[發(fā)明專利]存儲器及其測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310160658.4 | 申請日: | 2013-05-03 |
| 公開(公告)號: | CN103514963A | 公開(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發(fā)明(設計)人: | 宋清基 | 申請(專利權(quán))人: | 愛思開海力士有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/56 | 分類號: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 許偉群;俞波 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存儲器 及其 測試 方法 | ||
相關申請的交叉引用
本申請要求2012年6月28日提交的申請?zhí)枮?0-2012-0069690的韓國專利申請的優(yōu)先權(quán),其全部內(nèi)容通過引用合并于此。
技術領域
本發(fā)明的示例性實施例涉及一種存儲器及其測試方法,更具體而言,涉及一種利用具有低時鐘頻率的測試設備的同時能減少存儲器的測試時間的存儲器測試方法。
背景技術
存儲器被制造之后,存儲器經(jīng)歷各種測試以檢測存儲器是否正常地操作。一般地,在執(zhí)行存儲器測試時,由于存儲器接收時鐘信號、并且與接收的時鐘信號同步地操作,所以測試設備將時鐘信號輸入到存儲器、并且輸入和輸出測試數(shù)據(jù)。存儲器測試可以包括:用于判定單元是否正常操作的測試,用于檢查相鄰的金屬線之間的耦合效應的測試,以及用于檢查具有時間特性的信號之間的余量的測試。供作參考,在存儲器的制造成本中,執(zhí)行存儲器測試所需的時間可能為重要的因素。因此,隨著執(zhí)行存儲器測試所需的時間增加,所以存儲器的制造成本也會增加。
此外,用于執(zhí)行存儲器測試的測試設備內(nèi)部產(chǎn)生時鐘信號、命令信號以及用于測試的數(shù)據(jù),將產(chǎn)生的信號和數(shù)據(jù)輸入到存儲器,接收從存儲器輸出的數(shù)據(jù),以及分析存儲器是否正常操作。由于同步存儲器與從外部輸入的時鐘信號同步執(zhí)行全部操作,所以存儲器的操作速度根據(jù)從外部輸入的時鐘信號的頻率來確定。因此,執(zhí)行存儲器測試所需的時間取決于從測試設備施加到存儲器的時鐘信號的頻率。
隨著存儲器的操作速度的增加,存儲器已經(jīng)利用了高頻時鐘信號。然而,一些測試設備會對其內(nèi)部產(chǎn)生的時鐘信號的頻率具有一些限制。在這種情況下,當執(zhí)行存儲器測試時,存儲器必須與測試設備產(chǎn)生的較低頻率的時鐘信號同步地操作。因此,測試存儲器所需的時間會不期望地增加。
發(fā)明內(nèi)容
各種實施例涉及一種存儲器及其測試方法,即使測試存儲器時使用測試設備執(zhí)行測試,所述測試方法也能通過內(nèi)部產(chǎn)生具有高頻的時鐘信號來減少測試時間。
此外,各種實施例涉及一種存儲器及其測試方法,所述存儲器及其測試方法能利用在存儲器內(nèi)部產(chǎn)生的時鐘信號來測試各種操作。
在一個實施例中,一種存儲器包括:存儲體,所述存儲體包括多個存儲器單元;命令譯碼器,所述命令譯碼器被配置成與時鐘信號同步地操作、并且響應于多個命令信號而將包括激活命令、寫入命令、校準命令以及MRS命令的多個命令中的至少一個激活;測試譯碼器,所述測試譯碼器被配置成響應于多個地址信號和MRS命令而將存儲器設定為測試模式;以及測試控制器,所述測試控制器被配置成當存儲器被設定成測試模式時在基于通過對具有比時鐘信號更高頻率的測試時鐘信號計數(shù)獲得的計數(shù)信息確定的時間點將用于測試操作存儲體的至少一個內(nèi)部測試命令激活。
在另一個實施例中,一種存儲器包括:存儲體,所述存儲體包括多個存儲器單元;命令譯碼器,所述命令譯碼器被配置成與時鐘信號同步地操作、并且響應于多個命令信號而將包括寫入命令和MRS命令的多個命令中的至少一個激活;測試譯碼器,所述測試譯碼器被配置成響應于多個地址信號和MRS命令而將存儲器設定為測試模式;以及測試控制器,所述測試控制器被配置成當存儲器被設定成測試模式時在寫入命令被激活之后在基于通過對具有比時鐘信號高的頻率的測試時鐘信號計數(shù)獲得的計數(shù)信息確定的時間點將用于對存儲體預充電的測試預充電命令激活。
在另一個實施例中,一種存儲器包括:存儲體,所述存儲體包括多個存儲器單元;命令譯碼器,所述命令譯碼器被配置成與時鐘信號同步地操作、并且響應于多個命令信號而將包括激活命令和MRS命令的多個命令中的至少一個激活;測試譯碼器,所述測試譯碼器被配置成響應于多個地址信號和MRS命令而將存儲器設定為測試模式;以及測試控制器,所述測試控制器被配置成當存儲器被確定為測試模式時在基于通過對具有比時鐘信號高的頻率的測試時鐘信號計數(shù)獲得的計數(shù)信息確定的時間點將用于將數(shù)據(jù)寫入存儲體中的測試寫入命令和用于對存儲體預充電的測試預充電命令激活。
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