[發(fā)明專利]檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310122175.5
• 申請(qǐng)日: 2013-04-10
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104101275A
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-10-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張秉君
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 富泰華工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01B5/00
• 分類號(hào): G01B5/00;G01B5/20
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種檢測(cè)裝置，尤其涉及一種用于檢測(cè)工件上的開(kāi)槽及側(cè)壁之間相對(duì)位置的檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)

很多工件上設(shè)有開(kāi)槽，其槽底面為三維曲面，以與其它零部件組裝或做其它適配。工件鄰近該開(kāi)槽的一側(cè)具有側(cè)壁。運(yùn)用常用的卡尺檢測(cè)此類開(kāi)槽相對(duì)該側(cè)壁的位置時(shí)，由于卡尺于三維曲面上難以定位，使得檢測(cè)誤差較大。目前業(yè)界普遍采用一種檢測(cè)裝置對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)，這種檢測(cè)裝置包括固定座及裝設(shè)于固定座上的檢測(cè)組件。固定座的底面為定位面，當(dāng)該檢測(cè)組件插入工件時(shí)，該定位面抵持于開(kāi)槽的底面上進(jìn)而使該檢測(cè)裝置定位以進(jìn)行后續(xù)檢測(cè)。若該定位面與三維曲面底面的輪廓度匹配度不高，則檢測(cè)誤差較大。為了減小檢測(cè)誤差，需要提高檢測(cè)組件的定位面的精度要求，如此就提高了檢測(cè)裝置的制造成本。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種降低成本、減小檢測(cè)誤差的檢測(cè)裝置。

一種檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)工件上的開(kāi)槽及側(cè)壁之間相對(duì)位置，該工件還具有與該側(cè)壁相接的底壁，該開(kāi)槽開(kāi)設(shè)于該底壁鄰近該側(cè)壁處，該開(kāi)槽包括底面、第一連接面及第二連接面，該底面為三維曲面，該第一連接面與該第二連接面相對(duì)設(shè)置并通過(guò)該底面相接，該第二連接面鄰近該側(cè)壁設(shè)置，該檢測(cè)裝置包括固定座及檢測(cè)件，該檢測(cè)件沿第一方向活動(dòng)地穿設(shè)于該固定座上并露出該固定座外。該檢測(cè)裝置還包括沿與該第一方向垂直的第二方向間隔穿設(shè)并露出該固定座同一側(cè)的第一定位件及第二定位件，第一定位件遠(yuǎn)離該固定座的一端用以與該開(kāi)槽的底面及第一連接面相抵進(jìn)行定位，該第二定位件遠(yuǎn)離該固定座的一端用以與該開(kāi)槽的底面相抵進(jìn)行定位，該檢測(cè)件相對(duì)該固定座沿第一方向移動(dòng)后，該檢測(cè)件的底部與該側(cè)壁的頂部相貼合時(shí)，該工件上的開(kāi)槽與該側(cè)壁的相對(duì)位置合格。

本發(fā)明所提供的檢測(cè)裝置，第一定位件能夠與開(kāi)槽的底面及第一連接面相抵，第二定位件與能夠底面相抵，進(jìn)而能夠很好地在檢測(cè)時(shí)進(jìn)行定位。由于定位時(shí)，第一定位件與第二定位件與底面為點(diǎn)接觸，對(duì)第一定位件及第二定位件與底面相接觸端部的輪廓度與底面的匹配度要求較低，減小了檢測(cè)誤差及降低了檢測(cè)裝置的制造成本。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明實(shí)施方式的檢測(cè)裝置的立體組裝示意圖。

圖2是圖1所示檢測(cè)裝置的另一視角的立體組裝示意圖。

圖3是圖1所示檢測(cè)裝置的立體分解示意圖。

圖4是圖1所示的檢測(cè)裝置的工作狀態(tài)示意圖。

主要元件符號(hào)說(shuō)明