[發明專利]一種自電容式觸摸屏的重壓處理方法、系統有效
| 申請號: | 201310148096.1 | 申請日: | 2013-04-25 |
| 公開(公告)號: | CN104123047B | 公開(公告)日: | 2017-04-12 |
| 發明(設計)人: | 林建軍;龍文勇;趙志亮;劉衛平 | 申請(專利權)人: | 敦泰科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/044 | 分類號: | G06F3/044 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標事務所44237 | 代理人: | 張全文 |
| 地址: | 開曼群島大開曼*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電容 觸摸屏 重壓 處理 方法 系統 | ||
1.一種自電容式觸摸屏的重壓處理方法,其特征在于,所述方法包括:
檢測單層導電電極中、各通道的感應電容相對自電容的變化量;
提取各通道的所述變化量中的最大值,以及與所述最大值對應的通道相鄰的兩個通道的變化量,之后計算閾值關系式的值,所述閾值關系式將觸摸閾值,以及與所述最大值對應的通道相鄰的兩個通道的變化量中、較小的變化量作為變量;
若所述最大值不大于所述閾值關系式的值,則識別引起當前變化量的點為假點并濾除所述假點。
2.如權利要求1所述的自電容式觸摸屏的重壓處理方法,其特征在于,所述閾值關系式表示為:
Diff_ref×Ratio+Q
其中,所述Diff_ref表示與所述最大值對應的通道相鄰的兩個通道的變化量中、較小的變化量,所述Ratio表示一比例系數,所述Q表示觸摸閾值。
3.如權利要求1或2所述的自電容式觸摸屏的重壓處理方法,其特征在于,在所述識別引起當前變化量的點為假點并濾除所述假點的步驟之后,所述方法還包括:
若所述最大值大于閾值關系式的值,則識別引起當前變化量的點為真實的觸摸點;
計算當前所述觸摸點的原始坐標值;
根據各通道的所述變化量,計算每一與觸摸無關的通道上、與觸摸無關的壓力值;
根據所述壓力值、水平分辨率和垂直分辨率,對當前所述觸摸點的所述原始坐標值進行偏移補償,得到當前所述觸摸點的實際坐標值。
4.如權利要求3所述的自電容式觸摸屏的重壓處理方法,其特征在于,所述根據各通道的所述變化量,計算每一與觸摸無關的通道上、與觸摸無關的壓力值的步驟包括:
計算各通道的所述變化量之和,得到第一總和值;
計算各通道的所述變化量中的最大值、以及與所述最大值對應的通道相鄰的兩個通道的變化量之和,得到第二總和值;
計算所述第一總和值與所述第二總和值之差,得到與觸摸無關的壓力總值;
計算除所述最大值對應的通道及其相鄰兩個通道之外的其它通道的數量;
將所述與觸摸無關的壓力總值除以所述其它通道的數量,得到每一與觸摸無關的通道上、與觸摸無關的壓力值。
5.如權利要求3所述的自電容式觸摸屏的重壓處理方法,其特征在于,所述根據所述壓力值、水平分辨率和垂直分辨率,對當前所述觸摸點的所述原始坐標值進行偏移補償,得到當前所述觸摸點的實際坐標值的步驟包括:
根據水平分辨率和原始坐標值的橫坐標,計算引起偏移的水平位置因素;
根據垂直分辨率和原始坐標值的縱坐標,計算引起偏移的垂直位置因素;
計算所述水平位置因素、所述垂直位置因數與所述壓力值的乘積,之后除以一常數,得到偏移量;
利用所述偏移量,對所述原始坐標值進行偏移補償,得到當前所述觸摸點的實際坐標值。
6.如權利要求5所述的自電容式觸摸屏的重壓處理方法,其特征在于,所述單層導電電極具有兩列橫三角圖案;所述水平位置因素Cx滿足:Cx=|X0-Xmax/2|,所述X0為所述原始坐標值中的原始橫坐標,所述Xmax為所述水平分辨率;所述垂直位置因素Cy滿足:Cy=Ymax/2-|Y0-Ymax/2|,所述Y0為所述原始坐標值中的原始縱坐標,所述Ymax為所述垂直分辨率;
當X0<Xmax/2時,所述實際坐標值中的實際橫坐標X1滿足:X1=X0-△X,當X0>Xmax/2時,所述實際坐標值中的實際橫坐標X1滿足:X1=X0+△X,所述△X為所述偏移量;所述實際坐標值中的實際縱坐標Y1滿足:Y1=Y0。
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