[發(fā)明專利]一種利用線極化天線測量圓極化天線軸比的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310136747.5 | 申請日： | 2013-04-19 |
| 公開（公告）號： | CN103235194A | 公開（公告）日： | 2013-08-07 |
| 發(fā)明（設計）人： | 李南京;馮引良;王劍飛;李瑛;劉寧;楊博;陳衛(wèi)軍;劉琦;郭淑霞 | 申請（專利權(quán)）人： | 西北工業(yè)大學 |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 西北工業(yè)大學專利中心 61204 | 代理人： | 王鮮凱 |
| 地址： | 710072 *** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 利用 極化 天線 測量 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種利用線極化天線測量圓極化天線軸比的方法，其特征在于步驟如下：
步驟1：在微波暗室中，選取極化方向已知的線極化天線作為輔助天線，依次使線極化天線的極化狀態(tài)與x,y,u,v四個極化方向相同，所述x方向與y方向相互正交，u方向與v方向相互正交；x方向與u方向的夾角為45度；
步驟2：對待測圓極化天線在輔助天線的四個極化狀態(tài)下進行天線方向圖測量，得到待測圓極化天線的輻射值Ex(θ)、Ey(θ)、Eu(θ)、Ev(θ)，其中θ為測試方位角；
步驟3：計算待測圓極化天線的傾角
步驟4：得到待測圓極化天線的軸比AR(θ)
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