[發(fā)明專利]一種基于球面近場掃描外推的天線方向圖測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310153288.1 | 申請日： | 2013-04-28 |
| 公開（公告）號： | CN103245841A | 公開（公告）日： | 2013-08-14 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李南京;王劍飛;馮引良;李瑛;劉寧;楊博;陳衛(wèi)軍;劉琦;郭淑霞 | 申請（專利權(quán)）人： | 西北工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 61204 | 代理人： | 王鮮凱 |
| 地址： | 710072 *** | 國省代碼： | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基于 球面 近場 掃描 天線方向圖 測試 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種基于球面近場掃描外推的天線方向圖測試方法，其特征在于步驟如下：
步驟1：在微波暗室中對被測天線進行近場方向圖測試，測試距離R＝2m，從而得到被測天線的近場數(shù)據(jù)其中θ為測試俯仰角，為測試的方位角；
步驟2：計算天線遠場數(shù)據(jù)
其中：是天線遠場數(shù)據(jù)，是球坐標(biāo)下的hankel函數(shù)，是n次m階的連帶的legendre函數(shù)，θ0是遠場的俯仰角，是遠場的方位角，R是近場距離，k是波數(shù)，e是指數(shù)冪，j是虛數(shù)，D為被測天線最大直徑；
步驟3：對步驟2計算的遠場數(shù)據(jù)進行三維作圖，得到被測天線的三維方向圖。
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