[發(fā)明專利]基于穩(wěn)態(tài)分析的半球向全發(fā)射率與導(dǎo)熱系數(shù)的測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310146537.4 | 申請日: | 2013-04-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103245692A | 公開(公告)日: | 2013-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 符泰然;湯龍生;段明皓;王忠波;談鵬;周金帥;鄧興凱 | 申請(專利權(quán))人: | 清華大學(xué);北京機(jī)電工程研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N25/20 | 分類號(hào): | G01N25/20 |
| 代理公司: | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 韓國勝 |
| 地址: | 100084 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 穩(wěn)態(tài) 分析 半球 發(fā)射 導(dǎo)熱 系數(shù) 測量方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及導(dǎo)體材料半球向全發(fā)射率測量領(lǐng)域,尤其涉及一種基于穩(wěn)態(tài)量熱分析的導(dǎo)體材料半球向全發(fā)射率與導(dǎo)熱系數(shù)的同時(shí)測量反演方法。
背景技術(shù)
半球向全發(fā)射率是材料的重要熱物性參數(shù)之一,表征了材料的表面熱輻射能力,是研究輻射測量、輻射熱傳遞以及熱效率分析的重要基礎(chǔ)物性數(shù)據(jù)。隨著新型材料在能源動(dòng)力和航空航天等高新技術(shù)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,對半球向全發(fā)射率的測量提出了更多迫切需求,相比于其他熱物性參數(shù)而言,半球向全發(fā)射率測量方法與技術(shù)研究仍不夠充分,不同材料的半球向全發(fā)射率數(shù)據(jù)依然缺乏,需要通過精確實(shí)驗(yàn)測量獲得物體的半球向全發(fā)射率。
目前,材料半球向全發(fā)射率的測量方法主要有輻射光譜法和量熱法。量熱法因其設(shè)備結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,精確度較高被廣泛應(yīng)用,其又可分為瞬態(tài)量熱法和穩(wěn)態(tài)量熱法。穩(wěn)態(tài)量熱法的實(shí)驗(yàn)原理是通過測量樣品在熱平衡狀態(tài)下的換熱量和表面溫度,計(jì)算出材料表面的半球向全發(fā)射率,國內(nèi)外研究者采用了不同的樣品規(guī)格和加熱方式,形成了多種穩(wěn)態(tài)量熱技術(shù)應(yīng)用模式。例如:
a.在真空室中利用加熱片對材料底面進(jìn)行加熱,通過測量電流、電壓以及材料上表面溫度,計(jì)算材料的全波長發(fā)射率;
b.將兩片樣品薄片緊貼在加熱片的兩面,利用加熱片的導(dǎo)線將其懸掛在真空室中,通以電流加熱,通過測量電功率以及材料表面溫度,求解半球向全發(fā)射率;
c.選取細(xì)長帶狀樣品在真空環(huán)境下通電加熱(稱之為熱絲法),將帶狀樣品的中央溫度較均勻的區(qū)域視為測試分析區(qū)域,進(jìn)而保證了樣品測試分析區(qū)域的溫度和能量測量的準(zhǔn)確性。目前已有人測量出了了氧化和非氧化的鉻鎳鐵合金718樣品、304號(hào)不銹鋼和鉬等材料的發(fā)射率,但材料的種類數(shù)量有限,且必須知道材料的導(dǎo)熱系數(shù),這就局限了這種測量方法的測量范圍和測量效果。
在基于穩(wěn)態(tài)量熱分析的導(dǎo)體材料半球向全發(fā)射率的測量計(jì)算模型中,帶狀樣品測試區(qū)的導(dǎo)熱熱損失校正是需考慮的關(guān)鍵環(huán)節(jié),然而,當(dāng)所測試材料的導(dǎo)熱系數(shù)為未知時(shí),如何解決樣品測試區(qū)的導(dǎo)熱熱損失校準(zhǔn)將是材料半球向全發(fā)射率求解所面臨的主要困難之一。因此,針對于導(dǎo)熱系數(shù)未知情形下的導(dǎo)體材料測試而言,發(fā)展一種高溫半球向全發(fā)射率和導(dǎo)熱系數(shù)同時(shí)測量的方法,將是非常必要的。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題
本發(fā)明的目的是提供一種基于穩(wěn)態(tài)分析的半球向全發(fā)射率與導(dǎo)熱系數(shù)的測量方法,以克服現(xiàn)有的穩(wěn)態(tài)量熱法測量半球向全發(fā)射率時(shí),在未知樣品導(dǎo)熱系數(shù)的情況下,無法進(jìn)行樣品測試區(qū)導(dǎo)熱熱損失校準(zhǔn)的問題。
(二)技術(shù)方案
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種基于穩(wěn)態(tài)分析的半球向全發(fā)射率與導(dǎo)熱系數(shù)的測量方法,所述方法的步驟包括:
S1.選取一個(gè)細(xì)長帶狀的導(dǎo)體材料樣品,在真空環(huán)境下通電加熱,選取所述樣品中間的一段區(qū)域?yàn)闇y試區(qū),根據(jù)穩(wěn)態(tài)量熱法建立所述樣品的穩(wěn)態(tài)能量平衡方程;
S2.將所述樣品的半球向全發(fā)射率和導(dǎo)熱系數(shù)分別表示為關(guān)于溫度的數(shù)學(xué)函數(shù),以函數(shù)中的待定參數(shù)來定量表征樣品的半球向全發(fā)射率與導(dǎo)熱系數(shù)的特征;
S3.在不同穩(wěn)態(tài)溫度條件下進(jìn)行多組穩(wěn)態(tài)測量實(shí)驗(yàn),構(gòu)造出多個(gè)不同穩(wěn)態(tài)溫度條件下的穩(wěn)態(tài)能量平衡方程,形成一個(gè)穩(wěn)態(tài)能量平衡方程組,樣品半球向全發(fā)射率函數(shù)和導(dǎo)熱系數(shù)函數(shù)中的待定參數(shù)為所述方程組中的未知數(shù);
S4.利用數(shù)值求解算法求出樣品半球向全發(fā)射率函數(shù)和導(dǎo)熱系數(shù)函數(shù)中的待定參數(shù),得到所述樣品關(guān)于溫度的半球向全發(fā)射率函數(shù)和導(dǎo)熱系數(shù)函數(shù),從而確定所述樣品在不同穩(wěn)態(tài)溫度條件下的半球向全發(fā)射率和導(dǎo)熱系數(shù)。
其中,所述步驟S1中的穩(wěn)態(tài)能量平衡方程為:
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