[發(fā)明專利]一種用于低能重離子的束團(tuán)參數(shù)測量系統(tǒng),以及一種頻率諧振選能能量測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310161430.7 | 申請日: | 2013-05-03 |
| 公開(公告)號: | CN103207405A | 公開(公告)日: | 2013-07-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 袁任賢;周偉民;冷用斌;陳之初;陳杰;葉愷容;俞路陽;閻映炳 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所 |
| 主分類號: | G01T1/29 | 分類號: | G01T1/29 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人: | 鄧琪 |
| 地址: | 201800 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 低能 離子 參數(shù) 測量 系統(tǒng) 以及 頻率 諧振 能量 測量方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及低能重離子的束團(tuán)參數(shù)測量,更具體地涉及一種用于低能重離子的束團(tuán)參數(shù)測量系統(tǒng),以及一種頻率諧振選能能量測量方法。?
背景技術(shù)
一般而言,需要對離子源輸出的束團(tuán),進(jìn)行各種束團(tuán)參數(shù),如發(fā)射度、能散度以及離子比等參數(shù)的診斷,以便合理設(shè)計(jì)各種加速器參數(shù)對該束團(tuán)進(jìn)行利用。對于電子機(jī)器而言,輸出的電子束由于其靜止能量較小,電子槍輸出的束團(tuán)β值已經(jīng)接近1,診斷時(shí)可以不考慮空間電荷效應(yīng)的影響,可以在足夠的空間距離上安排各種診斷儀器對其進(jìn)行各種參數(shù)的測量。但對于重離子源輸出的低能重離子束團(tuán)而言,由于能量一般僅數(shù)十keV,束團(tuán)β值一般遠(yuǎn)小于1,束團(tuán)內(nèi)部存在比較嚴(yán)重的空間電荷效應(yīng),即束團(tuán)外圍的離子受到其內(nèi)部離子的靜電排斥作用,該靜電排斥作用將隨著時(shí)間,或者說離子漂移距離的增加而線性增加,由此導(dǎo)致束團(tuán)參數(shù)的惡化。因此,在盡可能短的漂移距離內(nèi)完成各種束團(tuán)參數(shù)的診斷,成為低能重離子源的迫切需求。?
目前,對于重離子源的發(fā)射度測量,主要采用Alison電偏轉(zhuǎn)平臺(tái)方案,參見P.W.Allison,J.D.Sherman,et.al.,“An?Emittance?Scanner?for?Intense?Low-Energy?Ion?Beams”IEEE?Transactions?on?Nuclear?Science,1983,30(4):2204,該方案可以在幾百毫米的漂移距離之內(nèi)完成發(fā)射度測量。但是該方案的缺點(diǎn)是只能實(shí)現(xiàn)對束團(tuán)的發(fā)射度測量,如果需要完成能散度、離子比測量,則需增加新的測量設(shè)備,占用更多縱向空間,導(dǎo)致空間電荷效應(yīng)增加。對于能散度、離子比測量,則采用偏轉(zhuǎn)磁鐵方案,需要的漂移距離主要由能散度的測量分辨率決定,一般而言,具有能量偏差的重離子,通過偏轉(zhuǎn)磁鐵后的束團(tuán)尺寸變化,由能量偏差ΔE/E+E0及速度偏差ΔV/V=ΔE/2E決定,其中E0是該種離子的靜止能量,E是該離子束團(tuán)的平均動(dòng)能。由于靜止能量遠(yuǎn)?大于平均動(dòng)能,一般而言,通過偏轉(zhuǎn)磁鐵后的束團(tuán)尺寸變化主要由速度偏差決定,也就是Δσ/σ=ΔE/2E,其中,σ是離子束半徑。如果需要得到0.1%的能散度測量分辨率,則需要束團(tuán)尺寸的測量分辨率為0.05%,而由于較強(qiáng)的空間電荷效應(yīng)導(dǎo)致的束團(tuán)彌散,使得實(shí)現(xiàn)此種程度的束團(tuán)尺寸測量分辨率成為幾乎不可能完成的任務(wù),進(jìn)而導(dǎo)致該低能重離子的能散度達(dá)不到一定的分辨率。?
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種用于低能重離子的束團(tuán)參數(shù)測量系統(tǒng),以及一種頻率諧振選能能量測量方法,從而解決現(xiàn)有技術(shù)中空間電荷效應(yīng)導(dǎo)致束團(tuán)彌散,進(jìn)而導(dǎo)致低能重離子源的能散度的測量分辨率不高,以及需要分別通過增加新的設(shè)備才能實(shí)現(xiàn)對能散度、發(fā)射度、離子比三種參數(shù)的測量的缺陷。?
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:?
本發(fā)明提供一種用于低能重離子的束團(tuán)參數(shù)測量系統(tǒng),所述測量系統(tǒng)包括:步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)平臺(tái),真空內(nèi)測量探頭,數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)以及外部激勵(lì)源,其中,所述真空內(nèi)測量探頭包括:由低能重離子依次穿過的前位置選擇狹縫、前平板激勵(lì)電極、后平板激勵(lì)電極以及后位置選擇狹縫;以及位于所述后位置選擇狹縫之后的法拉第筒(Faraday?Cup);其中,所述前平板激勵(lì)電極和后平板激勵(lì)電極分別包括一對平行設(shè)置的上電極板和下電極板,所述上電極板和下電極板分別設(shè)置于所述低能重離子的束流中軸線的上方和下方,所述前平板激勵(lì)電極和后平板激勵(lì)電極之間間隔一漂移段;其中,所述真空內(nèi)測量探頭裝載于所述步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)平臺(tái)上,所述外部激勵(lì)源分別與所述前平板激勵(lì)電極和后平板激勵(lì)電極電連接,并受所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)控制,以輸出激勵(lì)信號,所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)與所述法拉第筒相連。?
所述外部激勵(lì)源包括掃頻激勵(lì)源和三角波激勵(lì)源。?
所述前平板激勵(lì)電極和后平板激勵(lì)電極的所述上、下電極板的電極間距在汽缸或電機(jī)的驅(qū)動(dòng)下改變。?
所述電極間距在5mm和15mm兩檔之間切換,分別用于能散度和發(fā)射度的測量。?
所述前位置選擇狹縫和后位置選擇狹縫的寬度均為20μm。?
所述前平板激勵(lì)電極和后平板激勵(lì)電極的長度與所述漂移段的長度均為?100mm。?
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