[發(fā)明專利]有電流測量單元的集成功率晶體管電路裝置及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310095325.8 | 申請日: | 2013-03-22 |
| 公開(公告)號: | CN103325768A | 公開(公告)日: | 2013-09-25 |
| 發(fā)明(設計)人: | 布里塔·武特 | 申請(專利權)人: | 英飛凌科技奧地利有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/528 | 分類號: | H01L23/528;H01L29/41 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 余剛;李慧 |
| 地址: | 奧地利*** | 國省代碼: | 奧地利;AT |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電流 測量 單元 集成 功率 晶體管 電路 裝置 及其 制造 方法 | ||
1.一種集成功率晶體管電路裝置,其特征在于,
至少一個布置在單元區(qū)(500)中的晶體管單元(100),所述晶體管單元具有摻雜區(qū)域(110),所述摻雜區(qū)域形成在半導體基底(190)中,并且在所述半導體基底(190)的第一側(cè)上鄰接于第一表面(101);
電極結構,所述電極結構在所述半導體基底(190)的所述第一側(cè)上形成在所述單元區(qū)(500)垂直于所述第一表面(101)的投影中;并且
接觸結構(300),所述接觸結構形成在所述半導體基底(190)的所述第一側(cè)上,并且與所述摻雜區(qū)域(110)和所述電極結構導電連接,其中,所述接觸結構(300)具有在所述電極結構和所述半導體基底(190)之間的第一部段(310)以及在所述單元區(qū)(500)外部的第二部段(320),并且所述第二部段(320)利用接口結構連接所述第一部段(310)。
2.根據(jù)權利要求1所述的集成功率晶體管電路裝置,其特征在于,所述摻雜區(qū)域(110)設計為帶狀的并且沿著第一方向延伸;并且所述第二部段(320)具有一個或者多個分別從所述第一部段(310)出發(fā)在所述第一方向上延伸的第一子部段(321)和第二子部段(322),所述第二子部段連接一個或者多個所述第一子部段(321),并且自身沿著第二方向延伸,所述第二方向與所述第一方向相交。
3.根據(jù)權利要求1或2中任一項所述的集成功率晶體管電路裝置,其特征在于,所述摻雜區(qū)域(110)構成所述晶體管單元(100)的源極區(qū)域(100)和所述電極結構構成源極電極(391)。
4.根據(jù)權利要求1至3中任一項所述的集成功率晶體管電路裝置,其特征在于,所述第二子部段(322)設計為帶狀并且平行于所述電極結構的直線邊棱延伸。
5.根據(jù)權利要求1至4中任一項所述的集成功率晶體管電路裝置,其特征在于,所述晶體管單元(110)中的每一個都具有柵極導體結構(112),所述集成功率晶體管電路裝置還包括柵極電極(393),所述柵極電極布置在所述第一側(cè)上并且與所述柵極導體結構(112)電連接;并且所述第二子部段(322)設計為帶狀并且平行于所述電柵極電極(393)的直線邊棱延伸。
6.根據(jù)權利要求5所述的集成功率晶體管電路裝置,其特征在于,在與所述半導體基底(190)的所述第一側(cè)相對設置的第二側(cè)上的另一個摻雜區(qū)域(180),其中,所述摻雜區(qū)域(110)和所述另一個摻雜區(qū)域(180)具有相同的傳導類型,并且通過施加在所述柵極導體結構(112)上的電勢能控制在所述摻雜區(qū)域(110)和所述另一個摻雜區(qū)域(180)之間的電流。
7.根據(jù)權利要求5或6中任一項所述的集成功率晶體管電路裝置,其特征在于,
介電層(200),所述介電層布置在所述第一表面(101)和所述接觸結構(300)之間,并且
在所述單元區(qū)(500)外部的多個第一貫穿式接觸結構(293),其中,每個所述第一貫穿式接觸結構(293)都穿過所述介電層(200)延伸,并且所述柵極電極(393)與所述柵極導體結構(112)中的一個電連接,其中
所述第一貫穿式接觸結構(293)和所述接觸結構(300)的至少一個直接與所述介電層(200)相鄰的部分層由相同材料或者多種相同材料構成。
8.根據(jù)權利要求5至7中任一項所述的集成功率晶體管電路裝置,其特征在于,所述柵極導體結構(112)設置在柵極溝槽(118)中,所述柵極溝槽從所述第一表面(101)出發(fā)延伸進入所述半導體基底(190)中。
9.根據(jù)權利要求1至6中任一項所述的集成功率晶體管電路裝置,其特征在于,
介電層(200),所述介電層布置在所述第一表面(101)和所述接觸結構(300)之間,以及
在所述單元區(qū)(500)中的多個第二貫穿式接觸結構(291),其中,所述第二貫穿式接觸結構(291)穿過所述介電層(200)延伸,并且所述接觸結構(300)與所述摻雜區(qū)域(110)電連接,其中,所述第二貫穿式接觸結構(291)和所述接觸結構(300)由相同材料或者多種相同材料構成。
10.根據(jù)權利要求1至9中任一項所述的集成功率晶體管電路裝置,其特征在于,所述接觸結構(300)的厚度最大為300納米,并且所述電極結構的厚度至少為1微米。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于英飛凌科技奧地利有限公司,未經(jīng)英飛凌科技奧地利有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310095325.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種從狗尾巴草中提取生長素的方法
- 下一篇:一種水晶壽盒





