[發(fā)明專利]一種雙自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)檢調(diào)管

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310101560.1
• 申請(qǐng)日: 2013-03-27
• 公開（公告）號(hào): CN103217066A
• 公開（公告）日: 2013-07-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 雷正偉;劉福;馮廣斌;華翔;牛滿科;張軍;王勝磊;耿斌;劉海濤;賈波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)人民解放軍63908部隊(duì)
• 主分類號(hào): F41G1/54
• 分類號(hào): F41G1/54
• 代理公司: 石家莊國(guó)為知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120
• 代理人: 李榮文

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及以采用光學(xué)方法為特征的測(cè)量裝置技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種具有雙自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)的集成化處理裝置。

背景技術(shù)

瞄準(zhǔn)設(shè)備一般包括經(jīng)緯儀、方位儀、校零光管、電氣標(biāo)桿儀、磁性水平儀等設(shè)備組成，其技術(shù)指標(biāo)正常與否直接關(guān)系到導(dǎo)彈命中精度，需定期進(jìn)行計(jì)量檢定或校準(zhǔn)。目前所有計(jì)量手段和方法都是采用多平行光管技術(shù)進(jìn)行檢定，此技術(shù)不能完全覆蓋設(shè)備及參數(shù)，需要多次重復(fù)架設(shè)、重復(fù)調(diào)平，重復(fù)性、可靠性和一致性不能保證，計(jì)量設(shè)備非常龐大，造價(jià)昂貴，對(duì)環(huán)境要求非常嚴(yán)格，只能建在特殊環(huán)境下的實(shí)驗(yàn)室中，無法滿足瞄準(zhǔn)設(shè)備的遂行計(jì)量要求。

常規(guī)的檢調(diào)管設(shè)計(jì)必須滿足一個(gè)條件：檢調(diào)管的焦距為被測(cè)瞄準(zhǔn)儀焦距的2～3倍以上，如某型瞄準(zhǔn)儀的焦距為172mm，檢調(diào)管焦距就高達(dá)500mm，給檢調(diào)管的小型化、可靠性設(shè)計(jì)帶來極大的問題，不能滿足遂行計(jì)量保障的需要；此外普通檢調(diào)管不具備測(cè)微功能，無法實(shí)現(xiàn)“分劃板重合”的檢定，在檢定工作過程中需配另外的設(shè)備如T3000A或T5100A，此設(shè)備高達(dá)幾十萬，檢定代價(jià)極高。單光路設(shè)計(jì)的檢調(diào)管無法提供定量測(cè)角和讀數(shù)功能，無法實(shí)現(xiàn)方位儀和校零光管的零位誤差的檢定，也無法在一次調(diào)平、一次架設(shè)的情況下覆蓋俯仰偏差的檢定。

傳統(tǒng)的瞄準(zhǔn)設(shè)備檢定裝置中，瞄準(zhǔn)目標(biāo)組均采用分散式安裝方法，即將多個(gè)平行光管通過各自固定件，分別安裝在同一支架上，容易造成瞄準(zhǔn)目標(biāo)組的技術(shù)參數(shù)及相對(duì)位置發(fā)生變化，而且對(duì)使用環(huán)境溫度要求非常嚴(yán)格，不能滿足隨行計(jì)量保障工作。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種雙自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)檢調(diào)管，所述檢調(diào)管具有體積小、重量輕、操作簡(jiǎn)單、功能強(qiáng)大、準(zhǔn)直目標(biāo)穩(wěn)定性和精度高等優(yōu)點(diǎn)。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明所采取的技術(shù)方案是：一種雙自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)檢調(diào)管，包括殼體，其特征在于所述殼體內(nèi)設(shè)有兩條自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)，第一個(gè)自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)和第二個(gè)自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)分別經(jīng)光學(xué)器件將光源發(fā)射的光照射到被測(cè)反光鏡上，第一個(gè)自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)和第二個(gè)自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)所發(fā)射的兩條光線所成的夾角為銳角，被測(cè)反光鏡位于兩條光線的交匯處。

優(yōu)選的：每條自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)包括光源、十字分劃板、第一分光棱鏡、第一反光鏡、第二反光鏡、第一物鏡、第二物鏡和指示分劃板，光源發(fā)出的光線照亮位于第一物鏡和第二物鏡組成的物鏡組的焦平面上的十字分劃板，再經(jīng)過第一分光棱鏡、第一反光鏡和第二反光鏡后被第一物鏡和第二物鏡匯聚成一束平行光束射向被測(cè)反光鏡，如果被測(cè)反光鏡的反射面垂直于光軸，光線仍按原路返回，經(jīng)第二物鏡、第一物鏡、第二反光鏡、第一反光鏡和第一分光棱鏡后成像在位于被測(cè)反光鏡焦點(diǎn)上的指示分劃板上，與指示分劃線重合，人眼通過目鏡組觀察返回的十字現(xiàn)象。

優(yōu)選的：第一個(gè)自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)還包括位于所述十字分劃板與第一分光棱鏡間的第二分光棱鏡。

采用上述技術(shù)方案所產(chǎn)生的有益效果在于：所述檢調(diào)管采用分光原理和兩組分光棱鏡，在入射和出射面真空鐳射增透膜，以彌補(bǔ)分光造成的光能量損失，在膠合層鍍分光膜，控制膜層的厚度，使分光率達(dá)到1：1，一條光路提供高精度自準(zhǔn)直目標(biāo)，保證目標(biāo)的清晰、穩(wěn)定，解決十字分劃板重合檢定難題；另一條光路提供讀數(shù)測(cè)微功能，解決零位誤差的檢定難題。利用雙折返設(shè)計(jì)技術(shù)，在有限的空間和距離內(nèi)，在同一外殼內(nèi)集成設(shè)計(jì)了兩條自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)，解決了檢調(diào)管焦距依賴被測(cè)設(shè)備焦距造成的體積龐大、可靠性和穩(wěn)定性難題，同時(shí)滿足俯、仰兩位置的檢定需求。

本發(fā)明具有體積小、重量輕、操作簡(jiǎn)單、功能強(qiáng)大、準(zhǔn)直目標(biāo)穩(wěn)定性和精度高等一系列優(yōu)點(diǎn)，解決了自準(zhǔn)直目標(biāo)組設(shè)計(jì)和瞄準(zhǔn)設(shè)備檢定的一系列難題，即解決了檢調(diào)管焦距和被測(cè)設(shè)備焦距之間的難題；解決了多目標(biāo)法進(jìn)行瞄準(zhǔn)設(shè)備計(jì)量檢定過程的技術(shù)復(fù)雜、重復(fù)調(diào)平、重復(fù)架設(shè)，穩(wěn)定性差、檢定效率低等難題；解決了檢調(diào)管不具備讀數(shù)測(cè)微功能的難題，覆蓋了零位誤差和分劃板重合檢定難題；解決了瞄準(zhǔn)設(shè)備遂行計(jì)量保障難題。此外，該檢調(diào)管能消除外部結(jié)構(gòu)變形及受環(huán)境溫度變化影響，保證瞄準(zhǔn)目標(biāo)組指標(biāo)的穩(wěn)定性和可靠性，不僅能滿足瞄準(zhǔn)設(shè)備的所有檢定需求，還能為其它測(cè)角儀器檢定裝置的設(shè)計(jì)提供新的方法和手段。?

附圖說明

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

圖1是本發(fā)明的原理示意圖；

圖2是本發(fā)明的剖視結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是自準(zhǔn)直測(cè)角原理圖；