[發(fā)明專(zhuān)利]一種等離子顯示器行驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試裝置及測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310096088.7
• 申請(qǐng)日: 2013-03-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103217639A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-07-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李珣
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 四川長(zhǎng)虹電器股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 成都九鼎天元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51214
• 代理人: 楊永梅;詹永斌

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及等離子顯示器驅(qū)動(dòng)芯片領(lǐng)域，尤其涉及一種等離子顯示器行驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試裝置及測(cè)試方法。

背景技術(shù)

?行驅(qū)動(dòng)芯片是等離子顯示器模組中的重要組成部分，其作用是在低壓信號(hào)的控制下根據(jù)圖像數(shù)據(jù)向屏數(shù)據(jù)電極提供一定周期規(guī)律的高壓大電流脈沖，以實(shí)現(xiàn)各圖像單元周期性的放電發(fā)光和熄滅。行驅(qū)動(dòng)芯片的性能會(huì)直接影響到屏的顯示效果及可靠性。

??行驅(qū)動(dòng)芯片通常采用TQFP、HTQFP或QFP的封裝方式，芯片管腳的排列非常緊密細(xì)致。現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)行驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，通常是將行驅(qū)動(dòng)芯片焊接到掃描電路板上并接入屏系統(tǒng)電路進(jìn)行測(cè)試，這樣的測(cè)試方式無(wú)法確保每次焊接的焊接質(zhì)量，可能會(huì)因焊接問(wèn)題（如虛焊）而導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果有誤；另一方面測(cè)試成本很高而且效率很低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試行驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確且測(cè)試效率低的技術(shù)問(wèn)題，提供一種等離子顯示器行驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試裝置。本發(fā)明還公開(kāi)了此等離子行驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試裝置的測(cè)試方法。

本發(fā)明的目的通過(guò)下述技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)：

一種等離子顯示器行驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試裝置，其具體包括示波器、圖像信號(hào)發(fā)生器和安裝在等離子顯示屏背板上的測(cè)試板、電源板、控制板和驅(qū)動(dòng)板；所述圖像信號(hào)發(fā)生器連接控制板，所述電源板通過(guò)驅(qū)動(dòng)板連接測(cè)試板，所述測(cè)試板連接示波器；所述測(cè)試板與等離子顯示器背板的電極通過(guò)柔性電路板連接。

更進(jìn)一步地，上述驅(qū)動(dòng)板包括X板、Y板和data板，測(cè)試板通過(guò)Y板分別連接電源板、控制板，所述電源板連接X(jué)板、Y板、控制板，所述控制板連接X(jué)板、Y板和data板，所述圖像信號(hào)發(fā)生器連接控制板。

更進(jìn)一步地，上述測(cè)試板上設(shè)置測(cè)試插座用于插接被測(cè)行驅(qū)動(dòng)芯片，所述測(cè)試板上同時(shí)設(shè)置低壓電源及邏輯控制信號(hào)輸入端口、高壓電源輸入端口和驅(qū)動(dòng)輸出端口，所述低壓電源及邏輯控制信號(hào)輸入端口、高壓電源輸入端口和驅(qū)動(dòng)輸出端口均分別與被測(cè)行驅(qū)動(dòng)芯片連接；控制板通過(guò)Y板連接測(cè)試板的低壓電源及邏輯控制端口，將測(cè)試所需低壓電源及邏輯控制信號(hào)通過(guò)Ｙ板發(fā)送到低壓電源及邏輯控制信號(hào)輸入端口，低壓電源及邏輯控制信號(hào)輸入端口輸入的控制信號(hào)通過(guò)撥碼開(kāi)關(guān)連接被測(cè)行驅(qū)動(dòng)芯片，輸出控制信號(hào)通過(guò)與門(mén)與被測(cè)行驅(qū)動(dòng)芯片連接，電源板通過(guò)Y板連接測(cè)試板的高壓電源輸入端口，將測(cè)試所需的高壓電源由Y板引入高壓電源輸入端口；兩個(gè)端口的輸入經(jīng)過(guò)放置在測(cè)試板上的行驅(qū)動(dòng)芯片后，通過(guò)驅(qū)動(dòng)輸出端口輸出，其輸出通過(guò)柔性電路板輸出給等離子顯示器的Y電極，給其提供高壓驅(qū)動(dòng)。

