[發明專利]一種波長色散X熒光光譜儀的分光系統

無效

• 申請號: 201310150280.X
• 申請日: 2013-04-26
• 公開（公告）號: CN103245684A
• 公開（公告）日: 2013-08-14
• 發明（設計）人: 楊東華
• 申請（專利權）人: 楊東華
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411
• 代理人: 鄭自群

技術領域

本發明涉及光譜儀領域，尤其涉及一種波長色散X熒光光譜儀的分光系統。

背景技術

波長色散X熒光光譜儀是一種精確分析元素含量成份的精密儀器，廣泛應用于環保、地質、礦物、冶金、水泥、電子、石化、高分子、食品、藥物以及高科技材料等領域，在產品研究開發、生產過程監控與質量管理等方面起著重要的作用。晶體分光系統是該儀器的核心裝置。其工作原理是將樣品中被X射線管激發出的各組份元素特征X射線通過前入射準直器入射到分光器中，在分光器中有一塊對應待測元素的晶體，將符合待測元素的X射線熒光聚焦出射到計數管中，計數管將X射線光能信號轉為電信號經過前主放放大傳輸到脈沖高度處理器處理，由專業的波譜測試軟件分析出精確的含量。

發明內容

本發明的目的是提供一種波長色散X熒光光譜儀的分光系統，其通過兩塊晶體消除非布拉格散射線，使波長色散X熒光光譜儀具有高分辨率的優勢。

本發明的技術方案是這樣實現的：

一種波長色散X熒光光譜儀的分光系統，包括依次連接的入射準直器、分光器盒、出射準直器和計數管，所述分光器盒設置有互相連通的第一腔體和第二腔體；所述第一腔體設置有第一托板角度調節裝置，所述第一托板角度調節裝置包括第一底座、設置于所述第一底座上的第一晶體托板、設置于所述第一晶體托板上的第一晶體、第一手動調節軸，所述第一手動調節軸與所述第一底座連接，所述第一底座設置于所述第一腔體的頂部；所述第二腔體設置有第二托板角度調節裝置，所述第二托板角度調節裝置包括第二底座、設置于所述第二底座上的第二晶體托板、設置于所述第二晶體托板上的第二晶體、第二手動調節軸，所述第二手動調節軸與所述第二底座連接，所述第二底座設置于所述第二腔體的底部。

優選地，所述第一底座上設置有第一調節槽，第一手動調節軸插入所述第一調節槽與所述第一晶體托板抵觸連接。

優選地，所述第一晶體托板與所述第一底座通過第一彈性片連接。

優選地，所述第二底座上設置有第二調節槽，第二手動調節軸插入所述第二調節槽與所述第二晶體托板抵觸連接。

優選地，所述第二晶體托板與所述第二底座通過第二彈性片連接。

優選地，所述入射準直器設置有入射孔。

優選地，所述入射孔為方形孔。

優選地，所述出射準直器設置有出射孔。

優選地，所述出射孔為方形孔。

本發明產生的有益效果是：

本發明提出的波長色散X熒光光譜儀的分光系統是使用兩塊晶體消除非布拉格散射線、結構簡易且真空密封度可靠的分光系統，其具體效果表現在以下幾點：

1、加入晶體角度調節裝置消除機械加工中的公差影響及理論計算帶來的誤差；

2、入射準直器方形孔的設計，加強入射到計數管的X射線熒光強度，提前計數率；

3、晶體托板角度調節裝置帶來手動操作的方便性且易控制。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明一種波長色散X熒光光譜儀的分光系統的一個實施例剖視結構示意圖；

圖中：1入射準直器；11第一密封槽；12第二密封槽；2分光器盒；21第一托板角度調節裝置；211第一底座；212第一晶體托板；213第一晶體；214第一手動調節軸；22第二托板角度調節裝置；221第二底座；222第二晶體托板；223第二晶體；224第二手動調節軸；3出射準直器；31第三密封槽；32第四密封槽；4計數管。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。