[發明專利]X波段高功率微波一體化輻射場測量系統有效
| 申請號: | 201310143176.8 | 申請日: | 2013-04-22 |
| 公開(公告)號: | CN103995187A | 公開(公告)日: | 2014-08-20 |
| 發明(設計)人: | 史鵬飛;蔣廷勇;劉小龍;李鵬輝;閆軍凱;葉虎;景洪;晏峰 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍63655部隊 |
| 主分類號: | G01R29/08 | 分類號: | G01R29/08;G01R21/133 |
| 代理公司: | 西北工業大學專利中心 61204 | 代理人: | 顧潮琪 |
| 地址: | 841700 新疆維吾*** | 國省代碼: | 新疆;65 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 波段 功率 微波 一體化 輻射 測量 系統 | ||
1.一種X波段高功率微波一體化輻射場測量系統,包括天線、波導衰減器、波導同軸轉換器、程控衰減器、同軸衰減器、檢波器、數字轉換器、單板電腦、光纖收發器和監控計算機,其特征在于:高功率微波輻射場信號由天線接收后,經過波導衰減器進行功率衰減,經過波導同軸轉換器傳輸至程控衰減器,再依次經過程控衰減器和同軸衰減器進行功率衰減,由檢波器檢出高功率微波輻射場信號的包絡波形,該包絡波形由數字轉換器采集后發送給單板電腦,計算出天線所處位置的高功率微波輻射場功率密度值,監控計算機通過光纖收發器對數字轉換器的采集波形、溫度傳感器采集的環境實時溫度進行監視;對數字轉換器的參數和程控衰減器的衰減量進行控制。
2.根據權利要求1所述的X波段高功率微波一體化輻射場測量系統,其特征在于:
所述天線所處位置的高功率微波輻射場功率密度值,
W——天線所處位置的高功率微波輻射場功率密度值;
G——天線增益;
Aw——波導衰減器的衰減量;
ILw-c——波導同軸轉換器的插入損耗;
Ap——程控衰減器的衰減量;
Ac——同軸衰減器的衰減量;
Pd——檢波波形幅度對應的輸入功率值;
S——天線有效接收面積。
3.根據權利要求1所述的X波段高功率微波一體化輻射場測量系統,其特征在于:進入所述波導同軸轉換器的信號的平均功率不大于30dBm或峰值功率不大于50dBm。
4.根據權利要求1所述的X波段高功率微波一體化輻射場測量系統,其特征在于:所述程控衰減器的衰減量按照1dB的步進,在0~11dB范圍內連續調節。
5.根據權利要求1所述的X波段高功率微波一體化輻射場測量系統,其特征在于:所述檢波器輸入信號頻率范圍:DC~18GHz,波形輸出幅度小于150mV,響應時間小于2ns。
6.根據權利要求1所述的X波段高功率微波一體化輻射場測量系統,其特征在于:所述數字轉換器選用的帶寬:500MHz,最高采樣率:2GS/s,能夠完成對檢波器輸出波形的不失真采樣。
7.根據權利要求1所述的X波段高功率微波一體化輻射場測量系統,其特征在于:所述的波導同軸轉換器、程控衰減器、同軸衰減器、檢波器、數字轉換器、單板電腦、光纖收發器和溫度傳感器安裝在電磁防護體內,電磁防護體包括殼體和殼蓋,殼體為上端開口的長方體空腔,底部外側有一凸臺,凸臺頂面尺寸等于波導同軸轉換器的法蘭端面尺寸,凸臺上開一矩形貫通孔,波導同軸轉換器的同軸接口一端從殼體外側插沿矩形貫通孔插入殼體,直到波導同軸轉換器的法蘭端面同凸臺頂面搭接,法蘭和凸臺沿搭接縫隙進行360°焊接,焊接采用氣體保護焊或真空焊接,波導同軸轉換器的法蘭端面開四個非貫通的螺釘孔,用以和波導衰減器的法蘭連接和緊固;殼蓋與殼體上端開口吻合,外沿焊有三層鈹銅彈簧片,實現殼蓋和殼體的良好電接觸,殼體上端開口處的邊沿高出殼蓋1.5cm。
8.根據權利要求1所述的X波段高功率微波一體化輻射場測量系統,其特征在于:用定向耦合器代替波導衰減器,或定向耦合器串接波導衰減器一起使用來完成對高功率微波輻射場信號的衰減。
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