[發明專利]多參數現場自動測量與分選系統

有效

• 申請號: 201310110188.0
• 申請日: 2013-03-29
• 公開（公告）號: CN103212540A
• 公開（公告）日: 2013-07-24
• 發明（設計）人: 李醒飛;陳誠;譚文斌;姚旺;張起朋
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: B07C5/00
• 分類號: B07C5/00;B07C5/10;G01B11/02;G01B11/24
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 杜文茹

1.一種多參數現場自動測量與分選系統，包括有用于傳送各待測缸套類零件（6）的傳送帶（5），其特征在于，在傳送帶（5）的一側并沿傳送帶（5）的長度方向依次設置有：用于將各待測缸套類零件（6）自動輸送到傳送帶（5）上的自動上料機構（1）、用于對待測缸套類零件（6）的幾何尺寸和形位誤差進行高精度測量的第一測量工位（2）、用于獲取缸套類零件（6）的輪廓信息的第二測量工位（3）以及用于根據前面的測量結果將不同標準的缸套類零件（6）自動的進行分類甄選的自動分選機構（4）。

2.根據權利要求1所述的多參數現場自動測量與分選系統，其特征在于，在傳送帶（5）上各缸套類零件（2）之間的距離為設定的距離d，所述的距離d為確保第一測量工位（2）和第二測量工位（3）同時進入下一次測量工作。

3.根據權利要求1所述的多參數現場自動測量與分選系統，其特征在于，所述的自動上料機構（1）包括有第一機械手（11）、第二機械手（12）、振動臺（13）和振動器（14），所述的振動器（14）連接在振動臺（13）的底部，所述的第一機械手（11）、第二機械手（12）和振動臺（13）之間通過傳送槽（15）相連接的設置在傳送帶（5）的一側，并且，所述的第一機械手（11）與傳送帶（5）相平行的設置，所述的第二機械手（12）和振動臺（13）與傳送帶（5）相垂直的設置。

4.根據權利要求3所述的多參數現場自動測量與分選系統，其特征在于，所述的傳送槽（15）為T型結構，所述的第一機械手（11）和第二機械手（12）分別對應設置在T型結構傳送槽（15）的橫槽的兩端，所述的該橫槽與所述的傳送帶（5）相平行，并且，其中的第二機械手（12）是通過一個與所述的傳送帶（5）相垂直的直槽（16）與所述的傳送槽（15）相連，所述的振動臺（13）的出口對應設置在T型結構傳送槽（15）的與所述的橫槽相垂直的縱槽的底端。

5.根據權利要求1所述的多參數現場自動測量與分選系統，其特征在于，所述的第一測量工位（2）包括有：設置在傳送帶（5）的具有自動上料機構（1）一側的第一工作臺（21）和設置在傳送帶（5）另一側并與所述的第一工作臺（21）相對應的第三機械手（22），所述的第一工作臺（21）上且位于與所述的傳送帶（5）相垂直的方向設置有由機械手導軌（231）、設置在機械手導軌（231）上的機械手推手(232)和驅動機械手推手(232)沿機械手導軌（231）移動的機械手驅動電機（233）構成的第四機械手（23），在第一工作臺（21）上且位于第四機械手（23）的前面設置有用于對由第三機械手（22）推到第一工作臺（21）上的缸套類零件（6）進行定位的第一V型定位塊（24），在第一工作臺（21）上且位于第四機械手（23）的兩側相對稱的各設置有一個固定柱（25），第四機械手（23）兩側的固定柱（25）的頂端設置有用于對缸套類零件（6）進行測量的測量機構（28），所述的測量機構包括有被支撐在固定柱（25）頂端的水平和垂直移動結構，與水平和垂直移動結構相連的主軸（26），固定連接在主軸（26）底端的用于對缸套類零件（6）的內外表面進行測量的非接觸式測頭（27）。

6.根據權利要求5所述的多參數現場自動測量與分選系統，其特征在于，所述的水平和垂直移動結構（28）包括有設置在第四機械手（23）兩側的固定柱（25）頂端的X軸導軌（281）、固定在X軸導軌（281）上的測量導軌外罩（280）和設置在X軸導軌（281）上的滑架（282），所述的X軸導軌（281）的一側通過設置在兩端的X軸滑輪（283）安裝有X軸齒形帶（284），所述的X軸齒形帶（284）與所述的滑架（282）固定連接，所述的X軸導軌（281）上還設置有驅動X軸齒形帶（284）的X軸電機（285），所述的滑架（282）位于傳送帶（5）的一側向外凸出的形成有能夠貫穿主軸（26）并帶動主軸（26）隨滑架（282）移動的上導向套（286），所述的主軸（26）上固定連接有Z軸齒形帶（288），所述的Z軸齒形帶（288）通過分別固定在滑架（282）和測量導軌外罩（280）上的兩個Z軸滑輪（283）以及固定在滑架（282）上的Z軸電機（289）轉動。

7.根據權利要求6所述的多參數現場自動測量與分選系統，其特征在于，所述的X軸導軌（281）的下端設置有與所述的上導向套（286）相對應的能夠貫穿主軸（26）的下導向套（287）。