[發(fā)明專利]一種三結太陽電池及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310166015.0 | 申請日: | 2013-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN103280483A | 公開(公告)日: | 2013-09-04 |
| 發(fā)明(設計)人: | 曾徐路;董建榮;李奎龍;孫玉潤;于淑珍;趙勇明;趙春雨;楊輝 | 申請(專利權)人: | 中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所 |
| 主分類號: | H01L31/0687 | 分類號: | H01L31/0687;H01L31/0693;H01L31/18 |
| 代理公司: | 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 宋鷹武 |
| 地址: | 215123 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 太陽電池 及其 制備 方法 | ||
【技術領域】
本發(fā)明涉及半導體太陽電池材料及器件制造領域,尤其涉及一種三結太陽電池及其制備方法。
【背景技術】
目前在Ⅲ-Ⅴ族化合物半導體太陽電池的研制過程中,為了提高電池的轉換效率,需要對太陽光譜進行劃分,采用與之相匹配的不同帶隙的子電池依次串聯(lián),以實現對太陽光譜的充分利用。
在三結太陽電池中,目前研究較為成熟的材料體系是與GaAs襯底晶格匹配生長的GaInP/GaAs/Ge三結電池,其帶隙組合為1.9eV、1.42eV、0.7eV,該帶隙組合并未達到最優(yōu)值,其最高轉換效率僅為32%左右。最新研究表明具有帶隙組合1.93eV、1.39eV、0.94eV的三結太陽電池的效率大于51%,然而由于晶格常數對材料的限制,具有該優(yōu)化帶隙組合且與GaAs襯底晶格匹配的材料較少,如一種能實現該帶隙組合的材料體系為AlInAs/InGaAsP/InGaAs,然而該材料體系與GaAs襯底有約2.1%的晶格失配。
為了得到帶隙組合為1.93eV、1.39eV、0.94eV的AlInAs/InGaAsP/InGaAs材料,一種方法是利用晶格異變技術在GaAs襯底上引入晶格失配的晶格異變緩沖層,然而緩沖層的引入將帶來各種材料缺陷,會對電池性能產生不良影響,上述方法不僅增加了生長難度,而且增加了生產成本。
【發(fā)明內容】
為解決現有太陽電池制作工藝中生長難度大、生產成本高的問題,本發(fā)明提出一種三結太陽電池及其制備方法。
本發(fā)明一方面提出一種三結太陽電池,包括依次連接的P型GaAs襯底、InGaAsN底電池、第一隧道結、GaNAsBi中間電池、第二隧道結、AlGaInP頂電池以及N型GaAs歐姆接觸層,其中在所述P型GaAs襯底上設有P型電極、在所述N型GaAs歐姆接觸層上設有N型電極。
本發(fā)明另一方面提出一種三結太陽電池制備方法,包括如下步驟,步驟S1:在P型GaAs襯底上生長InGaAsN底電池;步驟S2:在所述InGaAsN底電池上生長第一隧道結;步驟S3:在所述第一隧道結上生長GaNAsBi中間電池;步驟S4:在所述GaNAsBi中間電池上生長第二隧道結;步驟S5:在所述第二隧道結上生長AlGaInP頂電池;步驟S6:在所述AlGaInP頂電池上生長N型GaAs歐姆接觸層;步驟S7:在所述P型GaAs襯底上制備P型電極,在所述N型GaAs歐姆接觸層上制備N型電極。
本發(fā)明提出的三結太陽電池及其制備方法采用了優(yōu)化的帶隙組合:1.93eV、1.39eV以及0.94eV,同時各個子電池與GaAs襯底晶格匹配,該制備方法充分利用現有GaAs基多結電池工藝,解決了目前采用晶格異變、倒置生長等技術存在的材料消耗大、工藝難度大、成本較高的問題。
【附圖說明】
圖1所示為本發(fā)明一實施例的三結太陽電池結構示意圖;
圖2所示為本發(fā)明一實施例的三結太陽電池制備方法流程圖。
【具體實施方式】
為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清晰,以下結合具體實施例及附圖,對本發(fā)明作進一步詳細說明。應當理解,文中所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明的技術方案,而不應當理解為對本發(fā)明的限制。
在本發(fā)明的描述中,術語“內”、“外”、“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“頂”、“底”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系,僅是為了便于描述本發(fā)明而不是要求本發(fā)明必須以特定的方位構造和操作,因此不應當理解為對本發(fā)明的限制。
本發(fā)明一方面提供一種三結太陽電池,如圖所示,所述三結太陽電池包括依次連接的P型GaAs襯底100、InGaAsN底電池200、第一隧道結300、GaNAsBi中間電池400、第二隧道結500、AlGaInP頂電池600以及N型GaAs歐姆接觸層700,其中在所述P型GaAs襯底上設有P型電極800、在所述N型GaAs歐姆接觸層上設有N型電極900。
優(yōu)選地,所述InGaAsN底電池200帶隙值為0.94±0.03eV,其中In摩爾分數可選取9.3%-11.6%范圍內任意一值,N摩爾分數可選取3.2%-4%范圍內任意一值。
優(yōu)選地,所述GaNAsBi中間電池400帶隙值為1.39±0.03eV,其中N摩爾分數可選取0.03%-0.18%范圍內任意一值,Bi摩爾分數可選取0.05%-0.3%范圍內任意一值。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所,未經中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310166015.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:新的雜配位銥配合物
- 下一篇:基于ZigBee的QPSO自校正定位方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





