[發明專利]一種弱損耗介質復介電常數的測量方法在審
| 申請號： | 201310097846.7 | 申請日： | 2013-03-26 |
| 公開（公告）號： | CN103698613A | 公開（公告）日： | 2014-04-02 |
| 發明（設計）人： | 鄭興明;趙凱;姜濤;張世軼;孫建 | 申請（專利權）人： | 中國科學院東北地理與農業生態研究所 |
| 主分類號： | G01R27/26 | 分類號： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 長春科宇專利代理有限責任公司 22001 | 代理人： | 馬守忠 |
| 地址： | 130021 吉林*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 損耗 介質 介電常數 測量方法 | ||
1.一種弱損耗介質復介電常數的測量方法，步驟和條件如下：
（1）使用的測量裝置由網絡分析儀、微波窄帶天線、塑料泡沫板介質樣品盒、吸波材料、精密升降儀、液壓升降儀組成；網絡分析儀與微波窄帶天線連接；吸波材料置于精密升降儀上面；精密升降儀置于液壓升降儀的上面，兩者組成高度調節裝置；
（2）介質樣品處理：介質樣品表面要平整光滑；
（3）將介質樣品置于塑料泡沫板介質樣品盒中，厚度為2-3cm；
（4）吸波材料為SA型角錐泡沫塑料，厚度為10cm；
????（5）在放置介質樣品之前，將微波窄帶天線對準吸波材料，讀取網絡分析儀的反射系數的測量值?；
（6）測量兩層介質的有效反射系數，兩層介質的有效反射系數R為：
????????（1）
其中為天線口面處的反射系數，為被測介質的反射系數，d0為天線口面離介質的距離，k0為自由空間傳播常數，k0=2π/f，f為電磁波頻率；
窄帶天線置于塑料泡沫板介質樣品盒中介質樣品上方，利用高度調節裝置調整，使，則有：
??????????????????????（2）
結合（1）和（2），變換得到：
???????????????????（3）
由Fresnel定理可知，垂直入射時，介質表面的反射系數可以表示為：
???????????????????????（4）
聯合等式（3）和（4）可得：
???（5）
把步驟（5）得到的天線口面處的反射系數帶入式（5），得到介質復介電常數ε值。
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