[發明專利]電子水準儀無效
| 申請號： | 201310131110.7 | 申請日： | 2013-04-16 |
| 公開（公告）號： | CN103376091A | 公開（公告）日： | 2013-10-30 |
| 發明（設計）人： | 松本辰行;東海林直樹;石黑雄之 | 申請（專利權）人： | 株式會社拓普康 |
| 主分類號： | G01C5/02 | 分類號： | G01C5/02 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 馬紅梅;盧江 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電子 水準儀 | ||
1.一種電子水準儀，用于接收來自在水準尺上標記的圖案的反射光并用于確定瞄準位置的高度和與所述水準尺的距離，所述電子水準儀包括：電子水準儀主單元；瞄準光學系統，其容納在所述電子水準儀主單元中并用于瞄準所述水準尺；線傳感器，用于接收反射光的一部分；以及控制演算單元，用于基于來自所述線傳感器的信號來計算瞄準位置的高度和與所述水準尺的距離，并用于控制粗略測量模式和精確測量模式中的測量，其中，所述粗略測量模式由所述控制演算單元發起，并且，通過利用測量、基于來自所述線傳感器的光電檢測信號檢測所述圖案，將測量模式轉換至所述精確測量模式。
2.根據權利要求1所述的電子水準儀，其中，所述控制演算單元在所述粗略測量模式中基于來自所述線傳感器的光電檢測信號來檢測所述水準尺，并通過檢測所述圖案來改變至所述精確測量模式，并且在不能通過所述光電檢測信號檢測到所述水準尺的情況下，將測量模式改變至所述粗略測量模式。
3.根據權利要求1或2所述的電子水準儀，其中，所述瞄準光學系統具有物鏡單元和目鏡單元，并且所述物鏡單元具有有著更深的景深的光學系統。
4.根據權利要求3所述的電子水準儀，還包括用于執行設置的操作單元和用于顯示測量結果的顯示單元，其中，所述操作單元、所述顯示單元和所述目鏡單元被布置在所述電子水準儀主單元的上表面上。
5.根據權利要求3所述的電子水準儀，還包括用于執行設置的操作單元和用于顯示測量結果的顯示單元，其中，所述操作單元、所述顯示單元和所述目鏡單元被布置在所述電子水準儀主單元的后表面部分上，并且所述后表面部分能夠旋轉，以便沿向上方向指向。
6.根據權利要求1至5之一所述的電子水準儀，還包括激光發射機構，所述激光發射機構用于與所述瞄準光學系統的光軸平行地發射引導激光束。
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