[發明專利]具有常溫檢測與高溫檢測雙夾具的巴條測試系統

無效

• 申請號: 201310128343.1
• 申請日: 2013-04-15
• 公開（公告）號: CN104101425A
• 公開（公告）日: 2014-10-15
• 發明（設計）人: 黃秋元;馮毓偉
• 申請（專利權）人: 鎮江逸致儀器有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/04;G01J9/00;G01R31/00
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 汪旭東

1.一種具有常溫檢測與高溫檢測雙夾具的巴條測試系統，包括常溫巴條夾具（4）和巴條電性能檢測設備（9），其特征在于:還設有一高溫巴條夾具（5）和常溫巴條夾具（4）安裝在同一工作臺上。

2.如權利要求1所述的具有常溫檢測與高溫檢測雙夾具的巴條測試系統，其特征在于：還包括安裝底座（7）、上料機械手（1）、巴條自動排列機構（2）、取料機械手（3）、巴條放置臺（6），上料機械手（1）安裝在安裝底座（7）的一側，上料機械手（1）旁邊是巴條自動排列機構（2），取料機械手（3）安裝在安裝底座（7）的另一側，取料機械手（3）旁邊設有巴條房子臺（6），常溫巴條夾具（4）和高溫巴條夾具（5）位于上料機械手（1）和取料機械手（3）之間的工作區域內。

3.如權利要求1或2所述的具有常溫檢測與高溫檢測雙夾具的巴條測試系統，其特征在于：還設有巴條功率檢測設備（8）、巴條光波長采集設備（10）和巴條檢測設備工作臺（11），巴條功率檢測設備（8）、巴條光波長采集設備（10）和巴條電性能檢測設備（9）、安裝在巴條檢測設備工作臺（11）上，巴條檢測設備工作臺（11）放置在高溫巴條夾具（5）旁。

4.如權利要求3所述的具有常溫檢測與高溫檢測雙夾具的巴條測試系統，其特征在于：巴條光波長采集設備（10）上設有X軸調節旋鈕（1003）和Z軸調節旋鈕（1013），推動可調整內芯（1012）做X/Z軸方向的平移，還設有旋動調節圈（1004），通過旋動調節圈（1004），可調整透鏡（1009）在Y軸方向上的位移。

5.如權利要求3所述的具有常溫檢測與高溫檢測雙夾具的巴條測試系統，其特征在于：設有步進電機（101），用來驅動裝有巴條功率檢測設備(8)中的光功率計（801）的安裝支架（802）和巴條光波長采集設備(10)中的裝有巴條波長采集鏡頭（1001）的鏡頭固定支架（1002）做X軸方向的平移。

6.如權利要求2所述的具有常溫檢測與高溫檢測雙夾具的巴條測試系統，其特征在于：上料機械手（1）上設有上料機械手步進電機（101A）驅動上料機械手（1）上料機械手臂（102）做X軸、Y軸、Z軸移動，所述上料機械手臂（102）上并排裝有兩個真空吸盤（103）。

7.如權利要求2所述的具有常溫檢測與高溫檢測雙夾具的巴條測試系統，其特征在于：取料機械手（3）上設有取料料機械手步進電機（101B）驅動取料機械手上的取料料機械手臂（301）做Y軸、Z軸方向的平移和繞Z軸的旋轉，所述取料機械手臂（301）上并排裝有兩個真空吸盤（103’）。