[發明專利]用于Nb5N6常溫太赫茲檢測器線陣的讀出電路

有效

• 申請號: 201310096744.3
• 申請日: 2013-03-25
• 公開（公告）號: CN103162839A
• 公開（公告）日: 2013-06-19
• 發明（設計）人: 康琳;萬超;日比康詞;陳健
• 申請（專利權）人: 南京大學
• 主分類號: G01J5/02
• 分類號: G01J5/02
• 代理公司: 蘇州威世朋知識產權代理事務所(普通合伙) 32235
• 代理人: 楊林潔

1.一種用于Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣的讀出電路，其特征在于，包括：

與Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣相連接的恒流偏置提供模塊，用于對所述檢測器提供偏置；

與Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣相連接的多路選擇模塊，用于將所述Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣的多路輸出信號轉變為1路信號；

低噪聲放大與濾波模塊，用于對所述1路信號進行放大和濾波。

2.根據權利要求1所述用于Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣的讀出電路，其特征在于：所述恒流偏置提供模塊包括三極管、分壓電阻和限流電阻，所述三極管的基極連接分壓電阻，三極管的射級連接限流電阻，集電極連接Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣。

3.根據權利要求2所述用于Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣的讀出電路，其特征在于：所述三極管為PNP型三極管。

4.根據權利要求3所述用于Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣的讀出電路，其特征在于：所述PNP型三極管的型號為S8550。

5.根據權利要求1所述用于Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣的讀出電路，其特征在于：所述多路選擇模塊包括集成芯片ADG506A和與所述芯片ADG506A的模擬和數字通道連接的保護二極管。

6.根據權利要求1所述用于Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣的讀出電路，其特征在于：所述低噪聲放大與濾波模塊為帶通放大與濾波模塊。

7.根據權利要求6所述用于Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣的讀出電路，其特征在于：所述低噪聲放大與濾波模塊由三級電路依次級聯構成：第一級電路包括由第一場效應管構成的源級跟隨器，該電路的偏置由第二場效應管構成的恒流源提供；第二級電路包括由差分對管和第一運算放大器構成的放大電路，該電路的輸入端串聯由第一電阻和第一電容構成的一階高通濾波器，反饋回路中串聯由第二電阻和第二電容構成的一階低通濾波器，所述差分對管的偏置由第三場效應管構成的恒流源提供；第三級電路包括一階帶通濾波器和二階低通濾波器級聯構成的濾波電路，所述一階帶通濾波器由第二運算放大器構成。

8.根據權利要求1所述用于Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣的讀出電路，其特征在于：所述恒流偏置提供模塊與Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣之間的連接采用邦定工藝。

9.根據權利要求1所述用于Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣的讀出電路，其特征在于：所述Nb₅N₆常溫太赫茲檢測器線陣為1×16線陣，所述多路選擇模塊為16選1模塊。