[發明專利]觸控檢測系統及其電容式觸控檢測方法

有效

• 申請號: 201310172447.2
• 申請日: 2013-05-10
• 公開（公告）號: CN103389844A
• 公開（公告）日: 2013-11-13
• 發明（設計）人: Z·赫爾沙曼
• 申請（專利權）人: 新唐科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 任默聞

1.一種觸控檢測系統，其特征在于，包含：

一觸控表面組，位于一觸控面板中，所述觸控表面組包含多個觸控表面；以及

至少一觸控警示產生器，用以分別警示位于所述觸控表面中，至少一第一觸控表面以及一第二觸控表面其中之一或兩者上的一觸控動作；

其中所述觸控警示產生器用以判斷所述第一觸控表面的一第一觸控表面電容值，判斷所述第一觸控表面以及所述第二觸控表面的一觸控物體電容值，以及計算所述第一觸控表面電容值以及所述觸控物體電容值間的一差距，并據以產生所述第二觸控表面的所述觸控物體電容值的一近似值；

且其中所述第一及所述第二觸控表面分別通過一第一電阻物以及一第二電阻物連接于單一的所述觸控警示產生器，其中所述第二電阻物的一第二電阻值大于所述第一電阻物的一第一電阻值，所述第一電阻值至少為0歐姆。

2.根據權利要求1所述的觸控檢測系統，其特征在于，所述觸控警示產生器用以于發生觸控時判斷所述第一觸控表面的所述第一觸控表面電容值，于發生觸控時判斷所述第一觸控表面以及所述第二觸控表面的所述觸控物體電容值，以及于發生觸控時計算所述第一觸控表面電容值以及所述觸控物體電容值間的所述差距，并據以產生所述第二觸控表面的所述觸控物體電容值。

3.根據權利要求2所述的觸控檢測系統，其特征在于，所述觸控警示產生器用以在未觸控時根據預先校正的至少一系數K校正所述第二觸控表面的所述觸控物體電容值的所述近似值。

4.根據權利要求1所述的觸控檢測系統，其特征在于，各所述觸控表面與所述觸控警示產生器間的所述第一電阻值及所述第二電阻值相差至少一數量級。

5.根據權利要求1所述的觸控檢測系統，其特征在于，所述觸控表面由置于一絕緣表面上的一單層物質形成，其中所述絕緣表面覆蓋一觸控面板區域。

6.根據權利要求1所述的觸控檢測系統，其特征在于，所述第一電阻值及所述第二電阻值至少其中之一的至少一部分阻值是由多個走線其中之一提供，且各所述走線用以連接至少其中之一所述觸控表面以及所述觸控警示產生器。

7.根據權利要求6所述的觸控檢測系統，其特征在于，所述觸控表面組定義一觸控面板主動區，且其中各用以連接至少其中之一所述觸控表面以及所述觸控警示產生器的至少一所述走線設置于所述觸控面板主動區內。

8.根據權利要求6所述的觸控檢測系統，其特征在于，各用以連接至少其中之一所述觸控表面以及所述觸控警示產生器的所述走線包含一透明導體。

9.根據權利要求6所述的觸控檢測系統，其特征在于，所述觸控表面組包含形成一陣列的所述觸控表面，且所述陣列具有一垂直長度，所述陣列的所述觸控表面排列為多個行及多個列，所述走線互不交越，以建構一單層觸控面板；

其中至少二觸控表面形成的多個觸控表面群組中的至少一部分，是串聯至單一的所述觸控警示產生器，以由所述觸控警示產生器伺服；

所述觸控表面群組各包含位于一第一列的至少一所述第一觸控表面以及位于所述第一列鄰近的一列的所述第二觸控表面。

10.根據權利要求9所述的觸控檢測系統，其特征在于，所述第二觸控表面至所述第一觸控表面的一垂直距離，小于所述垂直長度的三分之二，以降低所述觸控表面間的干擾。

11.根據權利要求1所述的觸控檢測系統，其特征在于，各所述觸控表面與所述觸控警示產生器間的一電阻值互相相差至少兩倍。

12.根據權利要求6所述的觸控檢測系統，其特征在于，所述第一觸控表面以及所述第二觸控表面分別通過一第一走線以及一第二走線連接至單一的所述觸控警示產生器，并由所述觸控警示產生器伺服，所述第一觸控表面以及所述第二觸控表面間的一電阻值差是由所述第一走線及所述第二走線間的長度差距產生。

13.根據權利要求6所述的觸控檢測系統，其特征在于，所述第一觸控表面以及所述第二觸控表面分別通過一第一走線以及一第二走線連接至單一的所述觸控警示產生器，并由所述觸控警示產生器伺服，所述第一觸控表面以及所述第二觸控表面間的一電阻值差是由所述第一走線及所述第二走線間的寬度差距產生。

14.根據權利要求11所述的觸控檢測系統，其特征在于，所述第二走線往復至少一次。