[發明專利]一種基于單元組合面向測試參數的系統集成裝置及方法有效
| 申請號: | 201310180564.3 | 申請日: | 2013-05-16 |
| 公開(公告)號: | CN103248444A | 公開(公告)日: | 2013-08-14 |
| 發明(設計)人: | 楊志興;陶芳勝;黃珍元;邱暢;李龍 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第四十一研究所 |
| 主分類號: | H04B17/00 | 分類號: | H04B17/00;H04L29/08 |
| 代理公司: | 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 湯東鳳 |
| 地址: | 266000 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 單元 組合 面向 測試 參數 系統集成 裝置 方法 | ||
1.一種基于單元組合面向測試參數的系統集成裝置,包括主控計算機、交換機,其特征在于,還包括開關單元、下變頻發生單元、數字化儀發生單元、基帶信號發生單元、上變頻發生單元相互連接及相互通訊;
所述下變頻發生單元與所述數字化儀發生單元相互配合,用于測試信號的接收及測試;
所述基帶信號發生單元與所述上變頻發生單元用于相互配合,用于產生激勵信號及發送。
2.如權利要求1所述的系統集成裝置,其特征在于,所述下變頻發生單元,用于實現測試信號中的射頻信號到中頻信號的頻率變換,將輸入的射頻信號下變頻至固定的中頻輸出到數字化儀發生單元;
所述數字化儀發生單元用于實現輸入測試信號的數字下變頻、分辨率帶寬濾波、視頻濾波以及視頻檢波。
所述基帶信號發生單元,用于產生測試信號的基帶信號通過所述上變頻發生單元的模擬調制產生調制信號、點頻信號或掃描信號。
3.如權利要求2所述的系統集成裝置,其特征在于,所述相互連接方式采用總線標準LXI來連接。
4.一種基于單元組合面向測試參數的系統集成方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟A:將被測信號變換成固定中頻信號后輸出;
步驟B:將所述固定中頻信號調理、采樣及數字下變頻后得到IQ信號,并進行幅度及頻率計算,將計算結果輸出并顯示;
步驟C:產生的基帶信號通過模擬調制產生調制信號、點頻信號或掃描信號;
步驟D:經上變頻發生單元產生激勵信號并輸出。
5.如權利要求4所述的基于單元組合面向測試參數的系統集成方法,其特征在于,所述步驟A還具體執行以下步驟:
步驟A1:在0?波段,被測信號經程控步進開關衰減器、毫米波SYTX、寬帶微波SYTX、低通濾波器進入0?波段變頻組件中的基波混頻器,與第一本振的基波混頻,經開關放大器和帶通濾波器到0?波段變頻器組件中的第二變頻器,第二本振差頻得第一中頻,在1、2、3?波段,被測信號依次經程控步進開關衰減器、毫米波SYTX?到達寬帶微波SYTX,在經過預選后與第一本振相應的諧波差頻得第一中頻信號,在4波段,信號依次經程控步進開關衰減器、在毫米波SYTX?內首先經過預選,然后在混頻器內與第一本振的二倍頻進行相應的諧波混頻,經開關放大器和帶通濾波器到0?波段變頻器組件中的第二變頻器,與第二本振差頻得第一中頻;
步驟A2:第一中頻信號和外混頻輸入信號經開關選擇后合成后,進行平坦度補償,補償后信號經過功分器,一路輸出到寬帶選件板,一路與本振單元輸出的第三本振混頻輸出第二中頻信號,同時第三本振信號與梳狀波信號上混頻產生梳狀波校準信號,用于校準中頻處理通路的增益、帶寬和平坦度,第二中頻信號再經過模擬預濾波器與第四本振信號混頻產生第三中頻信號,經低通選擇后輸出。
6.如權利要求5所述的基于單元組合面向測試參數的系統集成方法,其特征在于,所述步驟B還具體執行以下步驟:
步驟B1:將第一中頻信號、第二中頻信號及第三中頻信號通過輸入衰減、程控增益放大、濾波和緩沖放大后,經ADC電路轉換輸出;
步驟B2:經FPGA?進行數字濾波、I/Q分解處理后存儲到本地存儲器,再通過DSP進行幅度、頻率及信號脈寬計算后,進行顯示。
7.如權利要求6所述的基于單元組合面向測試參數的系統集成方法,其特征在于,所述步驟C中具體執行:基帶信號經DDS電路產生D/A轉換器的轉換時鐘,最高頻率達到存儲器的波形數據,將按照轉換時鐘頻率經過D/A轉換器轉換成產生調制信號、點頻信號或掃描信號。
8.如權利要求7所述的基于單元組合面向測試參數的系統集成方法,其特征在于,所述步驟D中,所述上變頻發生單元產生的激勵信號為高波段信號時,由信號發生器內部的YIG振蕩器及數字下變頻器的方法實現。
9.如權利要求7所述的基于單元組合面向測試參數的系統集成方法,其特征在于,所述步驟D中,所述上變頻發生單元產生的激勵信號為低波段信號時,由信號分頻和信號混頻的方法實現。
10.如權利要求7所述的基于單元組合面向測試參數的系統集成方法,其特征在于,所述輸出的方式為采用總線標準LXI。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國電子科技集團公司第四十一研究所,未經中國電子科技集團公司第四十一研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310180564.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





