[發(fā)明專利]數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換設(shè)備

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310156843.6
• 申請日: 2013-04-28
• 公開（公告）號: CN103514060A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 羽根田光正
• 申請（專利權(quán)）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G06F11/08
• 分類號: G06F11/08;G06F3/06
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 李春暉;李德山

技術(shù)領(lǐng)域

本文中討論的實施方式涉及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換。

背景技術(shù)

被稱為ECC（Error?Check?and?Correct，錯誤檢查與糾正）的技術(shù)是用于降低半導(dǎo)體存儲器的出錯率的傳統(tǒng)方法，該半導(dǎo)體存儲器例如為NAND型閃存。在ECC技術(shù)中，當(dāng)向半導(dǎo)體存儲器寫入數(shù)據(jù)時，存儲器控制器向數(shù)據(jù)中添加糾錯碼，借此在讀數(shù)據(jù)時通過糾錯碼糾正錯誤。

相關(guān)的現(xiàn)有技術(shù)例如包括這樣一種技術(shù)：當(dāng)向閃存中寫入數(shù)據(jù)時對該數(shù)據(jù)編碼，編碼后的數(shù)據(jù)中特定數(shù)值的數(shù)量減少到小于編碼前的特定數(shù)值的數(shù)量，然后，將編碼后的數(shù)據(jù)寫入閃存的存儲單元。另一種相關(guān)技術(shù)中，使用與第一數(shù)據(jù)格式相關(guān)的統(tǒng)計值將信息從第一數(shù)據(jù)格式的信息轉(zhuǎn)換成為第二數(shù)據(jù)格式的信息，并且將該信息與標(biāo)識符一起存儲到存儲器，該標(biāo)識符標(biāo)識向第二數(shù)據(jù)格式進(jìn)行轉(zhuǎn)換所使用的轉(zhuǎn)換值。

又一種相關(guān)技術(shù)中，將數(shù)據(jù)寫入隨機存取存儲器，將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成具有規(guī)定值的比特的數(shù)量大于或等于規(guī)定數(shù)量的數(shù)據(jù)，轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)被輸出到隨機存取存儲器。再一種相關(guān)技術(shù)中，在通過重新排列突發(fā)傳輸中的寫入數(shù)據(jù)而創(chuàng)建的n種寫入數(shù)據(jù)中選擇下面的寫入數(shù)據(jù)并將所選擇的寫入數(shù)據(jù)在突發(fā)傳輸中的順序編碼在冗余比特中：在突發(fā)傳輸中將該寫入數(shù)據(jù)寫入存儲器時所發(fā)生的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換少于進(jìn)行重新排列之前的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換。

作為上述傳統(tǒng)技術(shù)的例子，參看公開號為2010-528380和2005-537551的PCT申請的公開的日語譯文，和已披露的公開號為2002-366419和2008-059449的日本專利。

當(dāng)半導(dǎo)體存儲器具有微加工制造結(jié)構(gòu)或者多值配置時，半導(dǎo)體存儲器的出錯率增加。結(jié)果，使用傳統(tǒng)技術(shù)例如ECC進(jìn)行糾錯變得困難。例如，半導(dǎo)體存儲器更高的出錯率導(dǎo)致在ECC中使用的糾錯碼的比特數(shù)量的增加，因而導(dǎo)致存儲器控制器的電路規(guī)模的增加和半導(dǎo)體存儲器需要更大的存儲器容量。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施方式的一個方面的目的是至少解決上述傳統(tǒng)技術(shù)中的問題。

根據(jù)實施方式的一個方面，由計算機執(zhí)行的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法包括：對于特定數(shù)量比特的比特串能夠呈現(xiàn)的一組比特模式中的在一組數(shù)據(jù)段中出現(xiàn)的每一種比特模式，對所述一組數(shù)據(jù)段內(nèi)具有所述比特模式的數(shù)據(jù)段的數(shù)量進(jìn)行計數(shù)，所述一組數(shù)據(jù)段是通過按照所述特定數(shù)量的比特分割正寫入存儲介質(zhì)的寫入數(shù)據(jù)而創(chuàng)建的，所述存儲介質(zhì)具有這樣的特性：在所述存儲介質(zhì)內(nèi)存儲的兩種比特值中，第一種值的比特錯誤發(fā)生率高于第二種值的比特錯誤發(fā)生率；將按照所述計數(shù)得到的計數(shù)結(jié)果的降序從所述一組比特模式中選擇的作為轉(zhuǎn)換源模式的比特模式，分別與按照比特模式中包含的第二種值的數(shù)量的降序從所述一組比特模式中選擇的作為轉(zhuǎn)換目標(biāo)模式的比特模式相關(guān)聯(lián)起來；以及，對于每一種轉(zhuǎn)換源比特模式，將所述一組數(shù)據(jù)段中包含的具有所述轉(zhuǎn)換源比特模式的數(shù)據(jù)段轉(zhuǎn)換成為具有與所述轉(zhuǎn)換源比特模式相關(guān)聯(lián)的轉(zhuǎn)換目標(biāo)比特模式的轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)段。

根據(jù)本發(fā)明的一個方面，實現(xiàn)了降低存儲介質(zhì)的出錯率的效果。

附圖說明

圖1是根據(jù)第一實施方式的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法的例子的示意圖；

圖2是第二實施方式的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法的例子的示意圖；

圖3是存儲裝置300的硬件配置的例子的框圖；

圖4是計數(shù)規(guī)則400的例子的示意圖；

圖5是計數(shù)器表500的內(nèi)容的例子的示意圖；

圖6是轉(zhuǎn)換表600的內(nèi)容的例子的示意圖；

圖7是NAND控制器302的功能配置的例子的框圖；

圖8是頁格式的例子的示意圖；

圖9A和圖9B是制作轉(zhuǎn)換表600的例子的示意圖；

圖10和圖11是NAND控制302的寫過程的例子的流程圖；以及

圖12是NAND控制器302的讀取過程的例子的流程圖。

具體實施方式

將參照附圖說明本發(fā)明的優(yōu)選的實施方式。

圖1是根據(jù)第一實施方式的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法的例子的示意圖。在圖1中，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換設(shè)備101是計算機，其具有轉(zhuǎn)換向存儲介質(zhì)110寫入的數(shù)據(jù)的功能。例如，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換設(shè)備101為存儲器控制器或SSD（solid?state?drive，固態(tài)驅(qū)動器），其控制對存儲介質(zhì)110的數(shù)據(jù)的寫和讀。

存儲介質(zhì)110具有一種特性：在存儲介質(zhì)110內(nèi)存儲的兩種類型的比特值中，一種值的比特錯誤發(fā)生率高于另一種值的比特錯誤發(fā)生率。存儲介質(zhì)110例如是半導(dǎo)體存儲器，例如NAND型閃存。