[發明專利]一種面向光學和微波同軸探測應用的微帶天線

無效

• 申請號: 201310156935.4
• 申請日: 2013-04-28
• 公開（公告）號: CN103259095A
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發明（設計）人: 楊國輝;馬爽;張狂;王二超
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: H01Q9/04
• 分類號: H01Q9/04;H01Q1/22;H01Q1/38;H01Q1/48
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 張宏威

1.一種面向光學和微波同軸探測應用的微帶天線，其特征在于，它包括透明介質板（1）、柵格化接地板（2）、柵格化微帶貼片（3）、柵格化微帶饋線（4）和波導端口（5），所述透明介質板（1）和柵格化接地板（2）的長和寬都完全相同，柵格化微帶貼片（3）的長小于透明介質板（1）的長，柵格化微帶貼片（3）的寬小于柵格化微帶貼片（3）的寬，柵格化微帶饋線（4）的寬小于柵格化微帶貼片（3）的寬，柵格化接地板（2）完全敷于透明介質板（1）的下表面，柵格化微帶貼片（3）敷于透明介質板（1）的上表面，并且透明介質板（1）和柵格化微帶貼片（3）的中心重合，波導端口（5）固定在透明介質板（1）的側面，且位于透明介質板（1）長邊的中間位置，柵格化微帶饋線（4）敷于透明介質板（1）的上表面，并且位于波導端口（5）和柵格化微帶貼片（3）之間，饋電通過波導端口（5）傳到柵格化微帶饋線（4）和柵格化接地板（2），柵格化微帶饋線（4）將接收到的饋電傳到柵格化微帶貼片（3）。

2.根據權利要求1所述一種面向光學和微波同軸探測應用的微帶天線，其特征在于，所述透明介質板（1）的長度為5mm、寬度為4mm、厚度為1mm，介電常數為3.8，所述透明介質板（1）的材料為透明玻璃材質。

3.根據權利要求1所述一種面向光學和微波同軸探測應用的微帶天線，其特征在于，所述柵格化接地板（2）的長度為5mm、寬度為4mm、厚度為0.0008mm，為銅制金屬敷層，柵格化接地板（2）由50*40個柵格組成，每個柵格大小為0.1mm*0.1mm，柵格之間金屬敷層的寬度均為0.01mm，占空比為1:10。

4.根據權利要求1所述一種面向光學和微波同軸探測應用的微帶天線，其特征在于，所述柵格化微帶貼片（3）的長度為3.8mm、寬度為2.4mm、厚度為0.0008mm，為銅制金屬敷層，柵格化微帶貼片（3）由38*24個柵格組成，每個柵格大小為0.1mm*0.1mm，柵格之間金屬敷層的寬度均為為0.01mm，占空比為1:10。

5.根據權利要求1所述一種面向光學和微波同軸探測應用的微帶天線，其特征在于，所述柵格化微帶饋線（4）的長度為0.8mm、寬度為1mm、厚度為0.0008mm，為銅制金屬敷層，柵格化微帶饋線（4）由8*10個柵格組成的，每個柵格大小為0.1mm*0.1mm，柵格之間金屬敷層的寬度均為為0.01mm，占空比為1:10。

6.根據權利要求3、4和5所述一種面向光學和微波同軸探測應用的微帶天線，其特征在于，所述的柵格化的接地板（2）、柵格化的微帶貼片（3）和柵格化的微帶饋線（4）的所有柵格樣式和尺寸完全相同，所述柵格樣式和尺寸為：每個柵格大小為0.1mm*0.1mm，柵格之間金屬敷層的寬度均為為0.01mm，占空比為1:10。

7.根據權利要求1所述一種面向光學和微波同軸探測應用的微帶天線，其特征在于，所述微帶天線工作于Ka波段。