[發明專利]一種IV型埃替拉韋晶體及其制備方法有效
| 申請號: | 201310178458.1 | 申請日: | 2013-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN104151241B | 公開(公告)日: | 2018-04-10 |
| 發明(設計)人: | 李金亮;趙楠;胡文軍 | 申請(專利權)人: | 上海迪賽諾化學制藥有限公司 |
| 主分類號: | C07D215/56 | 分類號: | C07D215/56 |
| 代理公司: | 上海海頌知識產權代理事務所(普通合伙)31258 | 代理人: | 何葆芳 |
| 地址: | 201302 上海市浦東*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 iv 型埃替拉韋 晶體 及其 制備 方法 | ||
1.一種IV型埃替拉韋晶體,其特征在于:所述晶體的X-射線粉末衍射譜圖在如下2θ:9.98°、11.68°、17.05°、18.98°、23.12°、23.57°下具有特征衍射峰,測試誤差為±0.2°。
2.如權利要求1所述的IV型埃替拉韋晶體,其特征在于:所述晶體的X-射線粉末衍射譜圖在如下2θ:8.52°、9.98°、10.53°、11.68°、12.76°、13.93°、14.58°、15.98°、17.05°、16.76°、18.98°、20.15°、21.28°、23.12°、23.57°、24.65°、25.84°、28.42°、34.68°、36.57°下具有主衍射峰,測試誤差為±0.2°。
3.如權利要求1所述的IV型埃替拉韋晶體,其特征在于:所述晶體在30~200℃范圍內的差熱-熱重分析中的失重率為8.5%~9.5%。
4.一種制備權利要求1至3中任一項所述的IV型埃替拉韋晶體的方法,其特征在于,包括如下步驟:
a)在20~60℃,使無定型埃替拉韋溶解于適量的無水乙醇中;
b)在10~20℃攪拌使析晶;
c)過濾,干燥。
5.如權利要求4所述的方法,其特征在于:步驟a)使1g無定型埃替拉韋溶解于1~9mL的無水乙醇中。
6.如權利要求4所述的方法,其特征在于:步驟c)中的干燥為真空干燥、熱風干燥或流化床干燥。
7.一種制備權利要求1至3中任一項所述的IV型埃替拉韋晶體的方法,其特征在于,包括如下步驟:
1)在20~60℃,使無定型埃替拉韋溶解于適量的無水乙醇中;
2)滴加反溶劑:正己烷、正庚烷、乙醚、異丙醚、甲基叔丁基醚中的至少一種;
3)滴畢,降溫到0~10℃,攪拌使析晶;
4)過濾,干燥。
8.如權利要求7所述的方法,其特征在于:步驟1)使1g無定型埃替拉韋溶解于1~9mL的無水乙醇中。
9.如權利要求7所述的方法,其特征在于:步驟2)中滴加的反溶劑體積與無水乙醇的體積比為1:1。
10.如權利要求7所述的方法,其特征在于:步驟4)中的干燥為真空干燥、熱風干燥或流化床干燥。
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