[發(fā)明專利]一種模塊化多電平換流器的子模塊故障診斷方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310132795.7 | 申請(qǐng)日: | 2013-04-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103235219A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-08-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙成勇;李探;王朝亮;徐潔;鄭容皓;白承澤;袁震 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華北電力大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R31/02 |
| 代理公司: | 北京眾合誠(chéng)成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11246 | 代理人: | 陳波 |
| 地址: | 102206 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 模塊化 電平 換流 模塊 故障診斷 方法 | ||
1.一種模塊化多電平換流器的子模塊故障診斷方法,其特征在于,所述方法具體包括以下步驟:
步驟1:針對(duì)子模塊的典型故障進(jìn)行故障特性分析;
步驟2:在子模塊控制器SMC中配置子模塊故障診斷單元SFDU,通過(guò)電容電壓、橋臂電流及此時(shí)的觸發(fā)信號(hào),結(jié)合所提出的子模塊故障診斷判據(jù),實(shí)現(xiàn)IGBT短路、IGBT開(kāi)路、FWD短路和電容失效故障的診斷;
步驟3:在閥基控制器VBC中采用排除法實(shí)現(xiàn)子模塊FWD開(kāi)路、電容開(kāi)路失效及連接線開(kāi)路故障的診斷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的子模塊故障診斷方法,其特征在于,所述通過(guò)子模塊電容電壓、橋臂電流及此時(shí)的觸發(fā)信號(hào),結(jié)合所提出的子模塊故障診斷指標(biāo),實(shí)現(xiàn)子模塊故障的診斷的具體過(guò)程為:
步驟201:根據(jù)橋臂電流得到正常運(yùn)行時(shí)流過(guò)子模塊電容的電流ic;所述流過(guò)子模塊電容的電流ic的計(jì)算公式為:
ic=Sniarm
其中,Sn為正常運(yùn)行時(shí)的基于模塊化多電平換流器的高壓直流輸電系統(tǒng)MMC-HVDC系統(tǒng)中描述第n個(gè)子模塊開(kāi)通和關(guān)斷狀態(tài)的開(kāi)關(guān)函數(shù),iarm為橋臂電流;
步驟202:在步驟201的基礎(chǔ)上,結(jié)合子模塊電容電壓的計(jì)算公式,得到在第k個(gè)采樣時(shí)刻和第k+1個(gè)采樣時(shí)刻子模塊電容電壓之間的關(guān)系;
所述子模塊電容電壓uc的計(jì)算公式為:
其中,u0為子模塊電容電壓0時(shí)刻的初始值;C為電容;ic(t)為t時(shí)刻流過(guò)子模塊電容的電流;
所述第k個(gè)采樣時(shí)刻和第k+1個(gè)采樣時(shí)刻子模塊電容電壓之間的關(guān)系為:
其中,uc(k)為第k個(gè)采樣時(shí)刻時(shí)子模塊的電容電壓值;uc(k+1)為第k+1個(gè)采樣時(shí)刻時(shí)子模塊的電容電壓值;Ts為系統(tǒng)采樣周期;C為電容;ic(t)為t時(shí)刻流過(guò)子模塊電容的電流;Sn(k)為k時(shí)刻基于模塊化多電平換流器的高壓直流輸電系統(tǒng)MMC-HVDC系統(tǒng)中描述第n個(gè)子模塊開(kāi)通和關(guān)斷狀態(tài)的開(kāi)關(guān)函數(shù),iarm(k)為第k個(gè)采樣時(shí)刻的橋臂電流;iarm(k+1)為第k+1個(gè)采樣時(shí)刻的橋臂電流;
步驟203:根據(jù)任一時(shí)刻比上一時(shí)刻的電容電壓的增量的理論值和實(shí)際值實(shí)現(xiàn)故障診斷;
所述實(shí)現(xiàn)故障診斷的過(guò)程為:
步驟2031:定義電容電壓增量的理論值為實(shí)際值為λ2=uc(k+1)-uc(k);
步驟2032:提出子模塊故障診斷指標(biāo)λ,并根據(jù)計(jì)算得到的λ的值進(jìn)行故障診斷:
當(dāng)滿足
σ1<λ<σ2
其中,σ1為第一設(shè)定值;σ2為第二設(shè)定值;
則子模塊故障診斷單元SFDU診斷為子模塊正常運(yùn)行,否則診斷為子模塊故障。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華北電力大學(xué),未經(jīng)華北電力大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310132795.7/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





