[發明專利]瞬變電磁法過套管找水測試儀

在審

• 申請號: 201310099699.7
• 申請日: 2013-03-26
• 公開（公告）號: CN103867183A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 李敢;聶文龍;張福濤;姜廣彬;郭林園;曲曉峰;魏新晨;張劍;張國玉;許玲玲;劉艷霞
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司勝利油田分公司采油工藝研究院
• 主分類號: E21B47/00
• 分類號: E21B47/00
• 代理公司: 濟南日新專利代理事務所 37224
• 代理人: 董慶田

技術領域

本發明涉及石油開采用工具，具體地說是一種瞬變電磁法過套管找水測試儀。

背景技術

目前，油田大部分油氣井采取套管完井方式。隨著開發力度逐步加大，找水測試在油田開發中后期越來越重要。而目前應用的找水測試技術仍然采用裸眼井測試采用的放射性測試等方式，由于受測試原理、完井套管及充填水泥環影響，在套管完井生產井中進行找水測試時，存在測試距離斷、受井下環境影響大等問題，不能滿足套管完井生產井的找水測試要求。利用井下電阻率測試技術進行油氣井找水測試是一種切實可行的解決方案，但由于套管本身的屏蔽作用，常規測試信號無法穿越套管進行找水測試。因此，目前在套管完井生產井找水測試方面，還沒有一種合適的技術。

有鑒于此，針對上述問題，提出一種設計合理且有效改善上述缺失的瞬變電磁法過套管找水測試儀。

發明內容

本發明的目的在于提供瞬變電磁法過套管找水測試儀，解決了目前套管完井生產井找水測試難的問題,?解決了常規正弦波電阻率測試信噪比低、受外界環境影響大的問題。

為了達成上述目的，本發明采用了如下技術方案，瞬變電磁法過套管找水測試儀，包括鐵芯及套在鐵芯外側的外護管，所述鐵芯在自身上下兩端均開設圓環臺，所述外護管與鐵芯之間形成環空，該環空向上一直連通鐵芯上方，為敞開式設計，該環空的下端位置外護套和鐵芯之間設置O型圈進行密封。

所述鐵芯上端開設的圓環臺上設置有下壓帽，下壓帽外側設置上壓帽，所述外護管上端連接在上壓帽下端外側。

所述上壓帽上設置有支撐塊，支撐塊內部設置彈簧。

所述下壓帽通過內側開設的內螺紋連接上方的轉換接頭，所述下壓帽和轉換接頭之間設置O型圈。

所述鐵芯下端開設的圓環臺上設置有壓帽，壓帽上設置有支撐塊，支撐塊內部設置彈簧。

所述鐵芯正下端設置有導向頭。

相較于現有技術，本發明具有以下有益效果：

（1）對于套管完井生產井的找水測試，提出了套管磁化后進行電阻率測試的方式，解決了目前套管完井生產井找水測試難的問題；

（2）采取瞬變電磁法進行找水測試，實現了測試信號時間與空間的一一對應，解決了常規正弦波電阻率測試信噪比低、受外界環境影響大的問題。

附圖說明

圖1為本發明瞬變電磁法過套管找水測試儀的結構示意圖。

圖中：1.轉換接頭；2.O型圈；3.上壓帽；4.支撐塊；5.下壓帽；6.外護管；7.鐵芯；8.O型圈；9.彈簧；10.導向頭。

具體實施方式

有關本發明的詳細說明及技術內容，配合附圖說明如下，然而附圖僅提供參考與說明之用，并非用來對本發明加以限制。

參見附圖1，瞬變電磁法過套管找水測試儀，包括鐵芯7及套在鐵芯外側的外護管6，所述鐵芯在自身上下兩端均開設圓環臺，所述外護管與鐵芯之間形成環空，該環空向上一直連通鐵芯上方，為敞開式設計，該環空的下端位置外護套和鐵芯之間設置O型圈8進行密封。鐵芯上端開設的圓環臺上設置有下壓帽5，下壓帽外側設置上壓帽3，所述外護管上端連接在上壓帽下端外側。上壓帽上設置有支撐塊4，支撐塊內部設置彈簧。下壓帽通過內側開設的內螺紋連接上方的轉換接頭1，所述下壓帽和轉換接頭之間設置O型圈2。鐵芯下端開設的圓環臺上設置有壓帽，壓帽上設置有支撐塊，支撐塊內部設置彈簧9。鐵芯正下端設置有導向頭10。

在瞬變電磁法過電阻率找水過程中，將該裝置連接于系統的最下端，上端通過轉換接頭跟儀器連接。通過同心電纜對該儀器供電后，根據電磁感應原理，會在線圈周圍產生磁場，完成對套管的磁化。

瞬變電磁法找水測試儀主要采取以下技術：

（1）套管磁化技術：為了消除套管對電磁測試信號的屏蔽作用，采用線圈法對套管進行磁化，可以在較小電流的情況下，達到良好的套管磁化效果，使儀器在套管完井情況下達到裸眼測試的效果。

（2）瞬變電磁法測試：儀器在井下進行測試時，發射直流脈沖信號，并且在每個脈沖間隙由儀器感應線圈采取信號，具有測試距離長，受干擾小的優點。

（3）電阻率找水測試：通過感生電動勢可以得出測試層段的電阻率，從而進行找水測試。

在結構與組成上，儀器主要由套管磁化部分、發射與接收線圈、信號轉換控制與傳輸電路及封裝部分等組成。

以上所述僅為本發明的較佳實施例，非用以限定本發明的專利范圍，其他運用本發明的專利精神的等效變化，均應俱屬本發明的專利范圍。