[發明專利]測試系統及方法無效
| 申請號: | 201310096242.0 | 申請日: | 2013-03-25 |
| 公開(公告)號: | CN104077192A | 公開(公告)日: | 2014-10-01 |
| 發明(設計)人: | 李冬焱;周兵 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/00 | 分類號: | G06F11/00 |
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| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 系統 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種測試系統及方法,尤其涉及一種自動獲取電子設備多個性能參數的測試系統及方法。
背景技術
在目前電子設備的生產過程中,常常需要獲取電子設備工作的各項參數并判斷各項參數是否合格,以測試電子設備的工作是否正常。而目前的測試過程較為繁瑣,需要由用戶依次輸入相應的測試項目并進行參數判斷。以光碟播放裝置為例,當需要測試光碟播放裝置的讀碟大小時,則用戶需要先輸入讀碟大小測試項目以控制測試裝置獲取碟片大小,再由用戶判斷該獲取的參數(例如碟片大小)是否處于正常規格范圍內,然后再依次進行其他參數的判斷。如此通過人工輸入的方式來測試電子設備,不僅需要消耗人力,而且需要花費較長的時間,不利于生產效率的提高及生產過程的自動化,產品成本難以降低。
發明內容
有鑒于此,有必要提供一種自動獲取電子設備多個性能參數的測試系統。
另外,還有必要提供一種自動獲取電子設備多個性能參數的測試方法。
一種測試系統,用于測試電子設備的性能,該測試系統包括存儲單元和顯示單元,所述存儲單元用于存儲測試表格,其中測試表格記錄至少一個測試項目以及與每一個測試項目相對應的參考值;所述測試系統還包括:
用于根據測試表格記錄的測試項目獲取電子設備相應的參數值的參數值獲取單元;
用于判斷獲取的參數值是否與相應測試項目的參考值相匹配的判斷單元;以及
用于控制所述顯示單元顯示所述電子設備的測試項目、測試項目對應的參數值及判斷結果的控制單元。
一種測試方法,用于測試系統以測試電子設備的性能,所述測試方法包括步驟:
提供一個測試表格,其中測試表格記錄至少一個測試項目以及與每一個測試項目相對應的參考值;
根據測試表格記錄的測試項目獲取電子設備相應的參數值;
判斷獲取的參數值是否與相應測試項目的參考值相匹配;以及
顯示所述電子設備的測試項目、測試項目對應的參數值及判斷結果。
上述測試系統及測試方法,在測試電子設備性能的過程中可根據預置的測試表格中記錄的測試項目自動獲取待測電子設備的各項性能參數,從而縮短了測試時間,提高了工作效率。
附圖說明
圖1為本發明一較佳實施方式的測試系統的功能模塊圖。
圖2為本發明一較佳實施方式的測試方法的流程圖。
主要元件符號說明
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