[發(fā)明專利]一種基于球面近場掃描外推的天線方向圖測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310153288.1 | 申請日: | 2013-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN103245841A | 公開(公告)日: | 2013-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李南京;王劍飛;馮引良;李瑛;劉寧;楊博;陳衛(wèi)軍;劉琦;郭淑霞 | 申請(專利權(quán))人: | 西北工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01R29/10 | 分類號: | G01R29/10 |
| 代理公司: | 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 61204 | 代理人: | 王鮮凱 |
| 地址: | 710072 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 球面 近場 掃描 天線方向圖 測試 方法 | ||
1.一種基于球面近場掃描外推的天線方向圖測試方法,其特征在于步驟如下:
步驟1:在微波暗室中對被測天線進行近場方向圖測試,測試距離R=2m,從而得到被測天線的近場數(shù)據(jù)其中θ為測試俯仰角,為測試的方位角;
步驟2:計算天線遠場數(shù)據(jù)
其中:是天線遠場數(shù)據(jù),是球坐標(biāo)下的hankel函數(shù),是n次m階的連帶的legendre函數(shù),θ0是遠場的俯仰角,是遠場的方位角,R是近場距離,k是波數(shù),e是指數(shù)冪,j是虛數(shù),D為被測天線最大直徑;
步驟3:對步驟2計算的遠場數(shù)據(jù)進行三維作圖,得到被測天線的三維方向圖。
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