[發(fā)明專(zhuān)利]薄型功率器件及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310143571.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-04-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104124221A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 龔玉平;薛彥迅;魯明朕;黃平;魯軍;哈姆扎·耶爾馬茲 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 萬(wàn)國(guó)半導(dǎo)體(開(kāi)曼)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L23/488 | 分類(lèi)號(hào): | H01L23/488;H01L23/498;H01L23/13;H01L21/48;H01L21/60 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人: | 竺路玲 |
| 地址: | 英屬西印度群島開(kāi)曼群島大*** | 國(guó)省代碼: | 開(kāi)曼群島;KY |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 功率 器件 及其 制備 方法 | ||
1.一種薄型功率器件,其特征在于,包括:
一基板,及設(shè)置在基板正面的第一套接觸焊盤(pán)和設(shè)置在基板背面的第二套接觸焊盤(pán),第一套接觸焊盤(pán)中的多個(gè)接觸焊盤(pán)分別相對(duì)應(yīng)的與第二套接觸焊盤(pán)中的一部分接觸焊盤(pán)電性連接;
一貫穿基板厚度的開(kāi)口,所述開(kāi)口對(duì)準(zhǔn)第二套接觸焊盤(pán)中的沒(méi)有與第一套接觸焊盤(pán)中任何接觸焊盤(pán)進(jìn)行電性連接的一個(gè)接觸焊盤(pán),并從開(kāi)口中暴露出該接觸焊盤(pán)的局部區(qū)域;
一嵌入在所述開(kāi)口中的芯片,所述芯片背面的背部金屬層粘附在第二套接觸焊盤(pán)中的暴露于所述開(kāi)口中的接觸焊盤(pán)上;
多個(gè)導(dǎo)電結(jié)構(gòu),將芯片正面的多個(gè)電極分別相對(duì)應(yīng)的電性連接到第一套接觸焊盤(pán)中的多個(gè)接觸焊盤(pán)上。
2.如權(quán)利要求1所述的薄型功率器件,其特征在于,在所述開(kāi)口的位于芯片周邊外側(cè)的剩余空間中填充有填充材料;以及
所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)為氣溶膠,任意一電極與第一套接觸焊盤(pán)中最靠近它的接觸焊盤(pán)通過(guò)氣溶膠進(jìn)行電性連接,氣溶膠涂覆在任意一電極與第一套接觸焊盤(pán)中最靠近它的接觸焊盤(pán)之間的基板的上表面、填充材料的上表面、芯片正面的鈍化層上。
3.如權(quán)利要求2所述的薄型功率器件,其特征在于,還包括一包覆在基板正面的塑封層,并將芯片、填充材料、導(dǎo)電結(jié)構(gòu)包覆在內(nèi)。
4.如權(quán)利要求1所述的薄型功率器件,其特征在于,所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)為金屬片或鍵合引線或帶狀的導(dǎo)電帶。
5.如權(quán)利要求4所述的薄型功率器件,其特征在于,還包括一包覆在基板正面的塑封層,將芯片、導(dǎo)電結(jié)構(gòu)包覆在內(nèi),并且塑封層的一部分填充在所述開(kāi)口的位于芯片周邊外側(cè)的剩余空間中。
6.如權(quán)利要求1所述的薄型功率器件,其特征在于,第一套接觸焊盤(pán)中任一接觸焊盤(pán)和第二套接觸焊盤(pán)中與其交疊的一個(gè)接觸焊盤(pán)之間的基板中形成有通孔或溝槽,并在通孔或溝槽內(nèi)形成有導(dǎo)電的互連結(jié)構(gòu),以使第一套接觸焊盤(pán)中任一接觸焊盤(pán)和第二套接觸焊盤(pán)中與之交疊的接觸焊盤(pán)形成電性連接。
7.一種薄型功率器件的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟S1、提供一基板,在基板的正面和背面分別設(shè)置第一套接觸焊盤(pán)和第二套接觸焊盤(pán),利用埋置在基板內(nèi)的互連結(jié)構(gòu),將第一套接觸焊盤(pán)中的多個(gè)接觸焊盤(pán)相對(duì)應(yīng)的與第二套接觸焊盤(pán)中的一部分接觸焊盤(pán)進(jìn)行電性連接;
其中,在基板上形成有一貫穿基板厚度的開(kāi)口,所述開(kāi)口對(duì)準(zhǔn)第二套接觸焊盤(pán)中的沒(méi)有與第一套接觸焊盤(pán)中任何接觸焊盤(pán)進(jìn)行電性連接的一個(gè)接觸焊盤(pán),并在開(kāi)口中暴露出該接觸焊盤(pán)的局部區(qū)域;
步驟S2、將一芯片嵌入在所述開(kāi)口中,將所述芯片背面的背部金屬層粘附在第二套接觸焊盤(pán)中的暴露于所述開(kāi)口中的接觸焊盤(pán)上;
步驟S3、利用多個(gè)導(dǎo)電結(jié)構(gòu),將芯片正面的多個(gè)電極分別相對(duì)應(yīng)的電性連接到第一套接觸焊盤(pán)中的多個(gè)接觸焊盤(pán)上。
8.如權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,在步驟S2之后,還包括在所述開(kāi)口的位于芯片周邊外側(cè)的剩余空間中填充有填充材料的步驟;
以及在步驟S3中,使任意一電極與第一套接觸焊盤(pán)中最靠近它的接觸焊盤(pán)通過(guò)氣溶膠的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)進(jìn)行電性連接,氣溶膠涂覆在任意一電極與第一套接觸焊盤(pán)中最靠近它的接觸焊盤(pán)之間的基板的上表面、填充材料的上表面、芯片正面的鈍化層上。
9.如權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)為金屬片或帶狀的導(dǎo)電帶或鍵合引線;
在步驟S3中,每個(gè)導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的兩端分別粘附或鍵合在一個(gè)電極上和第一套接觸焊盤(pán)中的最靠近該電極的一個(gè)相應(yīng)的接觸焊盤(pán)上。
10.如權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,第一套接觸焊盤(pán)中任一接觸焊盤(pán)和第二套接觸焊盤(pán)中與其交疊的一個(gè)接觸焊盤(pán)之間的基板中形成有通孔或溝槽,并在通孔或溝槽內(nèi)形成有導(dǎo)電的互連結(jié)構(gòu),以使第一套接觸焊盤(pán)中任一接觸焊盤(pán)和第二套接觸焊盤(pán)中的與之交疊的一個(gè)接觸焊盤(pán)形成電性連接。
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