更進(jìn)一步地，上述測(cè)試板上設(shè)置至少三對(duì)輸出端測(cè)試點(diǎn)，分別用于測(cè)試被測(cè)行驅(qū)動(dòng)芯片的引腳輸出。

更進(jìn)一步地，上述測(cè)試板上還設(shè)置電流測(cè)試點(diǎn)和控制信號(hào)測(cè)試點(diǎn)，所述電流測(cè)試點(diǎn)和控制信號(hào)測(cè)試點(diǎn)分別連接被測(cè)行驅(qū)動(dòng)芯片。

本發(fā)明還公開(kāi)了一種使用上述測(cè)試裝置的等離子顯示器行驅(qū)動(dòng)芯片的測(cè)試方法，其具體包含以下步驟：步驟1.啟動(dòng)上述裝置，并將圖像信號(hào)發(fā)生器的場(chǎng)頻及分辨率調(diào)至與等離子顯示器所用屏相同的數(shù)值格式；步驟2.將行驅(qū)動(dòng)芯片插入測(cè)試插座并鎖緊；步驟3.?向行驅(qū)動(dòng)芯片引入高壓和低壓，測(cè)試被測(cè)行驅(qū)動(dòng)芯片的高壓電源與地輸入端、邏輯電源與地輸入端之間的阻抗，從而判斷被測(cè)行驅(qū)動(dòng)芯片是否為不良品。

更進(jìn)一步地，上述方法還包括通過(guò)低壓電源及邏輯控制信號(hào)輸入端口引入輸出控制信號(hào)，通過(guò)撥碼開(kāi)關(guān)控制輸出控制信號(hào)的連接，并測(cè)量輸出端測(cè)試點(diǎn)，從而判斷芯片是否為不良品。

更進(jìn)一步地，上述方法還包括示波器第一通道連接電壓探頭，電壓探頭用于連接測(cè)試板上的輸出測(cè)試點(diǎn)，第二通道連接電流探頭，電流探頭環(huán)接于測(cè)試板上此路輸出的串接環(huán)線(xiàn)。

更進(jìn)一步地，上述方法還包括將示波器第三通道和示波器第四通道分別連接高壓差分電壓探頭，將高壓差分電壓探測(cè)分別用于連接測(cè)試板上的兩個(gè)輸出控制測(cè)試點(diǎn)，此時(shí)可測(cè)出在某一特定圖像顯示時(shí)，單路輸出電壓、電流對(duì)應(yīng)于兩個(gè)控制信號(hào)的時(shí)序特性曲線(xiàn)，從而判斷出行驅(qū)動(dòng)芯片是否為不良品。

更進(jìn)一步地，上述方法還包括將示波器第三通道和示波器第四通道分別連接高壓差分電壓探頭，將高壓差分電壓探測(cè)分別用于連接測(cè)試板上的鎖存使能測(cè)試點(diǎn)和復(fù)位清零測(cè)試點(diǎn)，此時(shí)可測(cè)出在某一特定圖像顯示時(shí)，單路輸出電壓、電流對(duì)應(yīng)于兩個(gè)狀態(tài)控制信號(hào)的時(shí)序特性曲線(xiàn)，從而判斷出行驅(qū)動(dòng)芯片是否為不良品。

通過(guò)采用以上技術(shù)方案，本發(fā)明具有以下的有益效果：使用本發(fā)明的測(cè)試板和測(cè)試方法，造價(jià)低廉，容易實(shí)現(xiàn)，可用于設(shè)計(jì)者或屏生產(chǎn)廠(chǎng)，在批量使用之前對(duì)行驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行的必要的性能測(cè)試。測(cè)試準(zhǔn)確度高且測(cè)試效率高。