[發明專利]一種實現碎片率自動化統計的方法有效
| 申請號: | 201310161070.0 | 申請日: | 2013-05-03 |
| 公開(公告)號: | CN103258910A | 公開(公告)日: | 2013-08-21 |
| 發明(設計)人: | 張博;安立兵;李躍;李驥云;張鵬飛 | 申請(專利權)人: | 天津英利新能源有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;G06K17/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 魏曉波 |
| 地址: | 301510 天津市濱海新區津漢公*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 實現 碎片 自動化 統計 方法 | ||
技術領域
本發明涉及太陽能光伏電池領域,特別涉及一種實現碎片率自動化統計的方法。
背景技術
太陽能光伏組件從下到上總共有五層結構,分別是玻璃、下層EVA(乙烯-醋酸乙烯共聚物)、電池片、上層EVA和背板。單片的電池片經由焊接機焊接成電池串,然后經由敷設機將玻璃、下層EVA、電池串依次鋪設好,最后經人工鋪設上層EVA、背板以及序列號。
在焊接機焊接電池串時,或在敷設機對玻璃、下層EVA、電池串進行鋪設時,經常會導致質地非常脆的電池片碎裂、崩邊、崩角等問題的出現。
在進行人工敷設上層EVA和背板時,如果敷設人員發現上述問題,會在該組件的質量跟蹤單上寫上不合格的原因,然后使該組件轉入到改片工序。改片人員會根據該組件質量跟蹤單上的內容,對該組件中相應的電池片進行返工,例如將出問題的電池片拆下,重新換上新的電池片等。
如果在人工敷設時沒有發現問題,而在人工敷設之后的EL測試(EL測試:通過給電池組件加電流,使電池片發光從而發現電池缺陷。)中發現問題,EL測試人員會在該組件的質量跟蹤單上寫上不合格的原因,然后使該組件轉入改片工序,改片人員根據質量跟蹤單上的不合格原因對該組件進行返工。改片完成后,改片人員需要在質量跟蹤單上填寫改片信息,然后通過傳送線的上板工位將組件下轉,再次經人工敷設和EL測試合格后方可流入層壓工序。
上述改片信息包括:組件序列號、碎片的數量、改片員姓名、改片的數量以及位置等,這些是對后期碎片率的統計和改片員量化考核的重要數據來源。
碎片率為電池片碎片總數量占電池片總數量的百分比,在后期進行碎片率統計時,除了需要統計出電池片總數,還需要工作人員根據每塊組件上的質量跟蹤單上的碎片數量統計出碎片總數,然后計算出碎片率,顯然這種后期統計碎片率的方法比較繁瑣,從而導致工作人員的工作效率降低。
因此,如何實現碎片率的自動化統計,從而簡化工作人員統計碎片率時的步驟,提高工作效率,是本領域技術人員亟待解決的關鍵性問題。
發明內容
本發明的目的是提供一種實現碎片率自動化統計的方法,該方法能自動統計出碎片率,從而簡化工作人員統計碎片率時的步驟,提高工作效率。
為實現上述目的,本發明提供如下技術方案:
一種實現碎片率自動化統計的方法,所述方法包括:
S1:使若干組件依次進行如S11-S16步驟,如果所述若干組件都完成了如S11-S16的步驟,則進入步驟S2;
S11:在一塊組件上鋪設與所述組件對應的條形碼;
S12:用一號掃碼器掃描所述條形碼,致使數據庫中的電池片總數增加一個定值,并保存;
S13:人工檢測所述組件是否有問題電池片,若否,進入步驟S14,若是,對所述組件進行問題信息的標記,進入步驟S15;
S14:EL測試所述組件是否有問題電池片,若否,使所述組件進入后續工藝流程,
若是,對所述組件進行問題信息的標記,進入步驟S15;
S15:根據所述組件上標記的問題信息對所述組件進行改片;
S16:用四號掃碼器掃描經過改片的組件上的條形碼,致使總控制中心將所述數據庫中和所述組件對應的統計信息發送給四號控制面板顯示,在所述統計信息中輸入所述組件中碎片的數量,并保存,然后進入步驟S13。
S2:操作所述總控制中心,使所述總控制中心自動統計出碎片率,所述碎片率為所述若干組件的碎片數量之和與所述若干組件的電池片總數的比值。
優選地,所述步驟S12中所述定值為所述組件中電池片的個數值,每一塊所述組件中的電池片個數均相等。
優選地,所述組件的問題信息包括所述組件中問題電池片的位置、數量以及出現問題的原因。
優選地,所述步驟S16中的所述碎片包括:碎裂的電池片、崩邊的電池片、崩角的電池片。
優選地,所述統計信息還包含改片信息,
所述步驟S16中所述在所述統計信息中輸入碎片數量,還包括,在所述統計信息中輸入改片信息,
所述改片信息包括改片人員姓名、改片日期、改片的數量、改片的位置以及改片的原因。
優選地,所述步驟S16中的所述統計信息還包含所述步驟S13中的所述問題信息,
所述步驟S13中所述對所述組件進行問題信息的標記,包括:
用二號掃碼器掃描所述組件上的條形碼,致使所述總控制中心將所述統計信息發送給二號控制面板顯示,在所述統計信息中輸入所述問題信息并保存,
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





