[發明專利]一種基于矩陣分析的RFID標簽分布優選配置方法

有效

• 申請號: 201310175258.0
• 申請日: 2013-05-14
• 公開（公告）號: CN103235963A
• 公開（公告）日: 2013-08-07
• 發明（設計）人: 于銀山;俞曉磊;趙志敏;汪東華
• 申請（專利權）人: 南京航空航天大學;江蘇省標準化研究院
• 主分類號: G06K17/00
• 分類號: G06K17/00;G01S5/08;G06F17/50
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于矩陣分析的RFID標簽分布優選配置方法，包括以下步驟：

第一步驟：搭建測試平臺步驟，測試平臺由測量天線、RFID讀寫器、控制計算機、電機、導軌、托盤構成，托盤和測量天線分別位于導軌兩端，測量天線與RFID讀寫器相連，托盤上放置貼有RFID標簽的測試樣品；

第二步驟：RFID標簽信號強度測量步驟，測量天線在導軌上由電機帶動向托盤運動，隨著測量天線靠近托盤，當測量天線和托盤的距離為R時，測量天線測量每個RFID標簽的信號強度，同時測量RFID標簽讀取率，存儲于控制計算機中；

第三步驟：矩陣分析步驟，將以上第二步驟測量得到的RFID標簽信號強度作為矩陣元素組成RFID標簽分布矩陣，計算RFID標簽分布矩陣標準差和RFID標簽分布矩陣的行列式；

第四步驟：RFID標簽信號強度分布圖繪制步驟，由RFID標簽位置作為橫坐標，RFID標簽信號強度作為縱坐標，繪制出RFID標簽信號強度分布圖；

第五步驟：RFID標簽分布優選配置確定步驟，將貼有RFID標簽的測試樣品按照不同分布重新擺放，重復以上第二、三、四步驟，在H次測量和計算后，根據以上第二步驟獲得的RFID標簽讀取率和第三步驟獲得的RFID標簽分布矩陣的行列式以及RFID標簽分布矩陣標準差，找出具有最小RFID標簽分布矩陣標準差、最小RFID標簽分布矩陣行列式絕對值以及最大RFID標簽讀取率的RFID標簽分布，作為最優RFID標簽分布配置方案。

2.根據權利要求1第二步驟所述RFID標簽讀取率n為RFID讀寫器讀取到的RFID標簽數，N為RFID標簽總數。

3.根據權利要求1第三步驟所述RFID標簽分布矩陣，其元素為測量天線獲得的各RFID標簽信號強度：

其中D(i，j)為i行j列的RFID標簽信號強度。

4.根據權利要求1第三步驟所述RFID標簽分布矩陣標準差：

M為RFID標簽分布矩陣D的元素個數，為D的均值，即r為D的行數，s為D的列數。

5.根據權利要求1第三步驟所述RFID標簽分布矩陣行列式：

|D|=Σi=1,j=1i=r,j=sD(i,j)A(i,j),]]>A(i，j)為D(i，j)的代數余子式。

6.根據權利要求1第四步驟所述RFID標簽信號強度分布圖是根據計算繪制，其中，P_Back為RFID標簽信號強度，σ為測量天線的雷達散射面面積，P_reader為RFID讀寫器發射功率，G_reader為RFID標簽的天線增益，R為RFID標簽到測量天線的距離，將RFID標簽位置作為橫坐標，將RFID標簽信號強度作為縱坐標，即可繪制RFID標簽信號強度分布圖。