[發(fā)明專利]物品缺陷檢測系統(tǒng)與方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310128183.0 | 申請日： | 2013-04-15 |
| 公開（公告）號： | CN103376265A | 公開（公告）日： | 2013-10-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李建惠 | 申請（專利權(quán)）人： | 偉特集團 |
| 主分類號： | G01N21/958 | 分類號： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 上海信好專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 張靜潔;張妍 |
| 地址： | 馬來西亞檳城峇六拜11900*** | 國省代碼： | 馬來西亞;MY |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 物品 缺陷 檢測 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)，其特征在于，包含有
????一個大體上位于物品(102)側(cè)面的光源(101)，用來投射光線以照亮部分物品(102)；
????一個用來支撐物品(102)的平臺(103)；?
????一個光傳感器(105)；以及
????一個布置在光源(101)和物品(102)之間，以一定角度向光源(101)傾斜的反射裝置(104)，用來接收從物品被照亮部分反射出的光圖像，并將光圖像投射到光傳感器(105)上；在那里，光傳感器(105)將反射過來的光圖像記錄下來，并將光圖像轉(zhuǎn)換成數(shù)字數(shù)據(jù)，以供缺陷分析之用。
2.如權(quán)利要求1所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)，其特征在于，還包含一個布置在反射裝置(104)和光源(101)之間的漫射體(107)，用來均勻地散射從光源(101)發(fā)射出的光。
3.如權(quán)利要求1所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)，其特征在于，所述物品(102)是一個LED透鏡。
4.如權(quán)利要求3所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)?，其特征在于，所述LED透鏡是圓頂型的。
5.如權(quán)利要求1所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)?，其特征在于，所述角度是與水平軸成50°到75°之間的角度。
6.如權(quán)利要求1所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)?，其特征在于，所述反射裝置是一種分光鏡。
7.如權(quán)利要求1所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)?，其特征在于，所述缺陷包括氣泡、氣隙、裂紋、劃痕、凹坑和污損中的任意一種或組合。
8.如權(quán)利要求1所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)?，其特征在于，所述光源(101)有一個大于40°的觀察角。
9.如權(quán)利要求1所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)?，其特征在于，從所述光源發(fā)出的，是波長在400nm到?750nm之間的光，或是波長在這個范圍內(nèi)的光的組合。
10.如權(quán)利要求1所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)?，其特征在于，所述光傳感器（105）是一個圖像捕捉單元。
11.如權(quán)利要求1所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)?，其特征在于，還包含一個位于光傳感器(105)之前的額外的反射裝置。
12.如權(quán)利要求1所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)?，其特征在于，光和被反射的光圖像在一條不受其他外界光干擾的光路上傳播。
13.一種物品缺陷檢測系統(tǒng)(100)?，其特征在于，包含
分別放置在物品(102)的正面、背面和兩個相對的側(cè)面的四個光源(101)，這些光源被設(shè)定成以間歇方式照亮物品(102)的每個表面；
一個用來支撐物品(102)的平臺(103)；
一個布置在每個光源(101)和該物品(102)之間的漫射體(107)，用來均勻地散射從光源(101)發(fā)射出來的光；
一個面向物品頂部的圖像捕捉單元；以及
一個布置在每個光源(101)和該物品(102)之間的反射裝置(104)，以一個與水平軸成50°到75°之間的角度向光源(101)傾斜，用來接收從物品被照亮的側(cè)面反射出來的光圖像，并且將光圖像反射到圖像捕捉單元上，在那里，圖像捕捉單元會記錄下反射過來的光圖像，并產(chǎn)生一幅表現(xiàn)物品被照亮的那個側(cè)面的視圖圖片，以供缺陷分析之用。
14.如權(quán)利要求13所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述缺陷分析通過人工檢測在產(chǎn)生的圖片上進行。
15.如權(quán)利要求13所述的物品缺陷檢測系統(tǒng)，其特征在于，還包含一個被設(shè)定成按照預(yù)先設(shè)定的缺陷分析準(zhǔn)則來分析圖片的計算機處理器。
16.一種物品缺陷檢測方法，其特征在于，包含的步驟有
將物品(102)放在平臺上(103)；
由安裝在物品(102)一個側(cè)面的第一光源(101)將光線投射到物品(102)上；
用一個布置在光源(101)和物品(102)之間，以一定角度向光源(101)傾斜的反射裝置(104)，接收從物品反射出的光圖像；
將光圖像投射到光傳感器(105)上，以便記錄光圖像，并將光圖像轉(zhuǎn)換成數(shù)字數(shù)據(jù)；以及
分析數(shù)字數(shù)據(jù)查找缺陷。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
