[發明專利]一種IC自動燒錄裝置的空白IC放置方法

在審

• 申請號: 201310156788.0
• 申請日: 2013-04-28
• 公開（公告）號: CN103280237A
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 葉隆盛
• 申請（專利權）人: 浦創電子科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G11C16/10
• 分類號: G11C16/10
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 李悅

1.一種IC自動燒錄裝置的空白IC放置方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟A、機械手從IC物料盤內取出一空白IC，并將所述空白IC移動至一圖像傳感器的正上方；

步驟B、圖像傳感器對所述空白IC進行拍攝，獲得所述空白IC的待比對圖片；

步驟C、將待比對圖片與預設的校準圖片進行比對，若待比對圖片與校準圖片之間的夾角在匹配范圍內，則執行步驟D，若待比對圖片與校準圖片之間的夾角在匹配范圍外，則執行步驟E；

步驟D、機械手將空白IC放置到燒錄座；

步驟E、機械手將空白IC放置到IC回收盒。

2.如權利要求1所述的IC自動燒錄裝置的空白IC放置方法，其特征在于，在步驟A之前，還包括以下步驟：

步驟Z1、將校準IC放置于燒錄座；

步驟Z2、機械手從燒錄座中取出所述校準IC，并將所述校準IC移動至圖像傳感器的正上方；

步驟Z3、圖像傳感器對所述校準IC進行拍攝，獲得所述校準IC的校準圖片。

3.如權利要求2所述的IC自動燒錄裝置的空白IC放置方法，其特征在于，在步驟Z3中，所述校準圖片的獲得包括以下步驟：

步驟Z31、對圖像傳感器拍攝到的校準IC的校準圖像進行二值化處理；

步驟Z32、尋找二值化處理后的校準圖像的邊緣，并根據校準圖像的邊緣計算出校準圖像在圖像傳感器的X-Y平面坐標系中的位置；

步驟Z33、利用ROI圖像處理技術將校準圖像的范圍縮小為校準圖像的邊緣范圍，并形成校準圖片。

4.如權利要求1所述的IC自動燒錄裝置的空白IC放置方法，其特征在于，在步驟B中，所述待比對圖片的獲得包括以下步驟：

步驟B1、對圖像傳感器拍攝到的校準IC的待比對圖像進行二值化處理；

步驟B2、尋找二值化處理后的待比對圖像的邊緣，并根據待比對圖像的邊緣計算出待比對圖像在圖像傳感器的X-Y平面坐標系中的位置；

步驟B3、利用ROI圖像處理技術將待比對圖像的范圍縮小為待比對圖像的邊緣范圍，并形成待比對圖片。

5.如權利要求1所述的IC自動燒錄裝置的空白IC放置方法，其特征在于，在步驟C中，待比對圖片與校準圖片之間的夾角在匹配范圍內是指待比對圖片與校準圖片之間的夾角范圍在-a°至+b°；待比對圖片與校準圖片之間的夾角在匹配范圍外是指待比對圖片與校準圖片之間的夾角小于-a°且大于+b°，或者待比對圖片缺失；其中，a、b為非負數。

6.如權利要求5所述的IC自動燒錄裝置的空白IC放置方法，其特征在于，所述步驟D具體為：若待比對圖片與校準圖片之間的夾角為0°，則機械手直接將空白IC放置到燒錄座；若待比對圖片與校準圖片之間的夾角為非0°，則機械手根據待比對圖片與校準圖片之間的夾角所對應的角度偏移量，在X-Y平面上以反方向的角度偏移量轉動空白IC，然后才將空白IC放置到燒錄座。

7.如權利要求1所述的IC自動燒錄裝置的空白IC放置方法，其特征在于，所述圖像傳感器為CCD或CMOS。