[發(fā)明專利]X射線CT裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310091266.7
• 申請日: 2013-03-21
• 公開（公告）號: CN103315758A
• 公開（公告）日: 2013-09-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 秋野成臣
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社東芝;東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會社
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 徐冰冰;劉杰

1.一種X射線CT裝置，其特征在于，具有：

X射線產(chǎn)生部，一邊沿著以被檢體為中心的圓形軌道旋轉(zhuǎn)一邊產(chǎn)生X射線；

X射線檢測部，具有多個通道，利用各通道對透射了所述被檢體的X射線進行檢測；

重構(gòu)函數(shù)設(shè)定部，基于表示所檢測出的所述X射線的X射線劑量的統(tǒng)計偏差的統(tǒng)計量，對預(yù)先設(shè)定的基準重構(gòu)函數(shù)進行加權(quán)，由此設(shè)定重構(gòu)函數(shù)；以及

重構(gòu)處理部，基于所述重構(gòu)函數(shù)對基于所檢測出的所述X射線的投影數(shù)據(jù)進行重構(gòu)處理，制作圖像數(shù)據(jù)。

2.如權(quán)利要求1所述的X射線CT裝置，其特征在于，

所述重構(gòu)函數(shù)設(shè)定部具有：

統(tǒng)計量計算部，對所述投影數(shù)據(jù)計算基于針對所述X射線檢測部的每個通道而檢測出的所述X射線劑量的所述統(tǒng)計量；

代表統(tǒng)計量計算部，基于所計算出的多個所述統(tǒng)計量計算代表統(tǒng)計量；以及

系數(shù)計算部，基于所述代表統(tǒng)計量計算加權(quán)系數(shù)，

所述重構(gòu)函數(shù)設(shè)定部通過利用所述加權(quán)系數(shù)對所述基準重構(gòu)函數(shù)進行加權(quán)來設(shè)定所述重構(gòu)函數(shù)。

3.如權(quán)利要求2所述的X射線CT裝置，其特征在于，

所述代表統(tǒng)計量計算部基于由所述統(tǒng)計量計算部計算出的所述統(tǒng)計量的全部來計算代表統(tǒng)計量。

4.如權(quán)利要求2所述的X射線CT裝置，其特征在于，

所述統(tǒng)計量計算部針對每個規(guī)定范圍劃分所述投影數(shù)據(jù)，計算每個規(guī)定范圍的統(tǒng)計量，

所述代表統(tǒng)計量計算部基于所述每個規(guī)定范圍的統(tǒng)計量計算每個規(guī)定范圍的代表統(tǒng)計量，

所述系數(shù)計算部基于所述每個規(guī)定范圍的代表統(tǒng)計量計算每個規(guī)定范圍的加權(quán)系數(shù)，

所述重構(gòu)函數(shù)設(shè)定部通過利用所述每個規(guī)定范圍的加權(quán)系數(shù)對所述基準重構(gòu)函數(shù)進行加權(quán)，來針對所述每個規(guī)定范圍設(shè)定所述重構(gòu)函數(shù)。

5.如權(quán)利要求4所述的X射線CT裝置，其特征在于，

所述規(guī)定范圍是從一個視圖到所述X射線產(chǎn)生部沿著所述圓形軌道旋轉(zhuǎn)一周的量為止的范圍。

6.如權(quán)利要求4所述的X射線CT裝置，其特征在于，

所述規(guī)定范圍是在從所述圓形軌道上的任意位置對所述被檢體照射了X射線的情況下與檢測出該X射線的所述X射線檢測部的區(qū)域?qū)?yīng)的范圍。

7.如權(quán)利要求4所述的X射線CT裝置，其特征在于，

所述規(guī)定范圍是所述被檢體的部位。