[發(fā)明專利]觸控裝置及其觸控檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310092436.3
• 申請日: 2013-03-21
• 公開（公告）號: CN104063097B
• 公開（公告）日: 2017-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張志遠(yuǎn);夏志朋;張輝宏
• 申請（專利權(quán)）人: 聯(lián)詠科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044;G06F3/041
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11205
• 代理人: 臧建明

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種觸控裝置及其觸控檢測方法，尤其涉及一種執(zhí)行復(fù)合式的觸控檢測方法的觸控裝置。

背景技術(shù)

隨著電子技術(shù)的進(jìn)步，電子產(chǎn)品成為人們生活中不可缺少的重要工具。為了提升電子產(chǎn)品的操控便利性，通過觸控面板來對電子產(chǎn)品進(jìn)行操作已成為電子產(chǎn)品的主流。因此，準(zhǔn)確且快速的檢測出使用者對電子產(chǎn)品所進(jìn)行的觸控操作，是現(xiàn)階段電子產(chǎn)品的重要課題。

在現(xiàn)有的觸控裝置中，其控制器在進(jìn)行有觸控事件發(fā)生與否時，大多是針對每一個觸控通道或是觸控板間的每一個交錯點(diǎn)進(jìn)行逐一的掃描。在多點(diǎn)觸碰的需求成為必要的功能的今天，這樣的觸控檢測方式勢必要有程度的加快觸控檢測的掃描頻率方能完成。然而，在觸控面板的尺寸也日益增大的今天，觸控檢測的掃描頻率必須要更為向上提升，如此一來，如了增加了觸控點(diǎn)檢測的計(jì)算上的復(fù)雜度外，同時也可能產(chǎn)生觸控點(diǎn)的漏檢測的現(xiàn)象。因此，如何在有限的資源下，有效提升觸控檢測的精準(zhǔn)度，成為本領(lǐng)域設(shè)計(jì)者的重要課題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種觸控裝置及其觸控檢測方法，在不增加掃描頻率的情況下，更有效的進(jìn)行多點(diǎn)觸碰的檢測。

本發(fā)明的觸控檢測方法，適用于觸控面板，其中的觸控面板具有多條觸控列以及多條觸控行。觸控檢測方法的步驟包括：交錯的針對觸控面板執(zhí)行互容式觸控檢測以及自容式觸控檢測，并分別獲得互容式檢測結(jié)果以及自容式檢測結(jié)果，接著，再針對互容式檢測結(jié)果以及自容式檢測結(jié)果進(jìn)行運(yùn)算以獲得觸控面板上的至少一觸控點(diǎn)的位置信息。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的觸控檢測方法，其中的執(zhí)行互容式觸控檢測的步驟包括設(shè)定觸控列或觸控行為多條驅(qū)動通道，并設(shè)定未設(shè)定為驅(qū)動通道的觸控列或觸控行為多條檢測通道，接著，分別依序?qū)︱?qū)動通道提供驅(qū)動信號，并分別依序通過檢測通道獲取多個互容電容變化，再依據(jù)互容電容變化來產(chǎn)生互容式檢測結(jié)果。依序針對觸控列以及觸控行的電容變化進(jìn)行量測，并藉以獲得多個自容電容變化，并依據(jù)自容電容變化來產(chǎn)生自容式檢測結(jié)果。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，觸控檢測方法還包括：當(dāng)互容式觸控檢測執(zhí)行結(jié)束后，判斷互容式檢測結(jié)果中所包括的多個互容電容變化的絕對值是否皆未落在無效檢測區(qū)間中，若互容電容變化的絕對值皆未落在無效檢測區(qū)間中，則繼續(xù)執(zhí)行互容式觸控檢測，若互容電容變化的絕對值的至少其中之一落在無效檢測區(qū)間中，則執(zhí)行自容式觸控檢測。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，觸控檢測方法還包括：當(dāng)該互容式觸控檢測執(zhí)行結(jié)束后，判斷互容式檢測結(jié)果中所包括的多個互容電容變化的絕對值是否皆未落在無效檢測區(qū)間中，并針測觸控面板上的觸控點(diǎn)的個數(shù)是否為1，若互容電容變化的絕對值皆未落在無效檢測區(qū)間中且觸控點(diǎn)的個數(shù)不為1時，則繼續(xù)執(zhí)行互容式觸控檢測，若互容電容變化的絕對值的至少其中之一落在無效檢測區(qū)間中及/或觸控點(diǎn)的個數(shù)為1時，則執(zhí)行自容式觸控檢測。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，觸控檢測方法還包括：當(dāng)自容式觸控檢測執(zhí)行結(jié)束后，檢測觸控面板上的觸控點(diǎn)的個數(shù)是否為1，若觸控面板上的觸控點(diǎn)的個數(shù)為1時，持續(xù)進(jìn)行自容式觸控檢測，若觸控面板上的觸控點(diǎn)的個數(shù)不為1時，進(jìn)行互容式觸控檢測。

本發(fā)明的觸控裝置包括觸控面板以及控制器。觸控面板具有多條觸控列以及多條觸控行。控制器耦接觸控面，控制器交錯的針對觸控面板執(zhí)行互容式觸控檢測以及自容式觸控檢測，并分別獲得互容式檢測結(jié)果以及自容式檢測結(jié)果，再針對互容是檢測結(jié)果以及自容式檢測結(jié)果進(jìn)行運(yùn)算以獲得觸控面板上的至少一觸控點(diǎn)的位置信息。

基于上述，本發(fā)明通過交換執(zhí)行互容式觸控檢測以及自容式觸控檢測，來對觸控面板上的觸控點(diǎn)進(jìn)行交叉式的檢測。如此一來，發(fā)生在觸控面板上的多種可能的觸控點(diǎn)的狀態(tài)可以在混合互容式觸控檢測以及自容式觸控檢測的方式下得到最好的檢測，使觸控裝置所提供的觸控動作可以更為精確，提升所屬系統(tǒng)的效益。

為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1示出本發(fā)明一實(shí)施例的觸控檢測方法的流程示意圖；

圖2A～圖2C示出本發(fā)明實(shí)施例的互容式觸控檢測的實(shí)施方式示意圖；

圖3A～圖3C示出本發(fā)明實(shí)施例的自容式觸控檢測的實(shí)施方式示意圖；

圖4A及4B示出本發(fā)明實(shí)施例的電容變化的示意圖；

圖5示出本發(fā)明另一實(shí)施例的觸控檢測方法的流程圖；

圖6示出本發(fā)明再一實(shí)施例的觸控檢測方法的流程圖；

圖7示出本發(fā)明實(shí)施例的觸控裝置700的示意圖。

附圖標(biāo)記說明：