[發明專利]顯示設備、用于補償劣化的裝置及用于補償劣化的方法有效
| 申請號: | 201310129383.8 | 申請日: | 2013-04-15 |
| 公開(公告)號: | CN103794174B | 公開(公告)日: | 2018-02-16 |
| 發明(設計)人: | 全丙起;金學善;崔溶錫;李柱亨;樸鐘雄;安寶煐;玄昌鎬 | 申請(專利權)人: | 三星顯示有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/3208 | 分類號: | G09G3/3208 |
| 代理公司: | 北京德琦知識產權代理有限公司11018 | 代理人: | 郭艷芳,康泉 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 設備 用于 補償 裝置 方法 | ||
技術領域
本發明涉及顯示設備、劣化補償設備和劣化補償方法。更具體地,本發明涉及用于補償發光元件的劣化的顯示設備、劣化補償設備及劣化補償方法。
背景技術
有機發光二極管(OLED)顯示器使用有機發光二極管(OLED)來通過電流或電壓控制亮度,并且使用薄膜晶體管來驅動有機發光二極管。有機發光二極管(OLED)包括用于形成電場的陽極層和陰極層,以及通過電場發光的有機發光材料。根據有源層的類型,將薄膜晶體管分類為非晶硅薄膜晶體管(非晶硅TFT)、低溫多晶硅(LTPS)薄膜晶體管和氧化物薄膜晶體管(TFT)。
有機發光二極管(OLED)和薄膜晶體管的劣化使像素劣化,而像素的劣化造成像素的亮度退化。當向像素施加預定的電壓時,流向像素的電流由于有機發光二極管(OLED)和薄膜晶體管的劣化而減小,并且像素的亮度退化。
考慮到像素的劣化,在交付產品時,可以將用于提供像素的驅動電流的電源電壓設置成具有大的值,并且在此情況下,在有機發光二極管(OLED)和薄膜晶體管劣化之前,也提供不必要的電壓,從而增加了顯示設備的功耗。
上面在該背景技術部分中公開的信息僅用于增進對本發明背景的理解,因此其可以包含不構成在本國對本領域技術人員已知的現有技術的信息。
發明內容
開發本發明,試圖提供一種顯示設備,一種劣化補償設備和一種劣化補償方法,以降低顯示設備的功耗和補償像素的劣化。
本發明的示例性實施例提供一種顯示設備,所述顯示設備包括:多個像素;劣化補償器,用于利用關于參考溫度的溫度權重值、關于參考亮度的亮度權重值以及關于參考材料的材料權重值,來計算所述像素的劣化率被轉換為參考劣化曲線的參考劣化率時的參考使用時間,并且用于根據所述參考使用時間生成控制變量;以及電源,用于根據所述控制變量來控制用于向所述像素供應驅動電流的第一電源電壓與第二電源電壓之間的電壓差。
所述溫度權重值表示由所述像素的測量溫度引起的劣化率與所述參考溫度下的劣化率的比率。
所述劣化補償器將與所述像素的測量溫度對應的溫度權重值存儲在查找表(LUT)中。
所述劣化補償器計算包括有關所述像素的灰度信息的圖像數據信號的平均灰度,并且計算圖像的與所述圖像數據信號的平均灰度相對應的亮度。
所述亮度權重值是由所述圖像的亮度引起的劣化率與所述參考亮度的劣化率的比率。
所述劣化補償器將與所述圖像數據信號的平均灰度相對應的亮度權重值存儲在查找表(LUT)中。
所述劣化補償器將與所述圖像的亮度相對應的亮度權重值存儲在查找表(LUT)中。
所述材料權重值是由在所述像素中包含的材料引起的劣化率與包含所述參考材料的像素的劣化率的比率。
所述劣化補償設備通過利用累積使用時間與通過將在所述像素的所述累積使用時間之后增加的附加使用時間乘以所述溫度權重值、所述亮度權重值和所述材料權重值而生成的值的和,計算所述參考使用時間。
所述劣化補償器利用所計算的參考使用時間更新所述像素的累積使用時間,并且存儲所述像素的累積使用時間。
所述劣化補償設備通過利用累積使用時間與通過將在所述像素的所述累積使用時間之后增加的附加使用時間乘以所述溫度權重值、所述亮度權重值、所述材料權重值和隨所述累積使用時間而定的時間權重值而生成的值的和,來計算所述參考使用時間。
所述電源在所述控制變量增大時降低所述第二電源電壓,以增大所述第一電源電壓與所述第二電源電壓之間的電壓差。
所述電源在所述控制變量增大時增大所述第一電源電壓,以增大所述第一電源電壓與所述第二電源電壓之間的電壓差。
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