[發(fā)明專利]成像裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310092878.8 | 申請(qǐng)日: | 2010-04-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103454877A | 公開(公告)日: | 2013-12-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 村崎聰;北村俊文;松本泰尚 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 佳能株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G03G15/08 | 分類號(hào): | G03G15/08;G03G15/01 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人: | 林振波 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 成像 裝置 | ||
本發(fā)明專利申請(qǐng)是申請(qǐng)日為2010年4月14日、申請(qǐng)?zhí)枮?01010164268.0、發(fā)明名稱為“成像裝置”的發(fā)明專利申請(qǐng)的分案申請(qǐng)。?
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及成像裝置,其具有圖像承載構(gòu)件和顯影單元,所述顯影單元用于對(duì)形成在圖像承載構(gòu)件上的潛像進(jìn)行顯影。?
背景技術(shù)
對(duì)于一些基于電子照相法的傳統(tǒng)成像裝置,在多個(gè)成像感光鼓的每一個(gè)上形成的圖像被相繼地且彼此層疊地轉(zhuǎn)印到面對(duì)感光鼓的中間轉(zhuǎn)印帶上,或者轉(zhuǎn)印到輸送的轉(zhuǎn)印材料上。該方法稱為順列法。這種成像裝置可以采用接觸顯影法。該接觸顯影法利用與感光鼓旋轉(zhuǎn)接觸的顯影輥?zhàn)鳛轱@影劑承載構(gòu)件來進(jìn)行顯影。?
當(dāng)使用接觸顯影法進(jìn)行顯影時(shí),由于顯影輥和感光鼓是在彼此接觸的同時(shí)被旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng),因此感光鼓和顯影輥由于它們之間的摩擦而磨損。因此,使感光鼓和顯影輥之間的接觸持續(xù)比需要的時(shí)間更長(zhǎng)將縮短它們的使用壽命。為了解決這種問題,在日本專利申請(qǐng)公開No.2006-292868中討論了一種能夠在顯影輥和感光鼓之間實(shí)現(xiàn)接觸和分離的配置。?
然而,在顯影過程中感光鼓和顯影輥之間的接觸和分離涉及到元件連接誤差、驅(qū)動(dòng)源(電機(jī))控制定時(shí)和其他變化因素??紤]到這些變化因素,因此,傳統(tǒng)的技術(shù)是在執(zhí)行成像的接觸期間之前和之后提供預(yù)定的余量,從而使顯影輥在成像期間牢固地接觸感光鼓。?
由于即使在不執(zhí)行成像的情況下該余量也導(dǎo)致顯影輥和感光鼓之?間的接觸狀態(tài),因此縮短了顯影輥和感光鼓的使用壽命。?
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種成像裝置,能夠減小由于感光鼓和顯影輥之間不必要的接觸而造成的感光鼓和顯影輥使用壽命的縮短。?
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,成像裝置包括第一圖像承載構(gòu)件;第二圖像承載構(gòu)件;第一顯影單元,其布置成與形成有潛像的第一圖像承載構(gòu)件相接觸而顯影該潛像;以及第二顯影單元,其布置成與形成有潛像的第二圖像承載構(gòu)件相接觸而顯影該潛像,其中,成像裝置能夠在第一圖像承載構(gòu)件與第一顯影單元分離的狀態(tài)和第一圖像承載構(gòu)件與第一顯影單元接觸的狀態(tài)之間轉(zhuǎn)換以便顯影潛像,以及能夠在第二圖像承載構(gòu)件與第二顯影單元分離的狀態(tài)和第二圖像承載構(gòu)件與第二顯影單元接觸的狀態(tài)之間轉(zhuǎn)換以便顯影潛像;檢測(cè)單元,其布置成檢測(cè)第一圖像承載構(gòu)件與第一顯影單元接觸的第一接觸時(shí)間段和第二圖像承載構(gòu)件與第二顯影單元接觸的第二接觸時(shí)間段;以及控制單元,其布置成根據(jù)檢測(cè)單元檢測(cè)到的第一接觸時(shí)間段來控制第一圖像承載構(gòu)件和第一顯影單元之間的接觸或分離定時(shí);其中,在對(duì)第一圖像承載構(gòu)件和第一顯影單元執(zhí)行定時(shí)控制后,控制單元根據(jù)檢測(cè)單元檢測(cè)到的第一和第二接觸時(shí)間段來控制第二圖像承載構(gòu)件和第二顯影單元之間的接觸或分離定時(shí)。?
通過下面參考附圖對(duì)示例性實(shí)施例的詳細(xì)描述,本發(fā)明的其他特征和方面將變得明白。?
附圖說明
并入說明書并構(gòu)成說明書一部分的附圖示出了本發(fā)明的示例性實(shí)施例、特征和方面,并和說明書一起用于解釋本發(fā)明的原理。?
圖1是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)示例性實(shí)施例的成像裝置的示意圖。?
圖2示出了成像裝置的配置。?
圖3A至3C示出了用于提供顯影輥和感光鼓之間接觸和分離的機(jī)?構(gòu)。?
圖4A和4B示出了凸輪齒輪的結(jié)構(gòu)。?
圖5是示出了顯影輥和感光鼓之間的接觸和分離狀態(tài)的凸輪圖。?
圖6是用于檢測(cè)接觸定時(shí)的定時(shí)圖。?
圖7是用于檢測(cè)分離定時(shí)的定時(shí)圖。?
圖8A和8B示出了調(diào)色劑圖案和色彩重合失調(diào)檢測(cè)傳感器。?
圖9是用于檢測(cè)接觸和分離定時(shí)的控制程序的流程圖。?
圖10是示出了用于檢測(cè)接觸定時(shí)的方法的定時(shí)圖。?
圖11A示出了在每個(gè)工位的接觸時(shí)間段,圖11B示出了對(duì)接觸/分離電機(jī)的加速/減速控制。?
圖12A至12D示出了用于校正在每個(gè)工位的接觸時(shí)間段的方法。?
圖13A示出了接觸/分離電機(jī)的驅(qū)動(dòng)頻率和接觸時(shí)間段的校正量之間的關(guān)系,圖13B示出了隨時(shí)間變化的驅(qū)動(dòng)頻率。?
圖14是示出了用于檢測(cè)分離定時(shí)的方法的定時(shí)圖。?
圖15A示出了在每個(gè)工位的分離時(shí)間段,圖15B示出了對(duì)接觸/分離電機(jī)的加速/減速控制。?
圖16A至16D示出了用于校正在每個(gè)工位的分離時(shí)間段的方法。?
圖17是示出了在根據(jù)分離定時(shí)進(jìn)行分離時(shí)間段校正之后隨時(shí)間變化的接觸/分離電機(jī)的驅(qū)動(dòng)頻率的曲線圖。?
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G03G15-054 .用X射線,例如,電放射術(shù)





