[發明專利]USB插拔壽命測試治具

有效

• 申請號: 201310165219.2
• 申請日: 2013-05-07
• 公開（公告）號: CN104142437B
• 公開（公告）日: 2017-03-15
• 發明（設計）人: 張榮斌
• 申請（專利權）人: 神訊電腦（昆山）有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

【技術領域】

本發明涉及一種測試治具，具體涉及一種USB插拔壽命測試治具。

【背景技術】

目前針對一些電子產品USB接口壽命的測試，通常是將USB接口及USB插頭固定在插拔測試機上進行插拔測試，其中USB插拔壽命測試的一般規格為1500cycle、2000cycle、或2500cycle等。在進行一定規格的插拔測試后，將USB接口及USB插頭從插拔測試機上取下，并用萬用表測試其接觸是否導通。然而，利用這種測試方式通常是達到一定的測試規格后才用萬用表測試其通斷情況及檢查摩擦變形等情況，從而不能及時觀察到USB接口和USB插頭接觸的通斷情況，同時也無法計算出USB插拔測試的壽命。

有鑒于此，實有必要提供一種USB插拔壽命測試治具以解決上述問題。

【發明內容】

因此，本發明提供一種USB插拔壽命測試治具,以解決上述插拔測試需達到一定測試規格才能檢測出USB接口和USB插頭接觸的通斷情況，同時無法計算出USB插拔測試壽命的問題。

為了達到上述目的，本發明提供的USB插拔壽命測試治具，所述USB包括USB接口及用以對所述USB接口進行重復插拔測試的USB插頭，所述USB接口與所述USB插頭的一端皆具有若干信號引腳，所述USB接口的另一端與所述USB插頭的另一端連接，所述USB插拔壽命測試治具包括：

至少一第一直流電源，其一極接所述USB接口或USB插頭的若干信號引腳；

若干晶體管，其柵極分別對應接所述第一直流電源的另一極，所述晶體管的源極分別相對所述第一直流電源的一極接USB插頭或USB接口的若干信號引腳，以使所述USB形成回路；

至少一第二直流電源，其一極分別對應接所述晶體管的漏極，所述第二直流電源的另一極分別對應接所述晶體管的源極；

若干顯示單元，其分別串接于所述晶體管與所述第二直流電源中。

可選的，所述第一直流電源電壓為3V，所述第二直流電源電壓為12V。

可選的，所述第一直流電源的一極為負極，所述第二直流電源的一極為正極。

可選的，所述晶體管為N-MOS管。

可選的，所述顯示單元以不同發光顯示來分別對應所述若干信號引腳。

可選的，所述顯示單元為燈泡，所述燈泡的功率為10W。

可選的，所述USB為USB2.0或USB3.0。

相較于現有技術，本發明USB插拔壽命測試治具可根據在插拔測試時，燈泡不再閃亮的時刻及壽命的測試周期計算出USB插拔的壽命；同時可時時觀察到燈泡的亮滅，如果有燈泡不亮則可以判斷USB已出現故障，既而可停止壽命測試無需再等到一個測試周期才能判斷，從而大量的節省了時間及提高了工作效率。

【附圖說明】

圖1繪示為本發明USB插拔壽命測試治具一較佳實施例的結構示意圖。

【具體實施方式】

請參閱圖1繪示，于本實施例中，為了達到上述目的，本發明提供的USB插拔壽命測試治具，所述USB包括USB接口100及用以對所述USB接口進行重復插拔測試的USB插頭200，其中，所述USB為USB2.0，所述USB接口100與所述USB插頭200的一端皆具有四個信號引腳，所述USB接口100的另一端與所述USB插頭200的另一端連接，所述USB插拔壽命測試治具包括：

四個第一直流電源300，其一極接所述USB接口100或USB插頭200的若干信號引腳；

四個晶體管400，其柵極分別對應接所述第一直流電源300的另一極，所述晶體管400的源極分別相對所述第一直流電源300的一極接USB插頭200或USB接口100的若干信號引腳，以使所述USB形成回路；

四個第二直流電源500，其一極分別對應接所述晶體管400的漏極，所述第二直流電源500的另一極分別對應接所述晶體管400的源極；

四個顯示單元600，其分別串接于所述晶體管400與所述第二直流電源500中。

其中，所述第一直流電源300電壓為3V，所述第二直流電源500電壓為12V。

其中，所述第一直流電源300的一極為負極，所述第二直流電源500的一極為正極。

其中，所述晶體管400為N-MOS管。

其中，所述顯示單元600以不同發光顯示來分別對應所述四個信號引腳。

其中，所述顯示單元600為燈泡，所述燈泡的功率為10W。