[發明專利]信號電平決定裝置及方法

有效

• 申請號: 201310090754.6
• 申請日: 2013-03-20
• 公開（公告）號: CN104065489B
• 公開（公告）日: 2017-06-16
• 發明（設計）人: 莊勝富;黃亮維;何軒廷;蘇敬堯
• 申請（專利權）人: 瑞昱半導體股份有限公司
• 主分類號: H04L12/02
• 分類號: H04L12/02;H04L25/02
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司11240
• 代理人: 余剛,李靜

1.一種信號電平決定裝置，用來決定一來源信號的電平，所述來源信號于一時間軸上依序包含多個來源信息，每個所述來源信息對應多個正常電平的其中之一，每個所述正常電平等效于多個延伸電平的至少其中之一，所述信號電平決定裝置包含：

一儲存電路，用來儲存一部分或全部所述多個來源信息所關聯的所述正常電平及其等效延伸電平的電平信息；

一轉折參數計算電路，用來依據所述電平信息來計算每個所述來源信息所關聯的所述正常電平及其等效延伸電平的多個轉折參數；以及

一決定電路，用來依據一部分或全部所述多個來源信息的所述多個轉折參數來決定每個所述來源信息的電平。

2.根據權利要求1所述的信號電平決定裝置，其中，所述多個延伸電平的數目等于2×(2M+1)倍的所述多個正常電平的數目，所述M為正整數。

3.根據權利要求1所述的信號電平決定裝置，其中，所述決定電路依據每個所述來源信息的所述多個轉折參數中最小的一個或多個所關聯的所述正常及/或延伸電平來決定每個所述來源信息的電平。

4.根據權利要求1所述的信號電平決定裝置，其中，所述多個來源信息包含一第k來源信息、一第k+1來源信息及一第k+2來源信息，所述第k來源信息關聯一第k正常電平及至少一第k延伸電平，所述第k+1來源信息關聯一第k+1正常電平及至少一第k+1延伸電平，所述第k+2來源信息關聯一第k+2正常電平及至少一第k+2延伸電平，所述k為正整數。

5.根據權利要求4所述的信號電平決定裝置，其中，所述儲存電路儲存所述第k來源信息、所述第k+1來源信息及所述第k+2來源信息的電平信息；所述轉折參數計算電路依據所述第k來源信息、所述第k+1來源信息及所述第k+2來源信息的電平信息來分別計算所述第k+2正常電平及所述至少一第k+2延伸電平的多個第k+2轉折參數；以及所述決定電路依據所述多個第k+2轉折參數將所述第k+2來源信息的電平決定為所述第k+2正常電平或所述至少一第k+2延伸電平的其中之一。

6.根據權利要求5所述的信號電平決定裝置，其中，所述轉折參數計算電路執行的步驟包含：

依據所述第k來源信息及所述第k+1來源信息的電平信息來決定所述第k+2來源信息的至少一預選電平；以及

分別計算所述第k+2正常電平及所述至少一第k+2延伸電平與所述至少一預選電平的多個電平差異，并據以計算所述多個第k+2轉折參數。

7.根據權利要求6所述的信號電平決定裝置，其中，所述多個電平差異為所述多個第k+2轉折參數。

8.根據權利要求6所述的信號電平決定裝置，其中，所述儲存電路儲存多個第k+1轉折參數，所述多個第k+1轉折參數分別關聯至所述第k+1正常電平及所述至少一第k+1延伸電平，且所述轉折參數計算電路執行的步驟包含：

依據所述多個第k+1轉折參數及所述多個電平差異來計算所述多個第k+2轉折參數。

9.根據權利要求4所述的信號電平決定裝置，其中，所述儲存電路儲存所述第k來源信息、所述第k+1來源信息及所述第k+2來源信息的電平信息；所述轉折參數計算電路依據所述第k來源信息、所述第k+1來源信息及所述第k+2來源信息的電平信息來分別計算所述第k+2正常電平及所述至少一第k+2延伸電平的多個第k+2轉折參數；以及所述決定電路依據所述多個第k+2轉折參數將所述第k來源信息的電平決定為所述第k正常電平或所述至少一第k延伸電平的其中之一。

10.根據權利要求9所述的信號電平決定裝置，其中，所述轉折參數計算電路執行的步驟包含：

依據所述第k來源信息及所述第k+1來源信息的電平信息來決定所述第k+2來源信息的至少一預選電平；以及

分別計算所述第k+2正常電平及所述至少一第k+2延伸電平與所述至少一預選電平的多個電平差異，以計算所述多個第k+2轉折參數。

11.根據權利要求10所述的信號電平決定裝置，其中，所述儲存電路儲存多個第k+1轉折參數，所述多個第k+1轉折參數分別關聯至所述第k+1正常電平及所述至少一第k+1延伸電平，且所述轉折參數計算電路執行的步驟包含：

依據所述多個第k+1轉折參數及所述多個電平差異來計算所述多個第k+2轉折參數。