[發明專利]電場計測裝置

無效

• 申請號: 201310099854.5
• 申請日: 2013-03-26
• 公開（公告）號: CN103364642A
• 公開（公告）日: 2013-10-23
• 發明（設計）人: 真家澤二;牟禮勝仁
• 申請（專利權）人: 住友大阪水泥股份有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R15/24
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 李亞;穆德駿

技術領域

本發明涉及一種電場計測裝置，尤其涉及電子設備等的放射電磁波噪聲測定、電波暗室等的電磁波測定設備評價、及天線評價等電磁場計測領域中所使用的模擬光傳送技術等中所利用的電場計測裝置。

背景技術

放射電磁波噪聲等的測定是在利用電波暗室等設備抑制了測定對象外的電磁波的測定環境下進行的。因此，通過暗室內的接收天線接收的信號被傳送到相鄰的測定室，并通過設置于此處的測定器進行計測。

近年來，伴隨著電子設備的高速化，電磁波噪聲高頻化，需要超過1GHz，根據情況需要以超過10GHz的頻率進行評價。本申請人在專利文獻1中提出了如下方法：利用具有馬赫-曾德爾型光波導的光調制器及光纖等光纖傳送裝置，對通過接收天線接收的信號進行光傳送。

圖1是本發明人提出的電場計測裝置的一例。在電波暗室側設置有天線和頭部(發送側)。在該頭部配置有放大該天線的輸出信號的RF放大器(放大器)、具有根據來自該RF放大器的輸出信號進行光調制的馬赫-曾德爾型光波導的光強度調制器(LN調制器)、以及向該光強度調制器施加DC偏置電壓的DC偏置電路(偏壓控制電路)。

另一方面，在測定室側配置有控制部(接收側)。在該控制部配置有光源部(LD)、接收來自該光強度調制器的輸出光的受光部(光接收部，PD)、以及根據來自該受光部(PD)的輸出信號的強度變化控制向該光強度調制器供給的DC偏置電壓的DC偏壓控制部(控制電路)。此外，在測定室側配置有根據受光部(光接收部)的輸出測定電場強度的測定器。

在光強度調制器中使用鈮酸鋰(LN)基板等具有電光效應的基板的情況下，向光強度調制器入射的光的調制效率根據基板的晶軸(X軸、Z軸)的設置情況、對所入射的光作用的電場方向、及所入射的光的偏振方向的關系而變化。因此，需要向光調制器入射的光是與調制效率最大的光調制器的條件相符的特定偏振光。為了實現這一點，光源部使用半導體激光器等激光光源(LD)，從光源部到光強度調制器(LN調制器)為止，使偏振條件符合特定的條件，使用偏振保持光纖(PMF)。

在調制效率如此調整為最大的偏振器被配置在基板的輸入端的情況下，通過使偏振器的偏振軸與來自PMF的射出光的偏振方向一致，

也能夠消除偏振方向的變化引起的偏振器中的損失變動，得到準確的測定值。

此外，在基板的輸入端沒有配置偏振器的情況下，由于通過使來自PMF的射出光的偏振方向與調制效率最大的基板的晶軸一致，能夠消除與光的偏振變動對應的調制效率的變動，因此也能夠得到準確的測定值。

但是，偏振保持光纖與單模光纖等通常的光纖不同，價格昂貴，因此不是通常鋪設的設備。因此，為了使用電場計測裝置，還需要偏振保持光纖的鋪設工程。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2010-127777號公報

發明內容

本發明要解決的課題在于解決上述問題，提供一種廉價的電場計測裝置，能夠不使用偏振保持光纖，而是將已鋪設的光纖用作從光源部向光強度調制器導入光波的光纖。

為了解決上述課題，本發明具有以下技術特征。

(1)一種電場計測裝置，測定從檢測電磁波的區域內所設置的被測定裝置產生的電磁波的電場強度，上述電場計測裝置的特征在于，在該區域內，配置有天線和具有根據該天線的輸出信號進行光調制的馬赫-曾德爾型光波導的光強度調制器，在該區域外，配置有光源部、接收來自該光強度調制器的輸出光的受光部、以及根據該受光部的輸出測定該電場強度的測定器，通過第1光纖從該光源部向該光強度調制器導入光波，通過第2光纖從該光強度調制器向該受光部導出光波，該光源部為低相干光源，該第1光纖使用單模光纖。

(2)根據上述(1)所述的電場計測裝置的特征在于，該光源部為ASE光源。

(3)根據上述(1)所述的電場計測裝置的特征在于，該光源部具有以下結構：將來自激光光源的光波以1比1的光強度分離為兩個光波，以相互成為可干渉距離以上的方式賦予光路差，以使偏振面正交的方式對該兩個光波進行合波。

(4)根據上述(1)至(3)中任一項所述的電場計測裝置的特征在于，該光強度調制器在具有電光效應的基板上能形成光波導而成。

如本發明的電場計測裝置那樣，光源部為低相干光源，連接光源部與光強度調制器的第1光纖使用單模光纖，從而不需要使用偏振保持光纖，能夠利用現有的已鋪設的光纖，能夠提供廉價的電場計測裝置。

附圖說明

圖1是表示現有的電場計測裝置的概略圖。

圖2是表示本發明的電場計測裝置的概略圖。