[發(fā)明專利]一種在工件上投影模版的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310092884.3 | 申請(qǐng)日： | 2013-03-22 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN103324007B | 公開（公告）日： | 2017-08-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | K·D·魯博 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 維蒂克影像國(guó)際公司 |
| 主分類號(hào)： | G03B21/00 | 分類號(hào)： | G03B21/00 |
| 代理公司： | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所11038 | 代理人： | 康建忠 |
| 地址： | 加拿大*** | 國(guó)省代碼： | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 使用 可變 部分 對(duì)準(zhǔn) 激光 投影 系統(tǒng) | ||
1.一種在工件上投影模板的方法，包括以下的步驟：
提供用于確定工件在三維坐標(biāo)系中的位置的測(cè)量裝置以及用于將用于生成激光模板的激光束投影到工件上的激光投影儀；
識(shí)別工件上的具有幾何意義的第一特征部以用于工件的精確制造；
使用所述測(cè)量裝置來(lái)確定所述第一特征部在三維坐標(biāo)系中的物理位置，并測(cè)量所述第一特征部在三維坐標(biāo)系中的物理位置與所述工件的計(jì)算機(jī)模型的第一特征部的理論位置之間的偏移；
使用計(jì)算機(jī)來(lái)將由所述測(cè)量裝置識(shí)別的第一特征部的物理位置與來(lái)自計(jì)算機(jī)模型的第一特征部的理論位置對(duì)準(zhǔn)，并且然后確定將針對(duì)所述第一特征部選擇的激光模板投影到工件上的優(yōu)化位置；以及
基于優(yōu)化位置將模板投影到工件上，以便指引要在工件上執(zhí)行的加工。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，確定將激光模板投影到工件上的優(yōu)化位置的步驟進(jìn)一步由以下限定：
識(shí)別模板被投影到的工件的表面的物理位置，并且優(yōu)化模板在所述表面的物理位置上的投影。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，提供測(cè)量裝置的步驟進(jìn)一步由以下限定：
提供攝影測(cè)量系統(tǒng)。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中，提供攝影測(cè)量系統(tǒng)的步驟進(jìn)一步由以下限定：
提供能夠檢測(cè)從工件傳送的光的至少一個(gè)照相機(jī)。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，確定激光模板投影到工件上的優(yōu)化位置的步驟進(jìn)一步由以下限定：
使計(jì)算機(jī)模型與工件上的第二特征部相關(guān)，并通過(guò)使所述第一特征部和所述第二特征部與計(jì)算機(jī)模型對(duì)準(zhǔn)來(lái)優(yōu)化投影。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其中，所述通過(guò)使所述第一特征部和所述第二特征部與計(jì)算機(jī)模型對(duì)準(zhǔn)來(lái)優(yōu)化投影的步驟進(jìn)一步由以下限定：
向所述第一特征部和所述第二特征部分配重要性等級(jí)并且關(guān)于所述等級(jí)優(yōu)化投影。
7.如權(quán)利要求5所述的方法，其中，所述通過(guò)使所述第一特征部和所述第二特征部與計(jì)算機(jī)模型對(duì)準(zhǔn)來(lái)優(yōu)化投影的步驟進(jìn)一步由以下限定：
與被激光投影儀投影的模板對(duì)應(yīng)地向所述第一特征部和所述第二特征部分配加權(quán)值。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括以下步驟：
在三維坐標(biāo)系中使測(cè)量裝置與激光投影儀相關(guān)。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述確定所述第一特征部在三維坐標(biāo)系中的物理位置的步驟進(jìn)一步由以下限定：
使反射元件與所述第一特征部相關(guān)聯(lián)以用于向測(cè)量裝置反射光。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，反射元件進(jìn)一步被限定為與定位探測(cè)器相關(guān)聯(lián)，并且，所述定位探測(cè)器能夠通過(guò)所述定位探測(cè)器上的多個(gè)反射元件的取向被區(qū)分。
11.如權(quán)利要求9所述的方法，還包括以下步驟：
在通過(guò)使反射元件與第一特征部相關(guān)聯(lián)而限定的第一特征部的物理位置處將圖像投影于工件上。
12.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，所述識(shí)別模板被投影到的工件的表面的物理位置的步驟進(jìn)一步由以下限定：
使反射元件與第一特征部相關(guān)聯(lián)以用于向測(cè)量裝置反射光。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述識(shí)別工件上的具有幾何意義的第一特征部的步驟進(jìn)一步由以下限定：
識(shí)別由工件限定的孔口的邊緣或內(nèi)表面。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述識(shí)別工件上的具有幾何意義的第一特征部的步驟進(jìn)一步由以下限定：
識(shí)別相鄰的表面之間的過(guò)渡。
15.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述識(shí)別工件上的具有幾何意義的第一特征部的步驟進(jìn)一步由以下限定：
通過(guò)將激光圖像投影于第一特征部上來(lái)識(shí)別工件上的第一特征部。
16.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括以下步驟：
測(cè)量裝置針對(duì)相對(duì)于工件的原始位置的漂移來(lái)監(jiān)視工件的位置，并且基于所監(jiān)視的工件的位置校正激光模板的投影。
17.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括以下步驟：
將激光圖像投影到工件上從而使由計(jì)算機(jī)模型限定的第一特征部的理論位置與工件上的第一特征部的物理位置相關(guān)。
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