[發明專利]LED測試用的矩陣檢測電路

有效

• 申請號: 201310130693.1
• 申請日: 2013-04-15
• 公開（公告）號: CN103235252A
• 公開（公告）日: 2013-08-07
• 發明（設計）人: 何選民
• 申請（專利權）人: 何選民
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳市金筆知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 44297
• 代理人: 胡清方;彭友華

技術領域

本發明涉及一種LED檢測電路，特別是一種成本低，檢測出的LED導通電壓一致性好的LED測試用的矩陣檢測電路。

背景技術

Led在出廠前需要進行檢測，根據檢測的結果進行分類后出廠，以滿足客戶的不同要求，對于以單個形式分光的LED其檢測已不存在任何問題；為了滿足客戶的特別要求，現在以多顆LED不同組合一起分光的LED組件也越來越多，對于這種多組合的LED組件的電學和光學性能測試，一般采用如下兩種方式，一種是并聯式，一種共極式。

下面以三芯片led為例，來分別說明并聯式和共極式測試電路的缺陷；如圖15和圖16所示是現有并聯式測方式的示意圖，圖中，P1至P6分別代表第一恒流恒壓電路至第六恒流恒壓電路；T1至T3是探針A的三個測試腳，T4至T6是探針B的三個測試腳；圖中A代表LED陽極，K代表LED陰極（下同）。探針A和探針B中的一組測試腳是固定的，另一組測試腳可相對固定的測試腳平動；如圖15所示，被測試組件D1、D2和D3（D1、D2和D3分別代表三個LED）的陽極A分別與探針A的三個測試腳連接，假設探針A固定，則探針B可相于探針A平動，在探針A中D1的陽極接測試腳T1、D2的陽極接測試腳T2，D3的陽極接測試腳T3，并分別由第一恒流恒壓電路P1至第三恒流恒壓電路P3的高平腳提供高平電流，而被測試組件D1、D2和D3的陰極K分別與探針B的三個測試腳連接，并與P4至P6的低平腳連接，如此，測得被測試組件D1、D2和D3的電學和光學性能；但是，如果從振動盤過來的被測試組件D1、D2和D3方向相反，這種現象很常見，那么用現有的檢測電路就如同圖16所示，被測試組件D1、D2和D3（D1、D2和D3分別代表三個LED）的陽極A分別與探針B的三個測試腳連接，其中D1的陽極接測試腳T4、D2的陽極接測試腳T5，D3的陽極接測試腳T6，并分別由P4至P6的高平腳提供高平電流，而被測試組件D1、D2和D3的陰極K分別與探針A的三個測試腳連接，并與P1至P3的低平腳連接。比較圖15與圖16所示實例，不難看出，在圖15所示的檢測狀態下（通常稱為正向檢測），被測試組件D1、D2和D3分別由第一恒流恒壓電路P1至第三恒流恒壓電路P3的高平腳提供高平電流；而在圖16所示的檢測狀態下（通常稱為反向檢測），被測試組件D1、D2和D3分別由第四恒流恒壓電路P4至第六恒流恒壓電路P6的高平腳提供高平電流；這就是說，在正向或反向測試時，測試儀需要切換恒流恒壓電路，如此就會引入不同恒流恒壓電路之間的誤差，造成同一批次的被檢產品的測試的導通電壓誤差過大，不適合于目前對LED的該項指標的精度要求。

圖17和圖18所示是現有共極式測試方式的示意圖，圖中，P1至P4分別代表第一恒流恒壓電路至第四恒流恒壓電路；當正向檢測時，如圖17所示,由第一恒流恒壓電路P1接低平端，其它三個腳分別接第二至第四恒流恒壓電源，由第二至第四恒流恒壓電源提供高平電流進行檢測，而在反向檢測時，如圖18所示，而是由第三恒流恒壓電路P3接低平端，其它三個腳分別接第一、第二和第四恒流恒壓電源，由第一、第二和第四恒流恒壓電源提供高平電流進行檢測；這樣的結構同樣存在上述的問題，即在正向或反向測試時，需要切換恒流恒壓電路，會引入不同恒流恒壓電路之間的誤差，造成同一批次的被檢產品的導通電壓誤差過大，也不適合于目前對LED的該項指標的精度要求。

除此之外，上述的無論是并聯式和共極式測試電路都存在至少要多使用一個恒流恒壓電路，造成檢測裝置增加成本的問題。

以上分析僅以三芯片led為例，對現有的并聯式和共極式檢測電路加以了說明，實際上現有的并聯式和共極式檢測電路于n個LED（n是大于等于1的正整數）的檢測均存在上述相同的問題，即需要切換恒流恒壓電路，會引入不同恒流恒壓電路之間的誤差，造成同一批次的被檢產品的導通電壓誤差過大，也不適合于目前對LED的該項指標的精度要求；以及無論是并聯式和共極式測試電路都存在至少要多使用一個恒流恒壓電路，造成檢測裝置增加成本的問題。本文中，對于除三芯片LED外的檢測電路，不作詳細地分析，請讀者自行分析。

發明內容

為了克服上述問題，本發明向社會提供一種檢測的LED導通電壓一致性好，且至少可少用一個恒流恒壓電路的LED測試用的矩陣檢測電路。