次繞組的電壓比，現在只能測量一組再換另一組，時間較長，如果一次接線完成，可以一次測量完成，節約三分之二的時間，減少了作業時間及難度，大大地提高了工作效率。?

附圖說明

下面結合附圖對本發明作進一步描述：?

圖1是本發明面板的結構示意圖；

圖2是本發明的電路結構示意圖。

具體實施方式

如圖1,2所示，一種多功能變比電橋測試儀，包括變比電橋、若干個電容式電壓互感器、多通道A/D轉換器和CPU芯片，所述電壓互感器兩端分別與多功能變比電橋和多通道A/D轉換器電連接，所述多通道A/D轉換器通過數據線與所述CPU芯片連接，所述多功能變比電橋具有一個面板，該面板上設置多個引線插座1、電源插座2、和電壓互感器高壓插頭5、接地插頭4和觸摸液晶顯示屏3，所述引線插座1分別與所述電壓互感器點連接，所述觸摸液晶顯示屏3與所述CPU芯片連接。?

一種變比測試方法，是按以下步驟進行：?

1）將待測變電設備的高、中、低壓繞組或器高、低壓繞組的各相用試驗引線與多功能變比電橋的引線插座分別對應連接，接通電源進行各組各相電壓的測試；