[發明專利]TFT-LCD屏幕亮線缺陷測試方法在審
| 申請號： | 201310096550.3 | 申請日： | 2013-03-22 |
| 公開（公告）號： | CN104062777A | 公開（公告）日： | 2014-09-24 |
| 發明（設計）人： | 周明杰;王永清 | 申請（專利權）人： | 深圳市海洋王照明工程有限公司;海洋王照明科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人： | 何平 |
| 地址： | 518100 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | tft lcd 屏幕 缺陷 測試 方法 | ||
1.一種TFT-LCD屏幕亮線缺陷測試方法，包括以下步驟：
采用開關電源以周期T對所述TFT-LCD屏幕供電和斷電；其中，周期T為8-12秒；
檢測所述TFT-LCD屏幕經過開關電源開關沖擊測試后是否正常，若是，則在常溫下采用所述開關電源對所述TFT-LCD屏幕連續供電；
將連續供電中的TFT-LCD屏幕置于預設溫度及預設濕度的環境中測試，達到測試時間閾值后關閉開關電源；
檢測進行濕熱測試后的TFT-LCD屏幕是否正常，若是，則將所述TFT-LCD屏幕在常溫下進行冷卻，并對冷卻后的TFT-LCD屏幕進行檢測及記錄檢測結果。
2.根據權利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮線缺陷測試方法，其特征在于，所述開關電源對所述TFT-LCD屏幕供電和斷電的周期為10秒。
3.根據權利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮線缺陷測試方法，其特征在于，在常溫下采用所述開關電源對所述TFT-LCD屏幕連續供電0.4-0.6小時。
4.根據權利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮線缺陷測試方法，其特征在于，所述預設溫度為65℃-75℃。
5.根據權利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮線缺陷測試方法，其特征在于，所述預設濕度為75%RH-85%RH。
6.根據權利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮線缺陷測試方法，其特征在于，所述測試時間閾值的范圍為480小時-520小時。
7.根據權利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮線缺陷測試方法，其特征在于，所述常溫下進行冷卻的環境溫度為20℃-30℃，濕度為45%RH-55%RH。
8.根據權利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮線缺陷測試方法，其特征在于，所述TFT-LCD屏幕在常溫下至少冷卻2個小時以上。
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