[發明專利]GaAs襯底采用AlGaInN緩沖層生長三族氮化物的方法在審
| 申請號: | 201310151866.8 | 申請日: | 2013-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN103258722A | 公開(公告)日: | 2013-08-21 |
| 發明(設計)人: | 劉波;馮志紅;張雄文;敦少博;尹甲運;邢東;蔡樹軍 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第十三研究所 |
| 主分類號: | H01L21/205 | 分類號: | H01L21/205;C30B29/40;C30B25/02 |
| 代理公司: | 石家莊國為知識產權事務所 13120 | 代理人: | 李榮文 |
| 地址: | 050051 *** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | gaas 襯底 采用 algainn 緩沖 生長 氮化物 方法 | ||
1.一種GaAs襯底采用AlGaInN緩沖層生長三族氮化物的方法,其特征在于包括如下工藝步驟:
(1)在GaAs襯底上直接生長AlGaInN緩沖層或者先生長GaAs形核層后再生長AlGaInN緩沖層;
(2)在AlGaInN緩沖層上生長三族氮化物層。
2.根據權利要求1所述的GaAs襯底采用AlGaInN緩沖層生長三族氮化物的方法,其特征在于所述GaAs形核層的生長方式為:先生長低溫GaAs層再生長高溫GaAs層或者直接生長低溫GaAs層或者直接生長高溫GaAs層。
3.根據權利要求1所述的GaAs襯底采用AlGaInN緩沖層生長三族氮化物的方法,其特征在于所述三族氮化物層的生長方式為低溫生長或高溫生長。
4.根據權利要求1所述的GaAs襯底采用AlGaInN緩沖層生長三族氮化物的方法,其特征在于所述三族氮化物為GaN、AlN、InN中的一種。
5.根據權利要求1所述的GaAs襯底采用AlGaInN緩沖層生長三族氮化物的方法,其特征在于生長氣氛為以三甲基鋁作為Al源、三甲基銦作為In源、以氨氣作為N源,以氮氣、氫氣或者氮氫混合氣為載體。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





